
フレネル方程式(またはフレネル係数)は、異なる光学媒体間の界面に入射する光(または一般的には電磁放射)の反射と透過を記述するものです。この方程式は、フランスの技術者であり物理学者でもあるオーギュスタン=ジャン・フレネル(/freɪˈnɛl / )によって導き出されました。彼は、当時誰も波が電場や磁場であるとは認識していなかった時代に、光が横波であることを初めて理解した人物です。フレネル方程式は、物質界面に入射するs偏光とp偏光の波の異なる挙動を正しく予測したため、偏光を定量的に理解することが初めて可能になりました。
屈折率n 1の媒質と屈折率n 2の媒質との境界面に光が当たると、光の反射と屈折の両方が起こる可能性があります。フレネル方程式は、偏光の 2 つの成分それぞれについて、反射波の電場と入射波の電場の比、および透過波の電場と入射波の電場の比を与えます。(磁場も同様の係数を用いて関連付けることができます。)これらの比は一般に複素数であり、相対振幅だけでなく、境界面における位相シフトも表します。
これらの式は、媒体間の界面が平坦であり、媒体が均質かつ等方的であると仮定しています。[ 1 ]入射光は平面波であると仮定されていますが、これはあらゆる入射光場を平面波と偏光に分解できるため、あらゆる問題を解決するのに十分です。

入射波の2つの異なる直線偏光成分に対して、2組のフレネル係数が存在します。あらゆる偏光状態は2つの直交する直線偏光の組み合わせに分解できるため、これはあらゆる問題に対して十分です。同様に、無偏光(または「ランダム偏光」)光は、2つの直線偏光それぞれに等しい量のパワーを持ちます。
s偏光とは、波の電場が入射面(以下の導出ではz方向)に垂直に偏光している状態を指し、この場合、磁場は入射面内にあります。p偏光とは、電場が入射面(以下の導出ではxy平面)に偏光している状態を指し、この場合、磁場は入射面に垂直です。偏光成分の「s」と「p」という名称は、ドイツ語の「senkrecht」(垂直または法線)と「parallel」(入射面に平行)に由来します。
反射と透過は偏光に依存しますが、垂直入射(θ = 0)では両者の区別がないため、すべての偏光状態は単一のフレネル係数によって決定されます(そして、これが当てはまる別の特殊なケースについては後述します)。

図において、光線IOの方向から入射する平面波が、屈折率n1とn2の2つの媒質の境界面Oに衝突する。波の一部は OR方向に反射され、一部はOT方向に屈折する。入射光線、反射光線、屈折光線が境界面の法線となす角度は、それぞれθi 、θr 、θtで与えられる。これらの角度の関係は、反射の法則によって表される。そしてスネルの法則:
界面に当たる光の挙動は、電磁波を構成する電場と磁場、および電磁気学の法則を考慮することで説明できます(下図参照)。波の電場(または磁場)振幅の比が得られますが、実際には、光周波数では電力(または放射照度)を直接測定できるため、電力係数を決定する式の方が関心が高い場合が多いです。波の電力は一般に電場(または磁場)振幅の二乗に比例します。


入射電力のうち界面で反射される割合を反射率(または反射係数、電力反射係数)Rと呼び、第 2 媒体に屈折する割合を透過率(または透過係数、電力透過係数)Tと呼びます。これらは界面の両側で測定される値であり、透過または反射後の吸収媒体における波の減衰は考慮されていないことに注意してください。 [ 2 ]
s偏光の反射率は p偏光 の反射率は ここで、Z 1とZ 2はそれぞれ媒体1と媒体2の波動インピーダンスである。
媒体は非磁性であると仮定します(つまり、μ 1 = μ 2 = μ 0)。これは通常、光周波数では良い近似です(他の周波数では透明媒体の場合も同様です)。[ 3 ]この場合、波のインピーダンスは屈折率n 1とn 2のみによって決定されます。 ここで、Z 0は自由空間のインピーダンスであり、i = 1, 2 である。この置換を行うと、屈折率を用いた以下の式が得られる。
各方程式の2番目の形式は、スネルの法則と三角関数の恒等式を使用してθtを消去することにより、最初の形式から導出されます。
エネルギー保存の法則の結果として、透過電力(より正確には放射照度:単位面積あたりの電力)は、入射電力のうち反射されない部分として簡単に求めることができる。[ 4 ] そして
すべての強度は、界面に垂直な方向における波の放射照度で測定されることに注意してください。これは、典型的な実験でも測定される値です。この値は、入射波または反射波の方向の放射照度(波のポインティングベクトルの大きさで与えられる)に、法線方向に対して角度θの波の場合はcos θを乗じることで得られます(または、ポインティングベクトルと界面に垂直な単位ベクトルの内積を取ることでも等価です)。反射係数の場合は、cos θ i = cos θ rとなるため、この複雑さは無視できます。つまり、波の方向における反射放射照度と入射放射照度の比は、界面に垂直な方向における比と同じです。
これらの関係式は基本的な物理現象を説明するものですが、多くの実用的な用途では、偏光していない「自然光」が対象となります。つまり、s偏光とp偏光のエネルギーが等しいため、物質の 実効反射率は、この2つの反射率の平均値となります。
コンピュータグラフィックスなど、非偏光光を扱う低精度アプリケーションでは、各角度における実効反射係数を厳密に計算する代わりに、シュリックの近似式がよく用いられる。
垂直入射の場合、θ i = θ t = 0となり、s偏光とp偏光の区別はありません。したがって、反射率は次のように単純化されます。
空気(n 1 = 1 )に囲まれた一般的なガラス(n 2 ≈ 1.5 )の場合、垂直入射時のパワー反射率は約4%、ガラス板の両面を考慮すると8%であることがわかります。
屈折率n 1からn 2への誘電体界面では 、特定の入射角において反射率R pがゼロとなり、p偏光の入射波は純粋に屈折するため、反射光はすべて s偏光になります。この角度はブリュースター角として知られており、 n 1 = 1、n 2 = 1.5 (一般的なガラス)の場合、約 56° です。
密度の高い媒質中を伝わる光が、密度の低い媒質の表面に当たるとき(つまり、n 1 > n 2 )、臨界角と呼ばれる特定の入射角を超えると、すべての光が反射され、R s = R p = 1となります。この現象は全反射として知られており、スネルの法則によれば屈折角の正弦が 1 を超える入射角で発生します(実際には、すべての実数θに対してsin θ ≤ 1 です)。n = 1.5 のガラスが空気に囲まれている場合、臨界角は約 42° です。
45°入射での反射は、90°方向転換を行う際によく用いられます。光が密度の低い媒質から密度の高い媒質へ45°入射( θ = 45° )で通過する場合、上記の式から代数的にR pはR sの2乗に等しいことがわかります。
これは、 R sとR pの測定値の一貫性を検証したり、一方の値が既知の場合に他方の値を導出したりするために使用できます。この関係は、2 つの均質な材料間の単一平面界面という単純な場合にのみ有効であり、より複雑な解析が必要となる基板上の薄膜には適用されません。
45°におけるR sとR pの測定値は、垂直入射時の反射率を推定するために使用できます。R sとR pの算術平均と幾何平均を最初に計算し、次にこれら2つの平均値を再度算術平均することで得られる「平均の平均」は、一般的な光学材料の場合、約3%未満の誤差でR 0の値を与えます。これは、入射光と検出器が互いに遮り合うため、実験装置で垂直入射時の測定を行うことが難しい場合があるため有用です。ただし、 10°未満の入射角ではR sとR pの入射角依存性が非常に小さいため、入射光と反射光を分離しながら、約5°での測定は通常、垂直入射の良い近似値となります。
上記の電力に関する方程式(例えば光度計で測定可能)は、電磁場の複素振幅の観点から物理的問題を解くフレネル方程式から導出されます。つまり、振幅に加えて位相シフトも考慮します。これらの基礎となる方程式は、一般的に電磁場の複素数値の比率を与え、使用する形式に応じていくつかの異なる形式をとることができます。反射と透過の複素振幅係数は通常、小文字のrとtで表されます(一方、電力係数は大文字で表されます)。これまでと同様に、両方の媒体の透磁率µ は、光周波数におけるすべての誘電体に基本的に当てはまるように、自由空間の透磁率µ 0に等しいと仮定します。


以下の式とグラフでは、次の慣例に従います。s偏光の場合、反射係数rは反射波の複素電界振幅と入射波の複素電界振幅の比として定義されますが、p偏光の場合、 rは波の複素磁界振幅の比(または同等に、電界振幅の比の負の値)です。透過係数tは、どちらの偏光でも、透過波の複素電界振幅と入射波の複素電界振幅の比です。係数rとtは、一般的にs偏光とp偏光で異なり、垂直入射( sとpの表記自体が適用されない!)の場合でも、波がs偏光かp偏光かによってrの符号が反転します。これは、採用した符号規約によるものです(入射角0°の空気-ガラス界面のグラフを参照)。
これらの式は、入射角で平面界面に入射する平面波を考慮している。角度で反射された波、そして角度で伝播する波吸収性物質( nが複素数)への界面、または全反射の場合、透過角は一般に実数にはなりません。しかし、その場合でも、三角関数や幾何学的角度を避けたこれらの関係式の定式化を用いることで、意味のある結果が得られます。第二媒質に入射する不均一な波は、単一の伝搬角では記述できません。
磁気透磁率が無視できない場合、方程式は次のように変化し、に置き換えられます(両方について))
t s = r s + 1 [ 7 ]および n 2 / n 1 t p = r p + 1 であることがわかります。波の磁場の比に適用する非常に似た方程式を書くことができますが、電場の比較の方が一般的です。
反射波と入射波は同じ媒質中を伝搬し、表面の法線に対して同じ角度をなすため、電力反射係数Rはrの二乗になります。[ 8 ]
一方、光が2つの媒体で異なる方向に伝搬するため、電力伝送係数Tの計算はそれほど単純ではありません。さらに、2つの媒体の波動インピーダンスも異なります。電力(放射照度)は、電界振幅の2乗を媒体の特性インピーダンスで割った値(または磁界の2乗に特性インピーダンスを掛けた値)で与えられます。その結果、次のようになります。[ 9 ]上記のt の定義を使用します。導入された係数 n 2 / n 1 は、媒体の波のインピーダンスの比の逆数です。cos ( θ )係数は、入射波と透過波の両方について、波のパワーが界面に垂直な方向に計算されるように調整し、完全なパワー伝送がT = 1に対応するようにします。
全反射の場合、電力伝送Tはゼロですが、t は界面のすぐ先の電場 (位相を含む) を表します。これは波として伝搬しない (したがってT = 0 ) が、界面のごく近傍でゼロ以外の値をとるエバネッセント場です。全反射による反射波の位相シフトは、 r pとr sの位相角(この場合、その大きさは 1)から同様に得られます。これらの位相シフトはs 波とp波で異なり 、これは全反射を利用して偏光変換を行うというよく知られた原理です。
上記のr sの式で、(スネルの法則)分子と分母に 1 / n 1 sin θ tを掛けると、[ 10 ] [ 11 ]が得られます。
r pの式についても同様に行うと、結果は[ 12 ] [ 13 ]と等価であることが容易に示されます。
これらの式[ 14 ] [ 15 ] [ 16 ]は、それぞれフレネルの正弦法則とフレネルの正接法則として知られています。[ 17 ]垂直入射ではこれらの式は0/0になりますが、 θ i → 0の極限では正しい結果が得られることがわかります。
光が2つ以上の平行な面の間で多重反射を起こすと、複数の光線は一般的に互いに干渉し合い、光の波長に応じて正味の透過振幅と反射振幅が生じます。ただし、干渉は、面間の距離が光のコヒーレンス長と同程度かそれ以下の場合にのみ発生します。通常の白色光の場合、コヒーレンス長は数マイクロメートルですが、レーザー光の場合ははるかに大きくなります。
反射光間の干渉の例としては、石鹸の泡や水面に浮かぶ薄い油膜に見られる虹色の輝きが挙げられます。応用例としては、ファブリ・ペロー干渉計、反射防止コーティング、光学フィルターなどがあります。これらの効果の定量的解析はフレネル方程式に基づいていますが、干渉を考慮するための追加計算が必要です。
1808年、エティエンヌ=ルイ・マリュスは、光線が適切な角度で非金属表面から反射されると、複屈折性のカルサイト結晶から出る2本の光線のうちの1本のように振る舞うことを発見した。 [ 19 ]彼は後にこの振る舞いを説明するために偏光という用語を作り出した。1815年、偏光角の屈折率依存性はデイヴィッド・ブリュースターによって実験的に決定された。[ 20 ]しかし、その依存性の理由は非常に深い謎であったため、1817年後半にトーマス・ヤングは次のように書いた。
[ T ]偏光光線の反射または非反射の十分な理由を定めるという最大の難題は、野心的な哲学の虚栄心を打ち砕くために、おそらく長い間、いかなる理論によっても完全に解決されないまま残るだろう。[ 21 ]
しかし、1821年にオーギュスタン=ジャン・フレネルは、光波を、それまで偏光面と呼ばれていた面に対して垂直に振動する横弾性波としてモデル化することにより、彼の正弦法則と正接法則(上記)と同等の結果を導き出した。フレネルは、入射光が入射面に対して45°の角度で偏光している場合、空気からガラスまたは水に入射する光について、これらの式が反射光の偏光方向を正しく予測することを実験で速やかに確認した。特に、これらの式はブリュースター角で正しい偏光を与えた。[ 22 ]この実験的確認は、フレネルが「非偏光」波を含む光波が純粋に横波であるという理論を初めて明らかにした著作の「追記」で報告された。[ 23 ]
フレネルの導出の詳細、正弦法則と正接法則の現代的な形式は、後に1823年1月にフランス科学アカデミーで朗読された論文で述べられた。 [ 24 ]この導出は、エネルギー保存則と界面での接線方向の振動の連続性を組み合わせたものであったが、振動の法線成分に関する条件は考慮されていなかった。[ 25 ]電磁気原理からの最初の導出は、 1875年にヘンドリック・ローレンツによって行われた。[ 26 ]
1823年1月の同じ回想録[ 24 ]の中で、フレネルは、入射角が臨界角より大きい場合、反射係数( r sとr p )の式が単位の大きさを持つ複素数値を与えることを発見した。通常通り、大きさがピーク振幅の比を表していることに注目し、彼は引数が位相シフトを表していると推測し、その仮説を実験的に検証した[ 27 ] 。検証には、
こうして彼はついに、現在フレネル菱形と呼ばれるものに関する定量的な理論を得た。これは彼が1817年以来、何らかの形で実験に使用してきた装置である(フレネル菱形§歴史を参照)。
複素反射係数の成功は、1836年からジェームズ・マッカローとオーギュスタン=ルイ・コーシーに、複素屈折率を用いたフレネル方程式を使用して金属からの反射を分析するよう促した。[ 29 ]
フレネルは、全反射と菱形に関する完成された理論を発表する4週間前に、回想録[ 30 ]を提出し、その中で必要な用語である直線偏光、円偏光、楕円偏光[ 31 ]を導入し、光学的回転を複屈折の一種として説明した。直線偏光は、反対方向に回転する2つの円偏光成分に分解でき、これらが異なる速度で伝搬する場合、それらの間の位相差、したがって直線偏光の合成光の向きは、距離とともに連続的に変化する[ 32 ] 。
このように、フレネルが反射係数の複素数値を解釈したことは、彼の研究のいくつかの潮流が合流したものであり、おそらく横波仮説に基づく物理光学の再構築の本質的な完成を意味するものであった(オーギュスタン=ジャン・フレネルを参照)。
ここでは、電磁気学の前提から上記の関係を体系的に導出する。
意味のあるフレネル係数を計算するには、媒質が(ほぼ)線形かつ均質であると仮定する必要があります。媒質が等方性である場合、4つの場ベクトルE、B、D、Hは次のように 関係付けられます。 ここで、εとμはスカラーであり、それぞれ媒質の(電気)誘電率と(磁気)透磁率として知られています。真空の場合、これらはそれぞれε₀とμ₀の値をとります。したがって、比誘電率(または誘電定数)εrel = ε / ε₀、および比透磁率μrel = μ / μ₀と定義します。
光学では、媒質は非磁性であると仮定するのが一般的で、μ rel = 1となります。無線/マイクロ波周波数の強磁性材料の場合、 μ relのより大きな値を考慮する必要があります。しかし、光学的に透明な媒質、および光周波数におけるその他のすべての材料(メタマテリアルを除く)の場合、μ rel は実際には 1 に非常に近く、つまりμ ≈ μ 0となります。
光学では、通常、媒質の屈折率n が既知であり、これは真空中の光速( c ) と媒質中の光速の比です。部分反射と透過の解析では、電磁波インピーダンスZにも関心があります。これは、 Eの振幅とHの振幅の比です。したがって、 nとZをϵとμで表し、そこからZとnの関係を求めることが望ましいです。ただし、この最後の関係式を用いると、反射係数を波動アドミタンスYで導出するのが便利になります。波動アドミタンス Y は、波動インピーダンスZの逆数です。
均一な平面正弦波の場合、波のインピーダンスまたはアドミタンスは、媒質の固有インピーダンスまたは固有アドミタンスとして知られています。フレネル係数を導出するのは、まさにこのケースです。
ここで、E kは(定数)複素振幅ベクトル、iは虚数単位、kは波数ベクトル(その大きさkは角波数)、rは位置ベクトル、ωは角周波数、tは時間であり、式の実部は物理場であると理解される。 [注 1 ]位置rがkに垂直な方向に変化する 場合、式の値は変化しない。したがって、k は波面に垂直である。
位相を角度ϕだけ進めるには、 ωt をωt + ϕに置き換えます(つまり、− ωtを− ωt − ϕに置き換えます)。その結果、(複素) 場はe −iϕ倍になります。したがって、位相を進めることは、負の引数を持つ複素定数を乗じることに相当します。これは、場 ( 1 ) をE k e i k ⋅ r e −iωtと因数分解するとより明らかになります。最後の因子には時間依存性が含まれています。この因子はまた、時間に関する微分が−iω を乗じることに対応することを意味します。[注 2 ]
ℓがk方向のrの成分である場合、場( 1 )はE k e i ( kℓ − ωt )と書くことができる。e i (⋯)の引数が一定であるためには、ℓは速度で増加する必要がある。 位相速度(v p)として知られています。これは、kについて解くと、
通常通り、時間依存因子e − iωtを省略します。これは、すべての複素場量に掛けられるものと理解されます。均一な平面正弦波の電場は、位置依存フェーザによって表されます。
その形式の場については、ファラデーの法則とマクスウェル・アンペールの法則はそれぞれ[ 33 ]に簡略化される。
上記のように、B = μ HおよびD = ϵ Eとすると、 BとDを消去して、 EとHのみの方程式を得ることができます。 材料パラメータϵとμ が実数である場合 (損失のない誘電体の場合)、これらの式はk、E、H が右手系直交三和 を形成することを示しており、したがって同じ式がそれぞれのベクトルの大きさにも適用されます。大きさの式を取り、( 2 ) から代入すると、次の式が得られます。 ここで、HとEはHとEの大きさである。最後の2つの式を掛け合わせると、
同じ 2 つの方程式を割る (またはたすき掛けする) とすると、H = YEとなり、ここで
これは固有アドミタンスです。
( 4 )より位相速度が得られる真空の場合、これは次のように簡略化されます。2番目の結果を1番目の結果で割ると 、非磁性媒体(通常の場合) では、これは次のようになる。。 ( ( 5 )の逆数を取ると、固有インピーダンスは真空中ではこの値は自由空間のインピーダンスとして知られています。除算により、非磁性媒体の場合、これは次のようになる。)

デカルト座標( x、y、z )において、 y < 0 の領域は屈折率n 1、固有アドミタンスY 1などを持ち、 y > 0の領域は屈折率n 2、固有アドミタンスY 2などを持つとします。このとき、xz平面は界面であり、y軸は界面に垂直です (図を参照)。iとj (太字のローマ字)をそれぞれx方向とy方向の単位ベクトルとします。入射面をxy平面 (ページの平面) とし、入射角θ i をjからiに向かって測定します。同じ方向で測定される屈折角をθ tとします。ここで、添え字tは透過を表します( rは反射を表します)。
ドップラーシフトがない場合、ωは反射や屈折によって変化しません。したがって、(2)より、波数ベクトルの大きさは屈折率に比例します。
したがって、与えられたωに対して、k を基準媒質 ( n = 1の場合)における波数ベクトルの大きさとして再定義する と、波数ベクトルは最初の媒質 (図の領域y < 0 ) ではn 1 kの大きさを持ち、2 番目の媒質ではn 2 k の大きさを持ちます。大きさと形状から、波数ベクトルは次のようになります。 ここで、最後のステップではスネルの法則を使用する。フェーザ形式(3)における対応するドット積は次のようになる。
したがって:
s偏光の場合、電場Eはz軸に平行であり、したがってz方向の成分で表すことができます。反射係数と透過係数をそれぞれr sとt sとします。入射電場Eの振幅が1であると仮定すると、そのz成分のフェーザ形式( 3 )は次のようになります。
そして、反射場と透過場は、同じ形式で、
この記事で使用されている符号規約では、正の反射係数または透過係数は、横方向の電場の方向を保持するものであり、これは(この文脈では)入射面に垂直な電場を意味します。s偏光の場合、これはE電場を意味します。入射、反射、透過のE電場(上記の式)がz方向(「紙面から手前」)にある場合、k、E、Hは右手系直交三和を形成するため、それぞれのH電場は赤い矢印の方向になります。したがって、 H電場は、これらの矢印の方向の成分で表すことができ、H i、H r、H tで示されます。次に、H = YE、
界面では、電磁場の通常の界面条件により、 EおよびH場の接線成分は連続でなければなりません。つまり、
式( 8)から(10 )に代入し、次に(7)に代入すると、指数因子が相殺されるため、界面条件は連立方程式に簡略化されます。
これらは簡単にr sとt sについて解くことができ、
そして
通常の入射角( θ i = θ t = 0)では、追加の添え字 0 で示されるように、これらの結果は次のようになります。
そして
放牧入射角( θ i → 90°)では、cos θ i → 0となり、したがってr s → −1およびt s → 0となります。
p偏光の場合、入射、反射、透過の電場Eは赤い矢印に平行であり、したがってそれらの矢印の方向の成分で表すことができます。これらの成分をE i、E r、E tとします(新しい文脈に合わせて記号を再定義します)。反射係数と透過係数をそれぞれr pとt pとします。すると、入射電場Eの振幅が1であると仮定すると、次のようになります。
E場が赤い矢印の方向にある場合、 k、E、H が右手直交三和を形成するためには、それぞれのH場は−z方向 (「紙面奥」方向)にある必要があり、したがってその方向の成分で記述することができます。これは、採用された符号規約、すなわち正の反射係数または透過係数は横方向の場( p偏光の場合は H 場)の方向を保持するものであるという規約と一致しています。他の場が赤い矢印と一致することから、符号規約の別の定義が明らかになります。すなわち、正の反射係数または透過係数は、入射面内の場ベクトルが反射または透過の前後で同じ媒質の方向を向いているものであるということです。[ 34 ]
そこで、入射、反射、透過のH場について、それぞれの −z 方向の成分をH i 、H r、H tとします。すると、H = YEなので、
界面では、E場とH場の接線成分は連続でなければならない。つまり、
式( 17)と(18 )から代入し、次に(7)から代入すると、指数因子が再び相殺されるため、界面条件は次のように簡略化されます。
r pとt pを解くと、次のようになります。
そして
追加の添え字 0 で示される通常の入射角( θ i = θ t = 0)では、これらの結果は次のようになります。
そして
放牧入射角( θ i → 90°)では、再びcos θ i → 0となり、したがってr p → −1およびt p → 0となります。
(23)と(24)を(15)と(16)と比較すると、採用した符号規約の下では、垂直入射の場合、2つの偏波の透過係数は等しくなりますが、反射係数は大きさは等しいものの符号が逆になります。この符号の衝突は規約の欠点ですが、付随する利点として、斜入射では符号が一致します。
波のポインティングベクトルは、任意の方向の成分がその方向に垂直な面上のその波の放射照度(単位面積あたりの電力)であるベクトルです。平面正弦波の場合、ポインティングベクトルは 1 / 2 Re { E × H ∗ }で、EとH は問題の波のみによるもので、アスタリスクは複素共役を表します。損失のない誘電体(通常のケース)内では、EとH は同位相で、互いに直角であり、波数ベクトルkにも直角です。したがって、s 偏光の場合、EとHのz成分とxy成分を それぞれ使用して(または p 偏光の場合、EとHのxy成分と− z成分を使用して)、k方向の放射照度は単純にEH /2で与えられ、これは固有インピーダンスZ = 1/ Yの媒質ではE 2 /2 Zとなります。界面に垂直な方向の放射照度を計算するには、電力透過係数の定義で必要となるように、HまたはEのx成分 (完全なxy成分ではなく)のみを使用するか、または同等に、 EH /2に適切な幾何学的係数を単純に掛けて( E 2 /2 Z ) cos θを得ることができます。
式(13)と(21)から、大きさの二乗を取ると、反射率(反射電力と入射電力の比)は次のようになる。
s偏光の場合、
p偏波の場合。同じ媒質中で同じcos θを持つ2つの波の電力を比較する場合、上述のインピーダンスと幾何学的因子は同一であり、相殺されることに注意してください。しかし、電力伝送を計算する際には(下記参照)、これらの因子を考慮に入れる必要があります。
電力伝送係数(透過率、界面に垂直な方向、すなわちy方向における入射電力に対する透過電力の比)を求める最も簡単な方法は、 R + T = 1(エネルギー保存則)を用いることです。このようにして、次の式が得られます。
s偏光の場合、
p偏光の場合。
2 つの無損失媒体間の界面 (ε と μ が実数かつ正の場合) では、先に式 ( 14 ) と ( 22 )で求めた振幅透過係数の二乗値を用いて、これらの結果を直接得ることができます。しかし、与えられた振幅 (上記参照) に対して、y方向のポインティングベクトルの成分は、幾何学的因子cos θに比例し、波のインピーダンスZに反比例します。これらの補正を各波に適用すると、振幅透過係数の二乗に掛けられる 2 つの比率が得られます。
s偏光の場合、
p偏光の場合。最後の2つの式は、損失のない誘電体にのみ適用され、入射角が臨界角よりも小さい場合にのみ適用されます(もちろん、臨界角を超えるとT = 0になります)。
非偏光の場合: どこ。
式(4)と(5)から、2つの異なる媒質は、透磁率の比が誘電率の比の逆数である場合、同じ屈折率を持ち、異なるアドミタンスを持つことがわかります。この特殊な状況では、θ t = θ i(つまり、透過光線は偏向しない)となるため、式(13)、(14)、(21)、(22)、(25)から(28)のコサインが相殺され、すべての反射率と透過率が入射角に依存しなくなります。言い換えれば、垂直入射の比率がすべての入射角に適用できるようになります。[ 35 ]球面反射または散乱に拡張すると、これはミー散乱のカーカー効果になります。
フレネル方程式は光学のために開発されたため、通常は非磁性材料に対して与えられます。( 4 )を( 5 ) で割ると、 非磁性媒体の場合、μの代わりに真空透磁率μ 0を代入すると、 すなわち、アドミタンスは対応する屈折率に単純に比例します。式(13)~(16)および式(21)~(26)にこれらの置換を行うと、係数cμ 0 が相殺されます。振幅係数については、次のようになります。[ 5 ] [ 6 ]
通常の発生率の場合、これらは以下のように簡略化されます。
電力反射係数は次のようになる。
電力伝送は、T = 1 − Rから求めることができる。
透磁率が等しい場合(例えば、非磁性媒体)、θ iとθ tが相補的であれば、 sin θ t をcos θ iに、sin θ iをcos θ tに置き換えることができ、式 ( 31 )の分子はn 2 sin θ t − n 1 sin θ iとなり、これはゼロになります (スネルの法則により)。したがって、r p = 0となり、s偏光成分のみが反射されます。これはブリュースター角で起こることです。スネルの法則でsin θ tをcos θ iに置き換えると、容易に次の式が得られます。
ブリュースターの視点から。
実際には遭遇しませんが、これらの式は、誘電率は同じだが透磁率が異なるために屈折率が異なる 2 つの媒体の場合にも適用できます。式 ( 4 ) と ( 5 ) から、μの代わりにϵ を固定すると、Y はnに反比例し、その結果、式 ( 29 ) から ( 38 ) の添え字 1 と 2 が入れ替わります (分子と分母にn 1 n 2を掛ける追加の手順のため)。したがって、( 29 ) と ( 31 ) では、屈折率によるr sとr pの表現が入れ替わり、ブリュースター角 ( 39 ) ではr p = 0ではなくr s = 0となり、その角度で反射されるビームは s 偏光ではなく p 偏光になります。[ 36 ]同様に、フレネルの正弦法則はs偏光ではなくp偏光に適用され、彼の正接法則はp偏光ではなくs偏光に適用されます。
この偏光の切り替えは、光波の古い力学的理論に類似している(上記§歴史を参照)。異なる屈折率は異なる密度によるものであり、振動は当時偏光面と呼ばれていた面に垂直であると(フレネルのように)仮定するか、異なる屈折率は異なる弾性によるものであり、振動はその面に平行であると(マッカローとノイマンのように)仮定することで、観測と一致する反射係数を予測することができた。[ 37 ]したがって、誘電率が等しく透磁率が異なるという条件は、現実的ではないものの、歴史的に興味深いものである。