電子後方散乱回折

電子後方散乱回折（EBSD）は、材料の結晶構造を研究するために用いられる走査型電子顕微鏡（SEM）技術です。EBSDは、少なくとも蛍光スクリーン、コンパクトレンズ、低照度カメラを備えたEBSD検出器を搭載した走査型電子顕微鏡で行われます。顕微鏡内では、入射電子ビームが傾斜した試料に照射されます。後方散乱された電子は試料から出る際に原子と相互作用し、弾性回折を起こしてエネルギーを失い、様々な散乱角で試料から出て蛍光スクリーンに到達し、菊池パターン（EBSP）を形成します。EBSDの空間分解能は、研究対象の材料の性質や試料の準備方法など、多くの要因に依存します。これらのパターンをインデックス付けすることで、材料の結晶粒構造、結晶粒方位、および相に関する情報をミクロスケールで得ることができます。EBSDは、不純物や欠陥の研究、塑性変形、および平均方位差、結晶粒径、結晶方位組織の統計解析に用いられます。 EBSDは、エネルギー分散型X線分光法（EDS）、カソードルミネッセンス（CL）、波長分散型X線分光法（WDS）と組み合わせることで、高度な相同定や材料探索にも利用できる。

電子後方散乱パターン（EBSP）の変化と鮮明度は、回折体積内の格子歪みに関する情報を提供する。パターンの鮮明度は、塑性のレベルを評価するために使用できる。EBSPゾーン軸位置の変化は、残留応力と小さな格子回転を測定するために使用できる。EBSDは、幾何学的に必要な転位（GND）の密度に関する情報も提供できる。ただし、格子歪みは参照パターン（EBSP _{0 ）に対して測定される。参照パターンの選択は測定精度に影響を与える。たとえば、引張変形した参照パターンは、高解像度マップから得られる引張歪みの大きさを直接減少させる一方で、他の成分の大きさと歪みの空間分布に間接的に影響を与える。さらに、EBSP}₀の選択は、GND密度分布と大きさにわずかに影響を与える。^{[ 1 ]}

パターン形成と収集

セットアップジオメトリとパターン形成

電子後方散乱回折顕微鏡では、通常、平らに研磨された結晶試料が顕微鏡チャンバー内に配置されます。試料は、走査型電子顕微鏡(SEM) の平らな試料配置から約 70°、電子後方散乱回折 (EBSD) 検出器に対して 110° 傾けられます。^{[ 3 ]}試料を傾けると、傾斜軸に垂直な相互作用体積が長くなり、より多くの電子が試料から放出され、より良い信号が得られます。^{[ 4 ]}^{[ 5 ]}高エネルギー電子ビーム (通常 20 kV) が小さな体積に集束され、試料表面で空間分解能が約 20 nm で散乱されます。^{[ 6 ]}空間分解能は、ビームエネルギー、^{[ 6 ]}角度幅、^{[ 7 ]}相互作用体積、^{[ 8 ]}研究対象の材料の性質、^{[ 6 ]}および透過キクチ回折 (TKD) では試料の厚さによって変化します。^{[ 9 ]}したがって、ビームエネルギーを増加させると相互作用体積が増加し、空間分解能が低下します。^{[ 10 ]}

EBSD検出器は、SEMの試料室内に、ポールピースに対して約90°の角度で配置されています。EBSD検出器は通常、後方散乱電子によって励起される蛍光体スクリーンです。^{[ 11 ]}このスクリーンはレンズに接続されており、蛍光体スクリーンからの画像を電荷結合素子（CCD）または相補型金属酸化膜半導体（CMOS）カメラに集束させます。^{[ 12 ]}

この構成では、後方散乱された電子がサンプルから離れる際に、クーロンポテンシャルと相互作用し、非弾性散乱によってエネルギーを失い、散乱角の範囲が広がります（ $\displaystyle \theta _{hkl}}$ [ ^{11 ]}^{[ 13 ]}後方散乱された電子は、電子感応性平面フィルム/スクリーン（一般的には蛍光体）上に、強度の異なる菊池線を形成し^、これらが集まって菊池帯を形成します。これらの菊池線は、コッセル円錐と蛍光体スクリーンの平面との交線によって形成される双曲線の軌跡です。菊池帯の幅は散乱角、ひいては距離に関係しています。 $d_{hkl}}$ ミラー指数 h、k、l の格子面の間にある。^{[ 14 ]}^{[ 15 ]}これらの菊池線とパターンは、西川庄司とともに1928 年に透過型電子顕微鏡(TEM)を使用してこの回折パターンを初めて発見した菊池清志にちなんで名付けられました。 ^[¹⁶^]これは、X 線コッセルパターンと幾何学的に似ています。^[¹⁷^]^[¹⁸^]

系統的に配置された菊池バンドは、その幅に沿って強度の範囲を持ち、関心領域 (ROI) の中心付近で交差し、プローブされた体積結晶構造を記述します。^{[ 19 ]}これらのバンドとその交差は、菊池パターンまたは電子後方散乱パターン (EBSP) として知られています。コントラストを改善するために、静的背景補正または動的背景補正を使用して異方性/非弾性散乱を除去することにより、パターンの背景が補正されます。^{[ 20 ]}

単結晶4H-SiCのグノミック投影EBSPは、（左）従来法、（中央）動的法、および（右）複合バックグラウンド補正法を用いて収集された。

EBSD検出器

EBSDは、少なくとも蛍光スクリーン、コンパクトレンズ、低照度電荷結合素子（CCD）または相補型金属酸化膜半導体（CMOS）カメラを備えたEBSD検出器を搭載したSEMを使用して実施されます。2023年9月現在市販のEBSDシステムには通常、2種類のCCDカメラのいずれかが搭載されています。高速測定の場合、CCDチップのネイティブ解像度は640×480ピクセルです。低速で高感度な測定の場合、CCDチップの解像度は最大1600×1200ピクセルまで上げることができます。^{[ 13 ]}^{[ 6 ]}

高解像度検出器の最大の利点は感度が高いことであり、そのため各回折パターン内の情報をより詳細に分析できます。テクスチャと方位の測定では、回折パターンのサイズと計算時間を削減するために、回折パターンをビン化します。最新のCCDベースのEBSDシステムは、最大1800パターン/秒の速度でパターンをインデックス化できます。これにより、迅速かつ豊富な微細構造マップを生成できます。^{[ 14 ]}^{[ 21 ]}

試料調製

サンプルは真空中で安定している必要があります。通常は導電性化合物（例えば、Cu を充填したエポキシ熱硬化性樹脂）を使用してマウントされ、電子ビーム照射下での画像ドリフトとサンプル帯電を最小限に抑えます。EBSP の品質は表面処理に敏感です。通常、サンプルは240 番から 4000 番までのSiC ペーパーを使用して研磨され、ダイヤモンドペースト (9 から 1 μm) を使用して研磨され、次に 50 nmコロイドシリカで研磨されます。その後、エタノールで洗浄され、脱イオン水でリンスされ、熱風ブロワーで乾燥されます。最終的な表面処理として、イオンビーム研磨が続く場合があります。^{[ 23 ]}^{[ 24 ]}^{[ 25 ]}

SEM内部では、測定領域のサイズによって局所的な解像度と測定時間が決まります。^{[ 26 ]}高品質のEBSPの通常の設定は、15 nAの電流、20 kVのビームエネルギー、18 mmの作動距離、長い露光時間、および最小限のCCDピクセルビニングです。^{[ 27 ]}^{[ 28 ]}^{[ 29 ]}^{[ 30 ]} EBSD蛍光体スクリーンは、歪みと転位密度の分析のために、18 mmの作動距離と0.5 μm 未満のマップステップサイズに設定されます。^[³¹^]^[²²^]

顕微鏡内の電子ビームによる気体炭化水素および試料表面の炭化水素の分解により炭素が堆積し、^{[ 32 ]}取得ウィンドウ外の EBSP と比較して、プローブ領域内の EBSP の品質が低下します。堆積した炭素の明らかな蓄積に伴い、パターンの劣化の勾配はプローブ領域内を移動するにつれて増加します。ビーム瞬間に誘発された炭素堆積による黒い斑点は、凝集が起こらなかった場合でも、即時の堆積を強調します。^{[ 33 ]}^{[ 34 ]}

深度解像度

深さ分解能の定義については合意が得られていない。例えば、信号の約92%が生成される深さとして定義することもでき、^{[ 35 ]}^{[ 36 ]}パターン品質によって定義することもでき、^{[ 37 ]}あるいは「有用な情報が得られる場所」のように曖昧な場合もある。^{[ 38 ]}特定の定義であっても、深さ分解能は電子エネルギーとともに増加し、研究対象材料を構成する元素の平均原子量とともに減少する。例えば、 20 kVのエネルギーでは、 Siで40 nm、 Niで10 nmと推定されている。^{[ 39 ]}厚さに沿って構造と組成が変化する材料では、異常に小さな値が報告されている。例えば、単結晶シリコンを数 nmのアモルファスクロムでコーティングすると、15 kVのエネルギーで深さ分解能が数 nmに低下する。^{[ 37 ]}対照的に、イザベルとデイビッド^{[ 40 ]}は、非弾性散乱（接線方向のぼやけやチャネリング効果を含む）により、均質な結晶の深さ分解能も1 μmまで拡張できると結論付けた。^[²⁴^]

EBSD 深さ分解能に関する最近のレポートの比較では、Koko ら^{[ 24 ]}は、ほとんどの出版物が深さ分解能の定義の根拠を示しておらず、ビームサイズ、傾斜角、ビームからサンプルまでの距離、サンプルから検出器までの距離に関する情報も含まれていないことを指摘しました。^{[ 24 ]}これらは、深さ分解能を決定またはシミュレートするための重要なパラメータです。^{[ 40 ]}ビーム電流は、実験またはシミュレーションにおいて深さ分解能に影響を与えるとは一般的に考えられていません。しかし、ビームスポットサイズと信号対雑音比に影響を与え、したがって、間接的にパターンの詳細とその深さ情報に影響を与えます。^{[ 41 ]}^{[ 42 ]}^{[ 43 ]}

モンテカルロシミュレーションは、EBSP形成の深さ分解能を定量化する代替アプローチを提供します。これは、ブロッホ波理論を使用して推定できます。ブロッホ波理論では、後方散乱された一次電子は、結晶格子と相互作用した後、表面から出て、電子と相互作用する体積の結晶性に関する情報を運びます。^{[ 44 ]}後方散乱電子（BSE）のエネルギー分布は、材料の特性とビーム条件に依存します。^{[ 45 ]}このBSE波場は、弾性回折イベントの後に非干渉性および非弾性（エネルギー損失）散乱を引き起こす熱拡散散乱プロセスにも影響されますが、EBSPの深さ分解能を構成するメカニズムに関連付けられる完全な物理的記述はまだありません。^{[ 46 ]}^{[ 47 ]}

EBSD実験とシミュレーションはどちらも、表面が傷がなく、深さ方向の分解能が均一であるという2つの仮定を通常置きますが、変形したサンプルではどちらも有効ではありません。^{[ 37 ]}

方位と位相のマッピング

パターンインデックス

セットアップのジオメトリが適切に記述されていれば、回折パターンに存在するバンドを、電子相互作用体積内の材料の基礎となる結晶および結晶学的配向に関連付けることができます。各バンドは、それを形成した回折面のミラー指数によって個別にインデックス付けできます。ほとんどの材料では、3つのバンド/面のみが交差し、結晶配向の一意の解（面間角に基づく）を記述するために必要です。ほとんどの市販システムは、インデックス付けに国際結晶データベースのルックアップテーブルを使用します。この結晶配向は、各サンプリング点の配向を基準結晶配向に関連付けます。^{[ 3 ]}^{[ 48 ]}

インデックス付けは、パターン収集後のEBSDプロセスの最初のステップであることが多い。これにより、パターンが収集されたサンプルの単一ボリュームにおける結晶方位を特定することができる。^{[ 49 ]}^{[ 50 ]} EBSDソフトウェアでは、パターンバンドは通常、修正ハフ変換を使用した数学的ルーチンによって検出され、ハフ空間の各ピクセルはEBSP内の固有のライン/バンドを表す。ハフ変換により、元のEBSPではコンピュータで位置を特定するのが難しいバンドの検出が可能になる。バンドの位置が検出されると、バンド間の角度が格子面間の角度を表すため、これらの位置を基となる結晶方位に関連付けることができる。したがって、3つのバンド間の位置/角度がわかっている場合、方位ソリューションを決定できる。対称性の高い材料では、通常、方位測定を取得および検証するために3つ以上のバンドが使用される。^{[ 50 ]}

回折パターンは、ノイズを除去し、検出器の歪みを補正し、強度を正規化するために前処理されます。次に、前処理された回折パターンは、研究対象の材料の参照パターンのライブラリと比較されます。参照パターンは、材料の既知の結晶構造と結晶格子の配向に基づいて生成されます。測定されたパターンに最もよく一致する結晶格子の配向は、さまざまなアルゴリズムを使用して決定されます。ほとんどの市販のEBSDソフトウェアで実行されるインデックス付けの主要な方法は3つあります。トリプレット投票^{[ 51 ]}^{[ 52 ]、}実験パターンと計算によって決定された配向との間の「適合」を最小化^{[ 53 ]}^{[ 54 ]}、および/または隣接パターン平均化と再インデックス付け、NPAR ^{[ 55 ]} ）。インデックス付けにより、視野内の他の結晶配向に関連する単一の結晶配向の一意の解が得られます。 ^{[ 56 ]}^{[ 57 ]}

トリプレット投票では、結晶方位の異なる解に関連付けられた複数の「トリプレット」を特定します。各トリプレットから決定された結晶方位はそれぞれ1票ずつ獲得します。4つのバンドが同じ結晶方位を特定した場合、4つ（4つが3つを選ぶ、つまり） $C(4,3)$ ）その特定のソリューションに投票が行われます。したがって、最も多くの票を獲得した候補の配向が、存在する基礎となる結晶配向に対する最も可能性の高いソリューションとなります。選択されたソリューションに対する投票数と総投票数を比較すると、基礎となるソリューションに対する信頼度を表します。擬似対称配向によっては、ある候補ソリューションに対する信頼度が他の候補ソリューションよりも低くなる可能性があるため、この「信頼度指数」の解釈には注意が必要です。^{[ 58 ]}^{[ 59 ]}^{[ 60 ]}適合を最小化するには、トリプレットのすべての可能な配向から始めます。より多くのバンドが含まれるため、候補の配向の数が減少します。バンドの数が増えるにつれて、可能な配向の数は最終的に1つのソリューションに収束します。測定された配向と取得されたパターンの間の「適合」を決定できます。^{[ 57 ]}

全体として、EBSDにおける回折パターンのインデックス付けは複雑なアルゴリズムと計算を伴いますが、高空間分解能で材料の結晶構造と配向を決定するために不可欠です。インデックス付けプロセスは継続的に進化しており、プロセスの精度と速度を向上させるために新しいアルゴリズムと技術が開発されています。その後、インデックス付け結果の品質を決定するために信頼度指数が計算されます。信頼度指数は、測定されたパターンと参照パターンの一致品質に基づいています。さらに、ノイズレベル、検出器の解像度、サンプル品質などの要因も考慮されます。^{[ 50 ]}

ブラッグ条件を用いた運動学的解に関連するこの幾何学的記述は、配向やテクスチャ解析に非常に強力で有用ですが、結晶格子の幾何学的構造のみを記述します。回折物質内部で起こる多くの物理プロセスは無視されます。電子ビーム散乱パターン（EBSP）内のより細かい特徴を適切に記述するには、多ビーム動的モデルを使用する必要があります（例えば、実験パターンにおけるバンド強度の変化は、構造因子に関連する運動学的解には適合しません）。^[⁶¹^]^[⁴⁷^]

パターンセンター

X 線回折(XRD)と同様に、結晶の配向を関連付けるには、システムの幾何学的構造を知る必要があります。特に、パターン中心は、相互作用体積から検出器までの距離と、蛍光体スクリーン上の蛍光体とサンプルの間の最も近い点の位置を表します。初期の研究では、既知の配向を持つ単結晶を SEM チャンバーに挿入し、EBSP の特定の特徴がパターン中心に対応することが知られていました。その後の発展では、EBSP の生成とチャンバーの形状 (影の投影と蛍光体の動き) の間のさまざまな幾何学的関係を利用しました。^{[ 62 ]}^{[ 57 ]}

残念ながら、これらの方法はいずれも煩雑で、一般的なオペレーターにとっては系統的なエラーが発生しやすい。通常、複数の用途に指定された最新の SEM では簡単に使用できない。そのため、ほとんどの市販の EBSD システムでは、インデックス付けアルゴリズムと結晶方位の反復移動、および推奨されるパターン中心位置を組み合わせて使用する。実験パターン内のバンドとルックアップテーブル内のバンドとの適合を最小化することで、パターン中心位置がパターン幅の約 0.5～1% の精度で収束する傾向がある。^{[ 21 ]}^{[ 6 ]}

最近開発されたオープンソースのMATLABコードであるAstroEBSD ^{[ 63 ]}とPCGlobal ^{[ 64 ]は、EMSoft [}⁶⁷^]を使用してパターンをシミュレートするパターンマッチングアプローチ^[⁶⁶^]を使用することで、パターン中心（PC）^の決定精度、ひいては弾性ひずみ^[⁶⁵^]の決定精度を向上させた。

EBSDマッピング

インデックス付けの結果は、研究対象の表面上の各点における結晶方位のマップを生成するために使用されます。したがって、電子ビームを所定の方法でスキャンする（通常は正方形または六角形のグリッドで、サンプルの傾きによる画像の短縮を補正する）と、多くの豊富な微細構造マップが得られます。^{[ 68 ]}^{[ 69 ]}これらのマップは、調査対象の材料の結晶方位を空間的に記述することができ、微細組織とサンプルの形態を調べるために使用できます。一部のマップは、結晶粒の方位、境界、および回折パターン（画像）の品質を記述します。さまざまな統計ツールを使用して、平均ミスオリエンテーション、結晶粒径、および結晶学的テクスチャを測定できます。このデータセットから、多数のマップ、チャート、およびプロットを生成できます。^{[ 70 ]}^{[ 71 ]}^{[ 72 ]}方位データは、カラーコーディング、等高線、極点図など、さまざまな手法を使用して視覚化できます。^{[ 73 ]}

顕微鏡のずれ、画像のずれ、倍率の低下とともに増加するスキャン歪み、試料表面の粗さや汚染、境界インデックスの失敗、検出器の品質は、結晶方位の決定における不確実性につながる可能性があります。^{[ 74 ]} EBSDの信号対雑音比は材料に依存し、過剰な取得速度とビーム電流で低下するため、測定の角度分解能に影響します。^{[ 74 ]}

ひずみ測定

全視野変位、弾性ひずみ、およびGND密度は、材料のマイクロスケールでの弾性および塑性挙動に関する定量的な情報を提供します。マイクロスケールでのひずみの測定には、長さ/形状の変化以外の重要な詳細（局所的なテクスチャ、個々の結晶粒の配向など）を注意深く考慮する必要があります。これらのマイクロスケールの特徴は、穴あけ、単色または多色のエネルギー分散型X線回折、または中性子回折（ND）などのさまざまな技術を使用して測定できます。EBSDは、他の技術と比較して、空間分解能が高く、比較的感度が高く、使いやすいです。^{[ 72 ]}^{[ 75 ]}^{[ 76 ]} EBSDを使用したひずみ測定は、高い空間分解能で実行できるため、研究者は材料内のひずみの局所的な変化を研究できます。^{[ 14 ]}この情報は、材料の変形と機械的挙動を研究したり、^{[ 77 ]}さまざまな負荷条件下での材料挙動のモデルを開発したり、材料の加工と性能を最適化したりするために使用できます。総じて、EBSDを用いたひずみ測定は、材料の変形や機械的挙動を研究するための強力なツールであり、材料科学および工学の研究開発で広く使用されている。^{[ 76 ]}^{[ 14 ]}

以前の試験

電子後方散乱パターン (EBSP) の変化と劣化は、回折体積に関する情報を提供する。パターンの劣化 (すなわち拡散品質) は、パターン/画像品質 (IQ) ^{[ 78 ]}を介して塑性のレベルを評価するために使用できる。ここで、IQ は、従来のハフ変換を使用したときに検出されたピークの合計から計算される。ウィルキンソン^{[ 79 ] は}、弾性ひずみを決定するために高次菊池線位置の変化を最初に使用したが、精度は低かった^{[注 1 ]} (0.3% ～ 1%)。しかし、このアプローチは、降伏点の弾性ひずみが通常 0.2% 程度であるため、金属の残留弾性ひずみを特徴付けるために使用できない。高次菊池線の変化を追跡してひずみを測定することは、バンド位置が格子定数の変化に敏感であるため、ひずみが小さいときに実用的である。^{[ 43 ]} 1990 年代初頭、トルーストら^{[ 80 ]}とウィルキンソンらは、^{[ 81 ]}^{[ 82 ]}は、パターンの劣化とゾーン軸位置の変化を利用して、残留弾性ひずみと小さな格子回転を0.02%の精度で測定した。^{[ 1 ]}

高分解能電子後方散乱回折（HR-EBSD）

相互相関に基づく高角度分解能電子後方散乱回折（HR-EBSD）は、Wilkinsonらによって導入された^{[ 83 ]}^{[ 84 ]}走査型電子顕微鏡（SEM）ベースの手法で、相対的な弾性ひずみと回転をマッピングし、結晶材料中の幾何学的に必要な転位（GND）密度を推定します。HR-EBSD 法は、画像相互相関を使用して、異なる電子後方散乱回折パターン（EBSP）の関心領域（ROI）間のパターンシフトをサブピクセル精度で測定します。その結果、少なくとも 4 つの非共線ROIからのパターンシフトを使用して、結晶内の 2 点間の相対的な格子歪みを計算できます。実際には、相対的な格子歪みを表す変形勾配テンソルの最適解を見つけるために、EBSP ごとに 20 を超える ROI でパターンシフトが測定されます。^[^{注 2}^]^[⁸⁶^]^[⁸⁴^]

変位勾配テンソル（ $\beta$ ）（または局所的な格子歪み）は、収集された点間のパターンの測定された幾何学的シフトを関連付けます（ ${\ワイドハット {p}}$ ）および（非共面）ベクトル（ ${\ワイドハット {r}}$ ）、および基準点（ $p$ ）パターンと関連ベクトル（ $r$ )したがって、(パターンシフト)ベクトル( $q$ ）は、以下の式のように記述できます。 $x_{i}$ そして $u_i$ 方向と変位は $i$ それぞれ、の方向です。^{[ 87 ]}

$q=\beta r-(\beta r.{\widehat {r}}){\widehat {r}}$

$\beta ={\begin{pmatrix}{\partial u_{1} \over x_{1}}&{\partial u_{1} \over x_{2}}&{\partial u_{1} \over x_{3}}\\{\partial u_{2} \over x_{1}}&{\partial u_{2} \over x_{2}}&{\partial u_{2} \over x_{3}}\\{\partial u_{3} \over x_{1}}&{\partial u_{3} \over x_{2}}&{\partial u_{3} \over x_{3}}\end{pmatrix}},\qquad r={\begin{pmatrix}{r_{1}}\\{r_{2}}\\{r_{3}}\\\end{pmatrix}}$

シフトは蛍光体（検出器）平面で測定されます（ $\beta _{3}r_{3}=0$ ）、関係が単純化されるため、9 つの変位勾配テンソル成分のうち 8 つは、EBSP 上の 4 つの異なる、広く離れた領域でのシフトを測定することによって計算できます。^{[ 84 ]}^{[ 87 ]}このシフトは、EBSP が蛍光スクリーンに記録され、鏡のように反転されるため、サンプルフレーム (Y 軸を中心に反転) に補正されます。次に、X 軸を中心に 24° (つまり、20° のサンプル傾斜と ≈4° のカメラ傾斜を合わせ、ビーム移動による角度効果がないものとします^{[ 21 ]} ) だけ補正されます。微小ひずみ理論を使用して、変形勾配は弾性ひずみ (対称部分、 $ij=ji$ ) $e_{ij}$ および格子回転（非対称部分、 $ii=jj=0$ ) $\omega _{ij}$ [ ⁸⁴^]

$e_{ij}={1 \over {2}}(\beta _{ij}+\beta _{ij}^{r}),\qquad \omega _{ij}={1 \over {2}}(\beta _{ij}-\beta _{ij}^{r})$

これらの測定値は体積/静水圧ひずみテンソルに関する情報を提供しません。表面に垂直な応力（ $\sigma _{33}$ ）はゼロ（すなわち、牽引力のない表面^{[ 88 ]}）であり、異方性弾性剛性定数を用いたフックの法則を用いると、この制約付き最小化問題における欠落している9番目の自由度は、非線形ソルバーを用いて推定できる。^{[ 84 ]}

$\sigma _{33}=C_{33kl}e_{kl}=0$

どこ $C$ は結晶異方性剛性テンソルです。これらの2つの方程式を解いて、精密化された弾性偏差ひずみを再計算します（ $\varepsilon _{kl}$ ）欠落している第 9 次 (球面) ひずみテンソルも含む。完全な $\beta$ ^[⁸⁸^]に記載されている。

$e_{ij}={\begin{pmatrix}{e_{11}}\\{e_{22}}\\{e_{33}}\\{e_{12}+e_{21}}\\{e_{13}+e_{31}}\\{e_{23}+e_{32}}\\\end{pmatrix}},\qquad {\begin{pmatrix}{k_{1}}\\{k_{2}}\\{k_{3}}\\\end{pmatrix}}={\begin{pmatrix}{e_{11}-e_{33}}\\{e_{22}-e_{33}}\\{e_{12}C_{3312}+e_{13}C_{3313}+e_{23}C_{3323}}\\\end{pmatrix}}$

$\varepsilon _{33}={k_{1}C_{1133}+k_{2}C{2233}+k_{3} \over C_{1133}+C_{2233}+C_{3333}},\qquad \therefore \varepsilon _{kl}={\begin{pmatrix}{k_{1}+\varepsilon _{33}}\\{k_{2}+\varepsilon _{33}}\\{\varepsilon _{33}}\\{2e_{12}}\\{2e_{13}}\\{2e_{23}}\\\end{pmatrix}}$

最後に、応力テンソルとひずみテンソルは結晶異方性剛性テンソル（ $C_{klij}$ ）、そして応力テンソルの対称性を持つアインシュタインの総和規約を使用することにより（ $\sigma _{ij}=\sigma _{ji}$ [ ⁸⁶^]

$\sigma _{ij}=C_{ijkl}\varepsilon _{kl}$

生成されたデータの品質は、すべての ROI の相関強度/ピークの幾何平均を取ることによって評価できます。0.25 より低い値は、EBSP の品質に問題があることを示しています。 ^{[ 87 ]}さらに、幾何学的に必要な転位 (GND) 密度は、回転軸と隣接するマップ点間の角度を Nye のテンソルを使用して材料中の転位の種類と密度に関連付けることによって、HR-EBSD で測定された格子回転から推定できます。^{[ 31 ]}^{[ 89 ]}^{[ 90 ]}

精度と開発

HR-EBSD法は、パターン画像内のゾーン軸のシフトを±0.05ピクセルの分解能で測定することにより、変位勾配テンソルの成分（すなわち、ラジアン単位の格子歪みと格子回転の変化）で±10 ^{−4の精度を達成できます。}^{[ 84 ]}^{[ 91 ]}ブリットンとウィルキンソン^{[ 86 ]}およびモーリスら^{[ 92 ]}が、回転行列でパターンを変換した後に歪みを再計算する再マッピング技術を使用することで回転の限界を約11°に引き上げるまでは、歪みと回転（>1.5°）が小さい範囲に制限されていました。 $R$ ）最初の相互相関反復から計算される。^{[ 1 ]}

$R={\begin{pmatrix}\cos \omega _{12}&\sin \omega _{12}&0\\-\sin \omega _{12}&\cos \omega _{12}&0\\0&0&1\end{pmatrix}}{\begin{pmatrix}1&0&0\\0&\cos \omega _{23}&\sin \omega _{23}\\0&-\sin \omega _{23}&\cos \omega _{23}\end{pmatrix}}{\begin{pmatrix}\cos \omega _{31}&0&-\sin \omega _{31}\\0&1&0\\\sin \omega _{31}&0&\cos \omega _{31}\end{pmatrix}}$

(a) (001)単結晶の圧痕の二次電子(SE)像。(b) HR-EBSD応力および回転成分、および幾何学的に必要な転位密度(

\rho _{GND}

_{EBSP 0}の位置は星印で強調表示されています。

\sigma _{yz}

ステップサイズは250 nmです^{[ 93 ]}

しかし、通常、深刻な塑性変形によって引き起こされる格子回転がさらに進むと、弾性ひずみの計算に誤差が生じます。この問題に対処するため、Rugglesら^{[ 94 ]}は、相互相関の代わりに逆組成ガウス・ニュートン法 (ICGN) を使用して、12° の格子回転でも HR-EBSD の精度を向上させました。シミュレーションパターンについては、Vermeij と Hoefnagels ^{[ 95 ]}も、EBSP を小さな ROI に分割する代わりに、全視野統合デジタル画像相関(IDIC) フレームワークを使用して、変位勾配成分で±10 ⁻⁵の精度を達成する方法を確立しました。IDIC のパターンは、約 14° まで再マッピングの必要性をなくすために歪み補正されます。^[⁹⁶^]^[⁹⁷^]

^{これらの測定で}^は^{、格子面の配向（結晶学的方向）に変化はなく、菊池}^バンドの位置と幅に変化があるだけなので、静水圧歪みや体積歪みに関する情報は得られません。^{[ 86 ]}^[⁸⁴^{] [99]}^[¹⁰⁰^]

参照パターン問題

HR-EBSD 解析では、格子歪み場はマップ内の各結晶粒の参照パターンまたは点 (EBSP ₀ ) に対して計算され、その点の格子歪みに依存します。各結晶粒の格子歪み場はこの点に対して測定されるため、参照点における絶対格子歪み (歪みのない結晶に対する相対値) は HR-EBSD 弾性歪みおよび回転マップから除外されます。^{[ 98 ]}^{[ 101 ]}この「参照パターン問題」はX 線回折の「d _{0問題」に似ており、}^{[ 14 ]}^{[ 102 ]} HR-EBSD 応力場の公称値に影響します。ただし、参照パターン (EBSP ₀ ) の選択は重要な役割を果たします。なぜなら、大きく変形した EBSP ₀はマップ値にファントム格子歪みを追加し、測定精度を低下させるからです。^{[ 98 ]}

\displaystyle A^{0}} — 時効硬化DSSのフェライト（Fe-α）相とオーステナイト（Fe-γ）相、およびシリコン（Si）について、EBSP0点における局所条件と粒内平均条件との間の線形相関係数。解析では、平均変形勾配テンソル行列式（ $A^{0}$ ）、面内最大主ひずみ（ $\epsilon _{MAX}$ ）、回転の大きさ（ $\omega _{T}={\sqrt {(}}\omega _{32}^{2}+\omega _{13}^{2}+\omega _{21}^{2})$ ）、相関ピーク高さ（PH）、平均角度誤差（MAE）、およびGND密度。^{[ 1 ]}

EBSP ₀における局所的な格子歪みは、結果として得られる HR-EBSD マップに影響を与えます。例えば、引張変形した参照パターンは、HR-EBSD マップの引張歪みの大きさを直接的に減少させ、他の成分の大きさや歪みの空間分布に間接的に影響を与えます。さらに、EBSP ₀の選択は GND 密度分布と大きさにわずかに影響し、GND 密度が高い参照パターンを選択すると、格子歪みが大きい参照パターンを選択するよりも、相互相関の品質が低下し、空間分布が変化し、より多くのエラーが発生します。加えて、EBSP ₀の IQ と EBSP ₀の局所的な格子歪みの間には明らかな関連性はありません。^{[ 1 ]}

絶対ひずみ測定のためのシミュレートされた参照パターンの使用は、依然として活発な研究分野であり^{[ 61 ]}^{[ 103 ]}^{[ 104 ]}^{[ 105 ]}^{[ 106 ]}^{[ 107 ]}^{[ 108 ]}^{[ 109 ]}、精査^{[ 98 ]}^{[ 109 ]}^{[ 110 ]}^{[ 111 ]}^{[ 112 ]}^{[ 113 ]}である。これは、深さによる非弾性電子散乱の変化によって動的回折シミュレーションモデルの精度が制限されること、およびパターン中心の不正確な決定によって実験的に取得した参照パターンを使用すると相殺されるファントムひずみ成分が生じるという困難があるためである。他の方法では、EBSP ₀での絶対ひずみは結晶塑性有限要素 (CPFE) シミュレーションを使用して決定でき、その後、HR-EBSD データ (例えば、線形「トップアップ」法^{[ 114 ]}^{[ 115 ]}または変位積分^{[ 93 ]}を使用) と組み合わせて絶対格子歪みを計算できると仮定しています。

さらに、GND密度推定は、格子回転マップの近傍点間の差のみがGND密度計算に使用されるため、EBSP 0の選択に対して名目上は無感応（または無視できる程度にしか依存しない）です^。^[ 118 ] _[^{119 ]}^ただし^、^これ^は^、^EBSP⁰^の_絶対格子歪みが、微分演算中に消滅する定数によって相対格子回転マップ成分のみを変更する、つまり、格子歪み分布はEBSP ₀の選択に対して無感応であると仮定しています。^[¹⁰¹^]^[¹^]

参照パターンの選択

EBSP ₀の選定基準は、以下のいずれか、または複数の組み合わせとなる。

ハフ測定された局所的な結晶粒方位差に基づいて、GND密度が低い点またはカーネル平均方位差（KAM）が低い点から選択する。 ^{[ 120 ]}
電子相互作用体積内の欠陥密度が低い可能性のある、画像品質 (IQ) が高い点から選択することは、多結晶材料の低歪み領域であると想定されます。^{[ 99 ]}^{[ 121 ]}しかし、IQ には明確な物理的意味がなく、^{[ 122 ]}測定された相対格子歪みの大きさは EBSP ₀の IQ に影響されません。^{[ 101 ]}^{[ 1 ]}
EBSP ₀は、主観的な基準を使用して、粒界、介在物、または亀裂などの潜在的な応力集中から離れた位置に手動で選択することもできます。 ^{[ 101 ]}
相互相関パラメータと角度誤差の間の経験的関係を調べた後、EBSP _{0を選択する。これは、HR-EBSDの精度を最大化する最適な参照パターンを特定するための反復アルゴリズムで使用される。}^{[ 1 ]}

これらの基準は、これらのパラメータが基準点のひずみ状態を示すことができ、最大 3.2×10 ⁻⁴の弾性ひずみの正確な測定が可能であることを前提としています。 ^[⁹¹^]しかし、実験測定では、HR-EBSD が面外せん断ひずみ成分の分布と大きさを決定する際の不正確さを示しています。^[¹²³^]^[¹²⁴^]

アプリケーション

^{EBSDは、材料科学および工学[ 14 ]} 、地質学^{[ 125 ]}、生物学研究^{[ 126 ]}^{[ 127 ]}など、幅広い用途で使用されています。材料科学および工学では、EBSDは金属、セラミックス、ポリマーの微細構造を研究し、材料挙動のモデルを開発するために使用されます。^{[ 128 ]}地質学では、EBSDは鉱物や岩石の結晶構造を研究するために使用されます。生物学研究では、EBSDは生物組織の微細構造を研究し、骨や歯などの生物材料の構造を調査するために使用されます。^{[ 129 ]}

散乱電子像

EBSD検出器は、検出器の下部、中央部（MSD）、および上部に前方散乱電子ダイオード（FSD）を備えている。

475℃で脆化した二相ステンレス鋼の遠視野像。仮想前方散乱検出器（VFSD）は試料から38mmの位置に設置されている。

EBSD検出器には、検出器の下部、中央部（MSD）、上部に前方散乱電子ダイオード（FSD）が配置されています。前方散乱電子（FSE）イメージングでは、試料表面から小さな角度で散乱された電子を収集し、表面のトポグラフィーと組成に関する情報を得ます。 ^{[ 130 ]}^{[ 131 ]} FSE信号は、試料の結晶方位にも敏感です。FSE信号の強度とコントラストを分析することで、研究者は画像内の各ピクセルの結晶方位を決定できます。^{[ 132 ]}

FSE信号は通常、EBSD分析においてBSE信号と同時に収集されます。BSE信号は試料の平均原子番号に敏感であり、表面形状と組成の画像を生成するために使用されます。FSE信号はBSE画像に重ね合わされ、結晶方位に関する情報を提供します。^{[ 132 ]}^{[ 130 ]}

EBSD検出器をイメージング装置として使用する場合、画像生成には多くの自由度があります。ダイオードの組み合わせを使用して作成された画像は、仮想画像またはVFSDと呼ばれます。EBSD CCDカメラの過剰なビニングにより、SEMの低速スキャンイメージングに匹敵する速度で画像を取得することが可能です。同時に取得された画像から合成画像を作成することにより、関心のあるコントラストを抑制または分離することが可能であり、さまざまな微細構造特性を評価するための幅広い組み合わせが提供されます。ただし、VFSD画像には、従来のEBSDマップに固有の定量的情報は含まれておらず、単に微細構造の表現を提供するだけです。^{[ 130 ]}^{[ 131 ]}

統合EBSD/EDSマッピング

EDS/EBSD の同時収集が可能になると、両方の技術の能力が向上します。^{[ 133 ]}類似した組成のため、EDS だけではサンプルの化学組成や相を区別できないアプリケーションがあり、構造の解が曖昧なため、EBSD だけでは構造を解くことができません。^{[ 134 ]}^{[ 135 ]}統合マッピングを実行するために、分析領域がスキャンされ、各ポイントで、ハフピークと EDS 関心領域のカウントが保存されます。相の位置はX 線マップで決定され、各元素の測定された EDS 強度がチャートで示されます。結晶粒を選択するために、各相の化学強度範囲が設定されます。^{[ 136 ]}次に、すべてのパターンがオフラインで再インデックスされます。記録された化学組成によって、各ポイントのインデックスに使用される相/結晶構造ファイルが決まります。各パターンは 1 つの相のみでインデックスされ、区別された相を表示するマップが生成されます。 EDSとEBSDの相互作用体積は大きく異なり（マイクロメートルオーダーと数十ナノメートルオーダー）、大きく傾斜したサンプルを使用したこれらの体積の形状は、位相識別アルゴリズムに影響を与える可能性がある。^{[ 48 ]}^{[ 137 ]}

EBSDは、カソードルミネッセンス（CL）^{[ 138 ]} 、波長分散型X線分光法（WDS）^{[ 139 ]} 、および/またはEDSなどの他のSEM内技術と併用すると、試料の特性に関するより深い洞察を提供し、相の識別を強化することができます。^{[ 140 ]}^{[ 141 ]}例えば、方解石（石灰岩）とアラゴナイト（貝殻）の鉱物は同じ化学組成である炭酸カルシウム（CaCO3 _）を持っているため、EDS/WDSでは区別できませんが、微結晶構造が異なるため、EBSDでは区別できます。^{[ 142 ]}^{[ 143 ]}

統合EBSD/DICマッピング

EBSDとデジタル画像相関法（DIC）は、材料の微細構造と変形挙動を分析するために併用できます。DICは、デジタル画像処理技術を使用して材料の変形場とひずみ場を測定する方法です。^{[ 144 ]} EBSDとDICを組み合わせることで、研究者は材料の結晶学的情報と機械的情報を同時に取得できます。^{[ 145 ]}これにより、微細構造と機械的挙動の関係をより包括的に理解することができ、これは材料科学や工学などの分野で特に役立ちます。^{[ 146 ]}

DICは材料中のひずみ局所化領域を特定でき、EBSDはこれらの領域の微細構造に関する情報を提供できます。これらの技術を組み合わせることで、研究者は観察されたひずみ局所化の原因となるメカニズムについての洞察を得ることができます。^{[ 147 ]}例えば、EBSDは変形前後の結晶粒の配向と境界のミスオリエンテーションを決定するために使用できます。対照的に、DICは変形中の材料のひずみ場を測定するために使用できます。^{[ 148 ]}^{[ 149 ]}または、EBSDは変形中のさまざまなすべり系の活性化を特定するために使用でき、DICは関連するひずみ場を測定するために使用できます。^{[ 150 ]}これらのデータを相関させることで、研究者は材料の機械的挙動におけるさまざまな変形メカニズムの役割をよりよく理解することができます。^{[ 151 ]}

全体として、EBSDとDICの組み合わせは、材料の微細構造と変形挙動を調査するための強力なツールを提供する。このアプローチは、幅広い材料と変形条件に適用でき、機械的挙動の根底にある基本的なメカニズムについての洞察をもたらす可能性がある。^{[ 149 ]}^{[ 152 ]}

3D EBSD

3D EBSDは、EBSDと連続切断法を組み合わせて、材料の結晶構造の3次元マップを作成します。^{[ 154 ]}この技術では、サンプルを薄いスライスに連続的に切断し、EBSDを使用して各スライスの結晶方位をマッピングします。^{[ 155 ]}得られた方位マップを組み合わせて、材料の結晶構造の3Dマップを生成します。連続切断は、機械研磨^{[ 156 ]} 、集束イオンビーム（FIB）ミリング^{[ 157 ]} 、または超薄切片法^{[ 158 ]}など、さまざまな方法で実行できます。切断方法の選択は、サンプルのサイズと形状、化学組成、反応性、機械的特性、および3Dマップの必要な解像度と精度に依存します。^{[ 159 ]}

3D EBSD は、従来の 2D EBSD に比べていくつかの利点があります。まず、材料の結晶構造の完全な画像を提供し、微細構造のより正確で詳細な分析を可能にします。^{[ 160 ]第二に、複合材料や多相合金に見られるような複雑な微細構造の研究に使用できます。第三に、変形中}^{[ 161 ]}や熱処理中^[¹⁶²^]など、時間の経過に伴う微細構造の変化を研究するために使用できます。

しかし、3D EBSDにもいくつかの制限があります。広範囲にわたるデータ取得と処理、スライス間の適切な位置合わせが必要であり、時間と計算負荷がかかる場合があります。^{[ 163 ]}さらに、3D マップの品質は個々の EBSD マップの品質に依存し、これはサンプルの準備、データ取得パラメータ、分析方法などの要因によって影響を受ける可能性があります。^{[ 154 ]}^{[ 164 ]}全体として、3D EBSD は材料の結晶構造を 3 次元で研究するための強力な技術であり、材料科学および工学の研究開発で広く使用されています。^{[ 165 ]}^{[ 149 ]}

注記

↑このページ全体を通して、「誤差」および「精度」という用語は、国際度量衡局(BIPM)の測定不確かさに関するガイドで定義されているとおりに使用されています。実際には、「誤差」、「正確度」、「不確かさ」、および「真値」と「最良推定値」は同義です。精度は、すべての推定量間の分散 (または標準偏差) です。バイアスは、測定値の平均と独立して測定された「最良推定値」との差です。正確度は、バイアスと精度の組み合わせです。^{[ 1 ]}
↑ひずみ、歪み、変形は、さまざまな分野で複数の量を指すことがあります。ここでは、次のように使用します。機械的に負荷された物体は、加えられた負荷に応じて形状が変化します。機械試験フレームで測定すると、これは（全）工学ひずみと呼ばれます。塑性ひずみは、巨視的な負荷を取り除いた後に残る形状変化です。ミクロスケールでは、ほとんどの結晶材料の塑性変形は、転位すべりと変形双晶によって吸収されます。しかし、塑性変形が進むにつれて材料中に転位も生成され、材料中で互いに近くなる（例えば、すべり帯で並ぶ）類似の結晶学的特性と符号を持つ転位は、GNDとして特徴付けられます。多結晶における塑性ひずみの増加は、結晶格子を弾性的に歪ませて結晶欠陥（例えば、転位核）、欠陥群（例えば、転位セル壁）を吸収し、多結晶粒界での適合性を維持します。この格子歪みは変形勾配テンソルとして表現でき、これは弾性ひずみ（対称）成分と格子回転（反対称）成分に分解できます。^{[ 85 ]}本稿では、「格子歪み」とは、変形勾配、弾性ひずみ、および格子回転テンソルから導出される弾性歪み成分を指します。

参考文献

1 2 3 4 5 6 7 8 9 Koko, Abdalrhaman; Tong, Vivian; Wilkinson, Angus J. ; Marrow, T. James (2023). "高解像度電子後方散乱回折 (HR-EBSD) における参照パターン選択のための反復法". Ultramicroscopy . 248 113705. arXiv : 2206.10242 . doi : 10.1016/j.ultramic.2023.113705 . PMID 36871367 . S2CID 249889699 . この記事には、 CC BY 4.0ライセンスの下で利用可能なこの出典からのテキストが含まれています。
↑ Vespucci, S.; Winkelmann, A.; Naresh-Kumar, G.; Mingard, KP; Maneuski, D.; Edwards, PR; Day, AP; O'Shea, V.; Trager-Cowan, C. (2015). "エネルギーフィルタリングされた電子後方散乱回折パターンのデジタル直接電子イメージング" . Physical Review B . 92 (20) 205301. Bibcode : 2015PhRvB..92t5301V . doi : 10.1103/PhysRevB.92.205301 .
1 2 Randle, Valerie (2009 年 9 月)「電子後方散乱回折: 信頼性の高いデータ取得と処理のための戦略」Materials Characterization . 60 (9): 913–922 . doi : 10.1016/j.matchar.2009.05.011 .
↑ Goldstein, Joseph I.; Newbury, Dale E.; Michael, Joseph R.; Ritchie, Nicholas WM; Scott, John Henry J.; Joy, David C. (2018), "Backscattered Electrons", Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis , New York, New York: Springer New York, pp. 15–28 , doi : 10.1007/978-1-4939-6676-9_2 , ISBN 978-1-4939-6674-5
↑ Winkelmann, Aimo; Nolze, Gert (2010). "シリコンの電子後方散乱回折パターンにおける菊池帯コントラスト反転の解析". Ultramicroscopy . 110 (3): 190– 194. doi : 10.1016/j.ultramic.2009.11.008 . PMID 20005045 .
1 2 3 4 5 Schwarzer, Robert A.; Field, David P.; Adams, Brent L.; Kumar, Mukul; Schwartz, Adam J. (2009), "Present State of Electron Backscatter Diffraction and Prospective Developments", in Schwartz, Adam J.; Kumar, Mukul; Adams, Brent L.; Field, David P. (eds.), Electron Backscatter Diffraction in Materials Science , Boston, MA: Springer US, pp. 1–20 , doi : 10.1007/978-0-387-88136-2_1 , ISBN 978-0-387-88136-2、OSTI 964094
↑ Venables, JA; Harland, CJ (1973). "電子後方散乱パターン ― 走査型電子顕微鏡で結晶学的情報を得るための新しい技術". The Philosophical Magazine . 27 (5): 1193–1200 . Bibcode : 1973PMag...27.1193V . doi : 10.1080/14786437308225827 .
↑ Chen, Delphic; Kuo, Jui-Chao; Wu, Wen-Tuan (2011). "EBSD空間分解能に対する顕微鏡パラメータの影響". Ultramicroscopy . 111 (9): 1488– 1494. doi : 10.1016/j.ultramic.2011.06.007 . PMID 21930021 .
↑ Field, DP (2005). "EBSDの空間分解能の向上" . Microscopy and Microanalysis . 11. doi : 10.1017/s1431927605506445 . S2CID 138097039 .
↑ Deal, Andrew; Tao, Xiaodong; Eades, Alwyn (2005). "SEMにおけるEBSDジオメトリ：シミュレーションと表現" . Surface and Interface Analysis . 37 (11): 1017– 1020. doi : 10.1002/sia.2115 . S2CID 122757345 .
1 2 Randle, Valerie (2000)、「電子後方散乱回折の理論的枠組み」、Schwartz, Adam J.、Kumar, Mukul、Adams, Brent L. (編)、Electron Backscatter Diffraction in Materials Science、ボストン、マサチューセッツ州：Springer US、pp. 19–30、doi：10.1007/978-1-4757-3205-4_2、ISBN 978-1-4757-3205-4
↑ Goulden, J.; Trimby, P.; Bewick, A. (2018年8月1日). "CMOSベースのEBSD検出器の利点と応用" . Microscopy and Microanalysis . 24 (S1): 1128– 1129. Bibcode : 2018MiMic..24S1128G . doi : 10.1017/s1431927618006128 . S2CID 139967518 .
1 2 Eades, Alwyn; Deal, Andrew; Bhattacharyya, Abhishek; Hooghan, Tejpal (2009)、「EBSDにおけるエネルギーフィルタリング」、Schwartz, Adam J.; Kumar, Mukul; Adams, Brent L.; Field, David P. (編)、Electron Backscatter Diffraction in Materials Science、ボストン、マサチューセッツ州、pp. 53–63、doi : 10.1007/978-0-387-88136-2_4、ISBN 978-0-387-88136-2{{citation}}: CS1メンテナンス: 場所の発行元が見つかりません (リンク)
1 2 3 4 5 6 Wilkinson, Angus J.; Britton, T. Ben. (2012). "材料科学におけるひずみ、面、およびEBSD" . Materials Today . 15 (9): 366– 376. doi : 10.1016/S1369-7021(12)70163-3 .
↑ Sawatzki, Simon; Woodcock, Thomas G.; Güth, Konrad; Müller, Karl-Hartmut; Gutfleisch, Oliver (2015). "Nd–Fe–B焼結磁石におけるEBSD方位ヒストグラムとXRDロッキングカーブからの残留磁化とテクスチャ度の計算". Journal of Magnetism and Magnetic Materials . 382 : 219– 224. Bibcode : 2015JMMM..382..219S . doi : 10.1016/j.jmmm.2015.01.046 .
↑西川聡、菊池聡 (1928 年 6 月) 「雲母による陰極線の回折」Nature . 121 (3061): 1019– 1020. Bibcode : 1928Natur.121.1019N . doi : 10.1038/1211019a0 . ISSN 0028-0836 .
↑ Tixier, R.; Waché, C. (1970). "Kossel patterns". Journal of Applied Crystallography . 3 (6): 466– 485. Bibcode : 1970JApCr...3..466T . doi : 10.1107/S0021889870006726 .
↑ Maitland, Tim; Sitzman, Scott (2007)、「ナノ材料特性評価における後方散乱検出器とEBSD」、Zhou, Weilie; Wang, Zhong Lin (編)、Scanning Microscopy for Nanotechnology: Techniques and Applications、ニューヨーク、ニューヨーク：Springer、pp. 41–75、doi：10.1007/978-0-387-39620-0_2、ISBN 978-0-387-39620-0
↑ Alam, MN; Blackman, M.; Pashley, DW (1954). "高角度菊池パターン". Proceedings of the Royal Society of London. Series A. Mathematical and Physical Sciences . 221 (1145): 224– 242. Bibcode : 1954RSPSA.221..224A . doi : 10.1098/rspa.1954.0017 . S2CID 97131764 .
↑ Dingley, DJ; Wright, SI; Nowell, MM (2005 年 8 月) 「電子後方散乱回折パターンの動的背景補正」 . Microscopy and Microanalysis . 11 (S02). doi : 10.1017/S1431927605506676 . S2CID 137658758 .
1 2 3 Britton, TB; Jiang, J.; Guo, Y.; Vilalta-Clemente, A.; Wallis, D.; Hansen, LN; Winkelmann, A.; Wilkinson, AJ (2016). "チュートリアル: 結晶方位とEBSD — どちらが上ですか？" . Materials Characterization . 117 : 113–126 . doi : 10.1016/j.matchar.2016.04.008 . hdl : 10044/1/31250 . S2CID 138070296 .
1 2 3 Koko, A. Mohamed (2022).歪み集中（変形双晶、すべり帯、亀裂）のその場全視野特性評価（博士論文）。オックスフォード大学。2023年2月1日にオリジナルからアーカイブ済み。 この記事には、 CC BY 4.0ライセンスの下で利用可能なこの出典からのテキストが含まれています。
↑ Nowell, Matthew M; Witt, Ronald A; True, Brian W (2005). "EBSD サンプル調製: テクニック、ヒント、コツ" . Microscopy Today . 13 (4): 44– 49. doi : 10.1017/s1551929500053669 . S2CID 139585885 .
1 2 3 4 Koko, Abdalrhaman; Elmukashfi, Elsiddig; Becker, Thorsten H.; Karamched, Phani S.; Wilkinson, Angus J.; Marrow, T. James (2022). "高分解能電子後方散乱回折によるフェライト粒内すべり帯のひずみ場のその場特性評価" . Acta Materialia . 239 118284. Bibcode : 2022AcMat.23918284K . doi : 10.1016/j.actamat.2022.118284 . S2CID 251783802 . この記事には、 CC BY 4.0ライセンスの下で利用可能なこの出典からのテキストが含まれています。
↑ 「EBSD分析（電子後方散乱回折）のための試料調製技術」。AZoNano.com 。 2013年11月15日。2023年3月2日にオリジナルからアーカイブ済み。
↑ Williams, B. David (2009). Transmission electron microscopy: a textbook for materials science . Plenum Press. p. 11. ISBN 978-0-387-76501-3OCLC 633626308
↑ Britton, TB; Jiang, J.; Clough, R.; Tarleton, E.; Kirkland, AI; Wilkinson, AJ (2013). "電子後方散乱回折を用いたひずみ測定の精度評価 – パート2：実験的実証". Ultramicroscopy . 135 : 136– 141. doi : 10.1016/j.ultramic.2013.08.006 . PMID 24034981 .
↑ Jiang, J.; Britton, TB; Wilkinson, AJ (2013). "銅の引張変形中の転位密度分布の進化" . Acta Materialia . 61 (19): 7227– 7239. Bibcode : 2013AcMat..61.7227J . doi : 10.1016/j.actamat.2013.08.027 .
↑ Abdolvand, Hamidreza; Wilkinson, Angus J. (2016). "双晶形成中の再配向とせん断伝達の影響について：高解像度電子後方散乱回折実験と結晶塑性有限要素モデルの比較" . International Journal of Plasticity . 84 : 160– 182. doi : 10.1016/j.ijplas.2016.05.006 . S2CID 139049848 .
↑ Koko, Abdalrhaman; Becker, Thorsten H.; Elmukashfi, Elsiddig; Pugno, Nicola M.; Wilkinson, Angus J.; Marrow, T. James (2023). "HR-EBSD分析によるミクロンスケールでのin situ安定亀裂成長". Journal of the Mechanics and Physics of Solids . 172 105173. arXiv : 2206.10243 . Bibcode : 2023JMPSo.17205173K . doi : 10.1016/j.jmps.2022.105173 . S2CID 249889649 .
1 2 Wilkinson, Angus J.; Randman, David (2010). "電子後方散乱回折を用いたナノインデント近傍の弾性ひずみ場と幾何学的に必要な転位分布の決定" (PDF) . Philosophical Magazine . 90 (9): 1159– 1177. Bibcode : 2010PMag...90.1159W . doi : 10.1080/14786430903304145 . S2CID 121903030 . 2023年3月3日にオリジナルからアーカイブ(PDF) 。 2023年3月20日に取得。
↑ Griffiths, AJV; Walther, T (2010). "走査透過型電子顕微鏡における電子ビーム照射下での炭素汚染の定量化とプラズマ洗浄によるその抑制" . Journal of Physics: Conference Series . 241 (1) 012017. Bibcode : 2010JPhCS.241a2017G . doi : 10.1088/1742-6596/241/1/012017 . S2CID 250689401 .
↑ Koko, Abdalrhaman; Elmukashfi, Elsiddig; Dragnevski, Kalin; Wilkinson, Angus J.; Marrow, Thomas James (2021). "電子後方散乱回折を用いたフェライト変形双晶の弾性ひずみ場のJ積分解析" . Acta Materialia . 218 117203. Bibcode : 2021AcMat.21817203K . doi : 10.1016/j.actamat.2021.117203 . 2022年7月5日のオリジナルからアーカイブ済み。 2023年3月20日取得。
↑ Bachmann, F.; Hielscher, Ralf; Schaeben, Helmut (2010). "Texture Analysis with MTEX – Free and Open Source Software Toolbox". Solid State Phenomena . 160 : 63– 68. doi : 10.4028/www.scientific.net/SSP.160.63 . S2CID 136017346 .
↑ Powell, CJ; Jablonski, A. (2011). "オージェ電子分光法およびX線光電子分光法の表面感度" . Journal of Surface Analysis . 17 (3): 170– 176. doi : 10.1384/jsa.17.170 .
↑ Piňos, J.; Mikmeková, Š.; Frank, L. (2017). "後方散乱電子イメージングの情報深度について". Journal of Microscopy . 266 (3): 335– 342. doi : 10.1111/jmi.12542 . PMID 28248420 . S2CID 35266526 .
1 2 3 Zaefferer, S. (2007). 「後方散乱菊池パターンの形成メカニズム、空間分解能、強度について」。Ultramicroscopy . 107 ( 2): 254– 266. doi : 10.1016/j.ultramic.2006.08.007 . PMID 17055170 .
↑ Seah, MP (2001). "ISO/TC 201規格の概要: VIII、ISO 18115:2001—表面化学分析—用語集". Surface and Interface Analysis . 31 (11): 1048– 1049. doi : 10.1002/sia.1139 . S2CID 97982609 .
↑ Dingley, D. (2004). "電子後方散乱回折および方位イメージング顕微鏡法の開発における進歩的ステップ: EBSD および OIM". Journal of Microscopy . 213 (3): 214– 224. doi : 10.1111/j.0022-2720.2004.01321.x . PMID 15009688 . S2CID 41385346 .
1 2 Isabell, Thomas C.; Dravid, Vinayak P. (1997 年 6 月 1 日). "冷陰極電界放出型走査電子顕微鏡における電子後方散乱回折の分解能と感度". Ultramicroscopy . Frontiers in Electron Microscopy in Materials Science. 67 (1): 59– 68. doi : 10.1016/S0304-3991(97)00003-X .
↑ Humphreys, F. J (2004). "電子後方散乱回折 (EBSD) による微細構造の特性評価". Scripta Materialia . Viewpoint set no. 35. Metals and alloys with a structural scale from the micrometer to the atomic dimensions. 51 (8): 771– 776. doi : 10.1016/j.scriptamat.2004.05.016 .
↑ Goldstein, Joseph I.; Newbury, Dale E.; Michael, Joseph R.; Ritchie, Nicholas WM; Scott, John Henry J.; Joy, David C. (2018), "The Visibility of Features in SEM Images", in Goldstein, Joseph I.; Newbury, Dale E.; Michael, Joseph R.; Ritchie, Nicholas WM (eds.), Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis , New York, New York: Springer, pp. 123– 131, doi : 10.1007/978-1-4939-6676-9_8 , ISBN 978-1-4939-6676-9
1 2 Zhu, Chaoyi; De Graef, Marc (2020). "格子欠陥を含む相互作用体積のEBSDパターンシミュレーション" . Ultramicroscopy . 218 113088. doi : 10.1016/j.ultramic.2020.113088 . PMID 32784084 . S2CID 221123906 .
↑ Ren, SX; Kenik, EA; Alexander, KB (1997). "二相材料への応用を伴う電子後方散乱回折（EBSD）の空間分解能のモンテカルロシミュレーション" . Microscopy and Microanalysis . 3 (S2): 575– 576. Bibcode : 1997MiMic...3S.575R . doi : 10.1017/S1431927600009764 . S2CID 137029133 . 2023年3月25日のオリジナルからアーカイブ済み。 2023年3月20日取得。
↑ Brodusch, Nicolas; Demers, Hendrix; Gauvin, Raynald (2018). "走査型電子顕微鏡における市販の電子後方散乱回折（EBSD）カメラを用いたイメージング：レビュー" . Journal of Imaging . 4 (7): 88. doi : 10.3390/jimaging4070088 .
↑田中道吉 (1988).収束ビーム電子回折(PDF) . Jeol. OCLC 312738225 . 2023年3月20日のオリジナルからアーカイブ(PDF) . 2023年3月20日取得.
1 2 Winkelmann, Aimo (2009)、「電子後方散乱回折パターンの動的シミュレーション」、Schwartz, Adam J.、Kumar, Mukul、Adams, Brent L.、Field, David P. (編)、Electron Backscatter Diffraction in Materials Science、ボストン、マサチューセッツ州：Springer US、pp. 21–33、doi：10.1007/978-0-387-88136-2_2、ISBN 978-0-387-88136-2S2CID 122806598
1 2 El-Dasher, Bassem; Deal, Andrew (2009)、「電子後方散乱回折の相同定への応用」、Schwartz, Adam J.; Kumar, Mukul; Adams, Brent L.; Field, David P. (編)、Electron Backscatter Diffraction in Materials Science、ボストン、マサチューセッツ州：Springer US、pp. 81–95、doi：10.1007/978-0-387-88136-2_6、ISBN 978-0-387-88136-22023年3月25日にオリジナルからアーカイブされ、2023年3月20日に取得されました。
↑ 「新しい技術により金属の結晶構造の詳細な画像が得られる」。MITニュース｜マサチューセッツ工科大学。2016年7月6日。2023年3月2日にオリジナルからアーカイブ済み。
1 2 3材料科学における電子後方散乱回折（第2版）。Springer Science+Business Media。2009年。p . 1。ISBN 978-0-387-88135-5。
↑ Wright, Stuart I.; Zhao, Jun-Wu; Adams, Brent L. (1991). "電子後方散乱菊池回折パターンからの格子方位の自動決定" .テクスチャ、応力、微細構造. 13 ( 2– 3): 123– 131. doi : 10.1155/TSM.13.123 .
↑ Wright, Stuart I.; Adams, Brent L.; Kunze, Karsten (1993). "多結晶アルミニウムへの新しい自動格子方位測定技術の適用". Materials Science and Engineering: A . 160 (2): 229– 240. doi : 10.1016/0921-5093(93)90452-K .
↑ Lassen, Niels Chr. Krieger (1992). "EBSPからの自動結晶方位決定". Micron and Microscopica Acta . 23 (1): 191– 192. doi : 10.1016/0739-6260(92)90133-X .
↑ Krieger Lassen, NC; Juul Jensen, Dorte; Condradsen, K. (1994). "電子後方散乱パターンを用いた部分再結晶試料中の変形および再結晶領域の自動認識" . Materials Science Forum . 157– 162: 149– 158. doi : 10.4028/www.scientific.net/msf.157-162.149 . S2CID 137129038 .
↑ Wright, Stuart I.; Nowell, Matthew M.; Lindeman, Scott P.; Camus, Patrick P.; De Graef, Marc; Jackson, Michael A. (2015). "新しいEBSD後処理方法の紹介と比較" . Ultramicroscopy . 159 : 81– 94. doi : 10.1016/j.ultramic.2015.08.001 . PMID 26342553 .
↑ Randle, Valerie (2009). "電子後方散乱回折：信頼性の高いデータ取得と処理のための戦略". Materials Characterization . 60 (9): 913–922 . doi : 10.1016/j.matchar.2009.05.011 .
1 2 3 Lassen, Niels Christian Krieger (1994).電子後方散乱パターンからの結晶方位の自動決定(PDF) (博士論文). デンマーク工科大学。2022年3月8日にオリジナルからアーカイブ(PDF) 。
↑ Sitzman, Scott; Schmidt, Niels-Henrik; Palomares-Garcia, Alberto; Munoz-Moreno, Rocio; Goulden, Jenny (2015). "高精度バンド検出によるγ-TiAlのEBSD分析における擬似対称ミスインデックスの対処" . Microscopy and Microanalysis . 21 (S3): 2037– 2038. Bibcode : 2015MiMic..21S2037S . doi : 10.1017/s143192761501096x . S2CID 51964340 .
↑ Lenthe, W.; Singh, S.; De Graef, M. (2019). "電子後方散乱回折パターンのインデックス付けにおける潜在的な擬似対称性の問題の予測" . Journal of Applied Crystallography . 52 (5): 1157– 1168. Bibcode : 2019JApCr..52.1157L . doi : 10.1107/S1600576719011233 . OSTI 1575873 . S2CID 204108200 .
↑ Dingley, David J.; Wright, SI (2009)、「EBSDパターンにおける対称性判定による相同定」、Schwartz, Adam J.; Kumar, Mukul; Adams, Brent L.; Field, David P. (編)、『材料科学における電子後方散乱回折』、ボストン、マサチューセッツ州：Springer US、pp. 97–107、doi：10.1007/978-0-387-88136-2_7、ISBN 978-0-387-88136-2
1 2 Winkelmann, Aimo; Trager-Cowan, Carol; Sweeney, Francis; Day, Austin P.; Parbrook, Peter (2007). "電子後方散乱回折パターンの多ビーム動的シミュレーション". Ultramicroscopy . 107 (4): 414– 421. doi : 10.1016/j.ultramic.2006.10.006 . PMID 17126489 .
↑ Britton, TB; Tong, VS; Hickey, J.; Foden, A.; Wilkinson, AJ (2018). "AstroEBSD: 天文学的アプローチから生まれた手法でパターンインデックス付けの新しい空間を探求する" . Journal of Applied Crystallography . 51 (6): 1525– 1534. arXiv : 1804.02602 . Bibcode : 2018JApCr..51.1525B . doi : 10.1107/S1600576718010373 . hdl : 10044/1/81541 . S2CID 51687153 .
↑ Britton, Thomas Benjamin; Tong, Vivian S.; Hickey, Jim; Foden, Alex; Wilkinson, Angus J. (2018). "AstroEBSD: 天文学的アプローチから生まれた手法でパターンインデックス付けの新しい空間を探求". Journal of Applied Crystallography . 51 (6): 1525– 1534. arXiv : 1804.02602 . Bibcode : 2018JApCr..51.1525B . doi : 10.1107/S1600576718010373 . S2CID 51687153 .
↑ Pang, Edward L.; Larsen, Peter M.; Schuh, Christopher A. (2020). "EBSDパターン中心の正確な決定のためのグローバル最適化". Ultramicroscopy . 209 112876. arXiv : 1908.10692 . doi : 10.1016/j.ultramic.2019.112876 . PMID 31707232 . S2CID 201651309 .
↑田中智人、アンガス・J・ウィルキンソン（2019年7月1日）「電子後方散乱回折パターンのパターンマッチング解析によるパターン中心、結晶方位、絶対弾性ひずみの決定―精度と精密さの評価」Ultramicroscopy.202 : 87–99.arXiv : 1904.06891.doi : 10.1016 / j.ultramic.2019.04.006.PMID 31005023.S2CID 119294636 .
↑ Foden, A.; Collins, DM; Wilkinson, AJ; Britton, TB (2019). "Indexing electron backscatter diffraction patterns with a refined template matching approach". Ultramicroscopy . 207 112845. arXiv : 1807.11313 . doi : 10.1016/j.ultramic.2019.112845 . PMID 31586829 . S2CID 203307560 .
↑ Jackson, MA; Pascal, E.; De Graef, M. (2019). "電子後方散乱回折パターンの辞書インデックス作成：実践チュートリアル". Integrating Materials and Manufacturing Innovation . 8 (2): 226– 246. doi : 10.1007/s40192-019-00137-4 . S2CID 182073071 .
↑ Dingley, DJ; Randle, V. (1992). "電子後方散乱回折による微細構造の決定". Journal of Materials Science . 27 (17): 4545– 4566. Bibcode : 1992JMatS..27.4545D . doi : 10.1007/BF01165988 . S2CID 137281137 .
↑ Adams, Brent L. (1997). "方向イメージング顕微鏡：新たな応用と将来の応用". Ultramicroscopy . Frontiers in Electron Microscopy in Materials Science. 67 (1): 11– 17. doi : 10.1016/S0304-3991(96)00103-9 .
↑ Hielscher, Ralf; Bartel, Felix; Britton, Thomas Benjamin (2019). "水晶玉を凝視する: 球面上の電子後方散乱回折パターン解析と相互相関". Ultramicroscopy . 207 112836. arXiv : 1810.03211 . doi : 10.1016/j.ultramic.2019.112836 . PMID 31539865 . S2CID 202711517 .
↑ Hielscher, R.; Silbermann, CB; Schmidl, E.; Ihlemann, Joern (2019). "結晶方位マップのノイズ除去". Journal of Applied Crystallography . 52 (5): 984– 996. Bibcode : 2019JApCr..52..984H . doi : 10.1107/s1600576719009075 . S2CID 202068671 .
1 2 Adams, Brent L.; Wright, Stuart I.; Kunze, Karsten (1993). "Orientation imaging: The emergence of a new microscopy". Metallurgical Transactions A . 24 (4): 819– 831. Bibcode : 1993MTA....24..819A . doi : 10.1007/BF02656503 . S2CID 137379846 .
↑ Randle, Valerie; Engler, Olaf (2000). Introduction to texture analysis: macrotexture, microtexture and orientation mapping (Digital printing 2003 ed.). Boca Raton: CRC Press . ISBN 978-90-5699-224-8。
1 2 Prior (1999). 「走査型電子顕微鏡における電子後方散乱回折を用いた、小さな角度ミスオリエンテーションの場合のミスオリエンテーション軸の決定における問題点」Journal of Microscopy . 195 (3): 217– 225. doi : 10.1046/j.1365-2818.1999.00572.x . PMID 10460687 . S2CID 10144078 .
↑ Humphreys, FJ (2001). "電子後方散乱回折による結晶粒および亜結晶粒の特性評価に関するレビュー". Journal of Materials Science . 36 (16): 3833–3854 . doi : 10.1023/A:1017973432592 . S2CID 135659350 .
1 2 Wilkinson, Angus J.; Hirsch, Peter B. (1997). "バルク材料の走査型電子顕微鏡における電子回折に基づく技術". Micron . 28 (4): 279–308 . arXiv : 1904.05550 . doi : 10.1016/S0968-4328(97)00032-2 . S2CID 118944816 .
↑ Shi, Qiwei; Roux, Stéphane; Latourte, Félix; Hild, François (2019). "電子回折パターンにおける統合画像相関による弾性ひずみの推定" . Ultramicroscopy . 199 : 16– 33. doi : 10.1016/j.ultramic.2019.02.001 . PMID 30738984 . S2CID 73418370 .
↑ Lassen, NC Krieger; Jensen, Dorte Juul; Condradsen, K. (1994). "電子後方散乱パターンを用いた部分再結晶試料中の変形および再結晶領域の自動認識" . Materials Science Forum . 157– 162: 149– 158. doi : 10.4028/www.scientific.net/MSF.157-162.149 . S2CID 137129038 . 2023年3月2日にオリジナルからアーカイブ済み. 2023年3月2日に取得.
↑ Wilkinson, AJ (1997年1月1日). 「電子後方散乱回折と電子チャネリングパターンから弾性ひずみを決定する方法」. Materials Science and Technology . 13 (1): 79–84 . Bibcode : 1997MatST..13...79W . doi : 10.1179/mst.1997.13.1.79 .
↑ Troost, KZ; van der Sluis, P.; Gravesteijn, DJ (1993). "走査型電子顕微鏡における後方散乱菊池回折による微小スケール弾性ひずみの決定". Applied Physics Letters . 62 (10): 1110– 1112. Bibcode : 1993ApPhL..62.1110T . doi : 10.1063/1.108758 .
↑ Wilkinson, AJ; Dingley, DJ (1991). "電子後方散乱パターンを用いた定量的変形研究". Acta Metallurgica et Materialia . 39 (12): 3047– 3055. doi : 10.1016/0956-7151(91)90037-2 .
↑ Wilkinson, Angus J. (1996). "電子後方散乱回折を用いた弾性ひずみと小さな格子回転の測定". Ultramicroscopy . 62 (4): 237– 247. doi : 10.1016/0304-3991(95)00152-2 . PMID 22666906 .
↑ Wilkinson, AJ; Meaden, G.; Dingley, DJ (2006年11月1日) 「電子後方散乱回折を用いた歪みと回転の高解像度マッピング」 . Materials Science and Technology . 22 (11): 1271– 1278. Bibcode : 2006MatST..22.1271W . doi : 10.1179/174328406X130966 . S2CID 135875163. 2023年3月25日のオリジナルからアーカイブ済み。2023年3月20日取得。
1 2 3 4 5 6 7 8 Wilkinson, Angus J.; Meaden, Graham; Dingley, David J. (2006). "電子後方散乱回折パターンからの高分解能弾性ひずみ測定：新たな感度レベル". Ultramicroscopy . 106 (4): 307– 313. doi : 10.1016/j.ultramic.2005.10.001 . PMID 16324788 .
↑ Barabash, Rozaliya; Ice, Gene (2013). Strain and Dislocation Gradients from Diffraction . doi : 10.1142/p897 . ISBN 978-1-908979-62-9。
1 2 3 4 Britton, TB; Wilkinson, AJ (2012). "高分解能電子後方散乱回折測定による、より大きな格子回転が存在する場合の弾性ひずみ変動の測定". Ultramicroscopy . 114 : 82– 95. doi : 10.1016/j.ultramic.2012.01.004 . PMID 22366635 .
1 2 3 Wilkinson, Angus J.; Dingley, David J.; Meaden, Graham (2009)、「電子後方散乱回折を用いた歪みマッピング」、Schwartz, Adam J.; Kumar, Mukul; Adams, Brent L.; Field, David P. (編)、Electron Backscatter Diffraction in Materials Science、ボストン、マサチューセッツ州：Springer US、pp. 231–249、doi：10.1007/978-0-387-88136-2_17、ISBN 978-0-387-88136-2
1 2 Hardin, TJ; Ruggles, TJ; Koch, DP; Niezgoda, SR; Fullwood, DT; Homer, ER (2015). "高解像度EBSD測定におけるトラクションフリー仮定の分析: HR-EBSDトラクションフリー仮定". Journal of Microscopy . 260 (1): 73– 85. doi : 10.1111/jmi.12268 . PMID 26138919 . S2CID 25692536 .
↑ Pantleon, W. (2008年6月1日). 「従来の電子後方散乱回折による幾何学的に必要な転位含有量の解明」. Scripta Materialia . 58 (11): 994–997 . doi : 10.1016/j.scriptamat.2008.01.050 .
↑ Brewer, Luke N.; Field, David P.; Merriman, Colin C. (2009), "EBSDを用いた塑性変形のマッピングと評価", Schwartz, Adam J.; Kumar, Mukul; Adams, Brent L.; Field, David P. (編), Electron Backscatter Diffraction in Materials Science , Boston, MA: Springer US, pp. 251–262 , doi : 10.1007/978-0-387-88136-2_18 , ISBN 978-0-387-88136-2
1 2 Plancher, E.; Petit, J.; Maurice, C.; Favier, V.; Saintoyant, L.; Loisnard, D.; Rupin, N.; Marijon, J.-B.; Ulrich, O.; Bornert, M.; Micha, J.-S.; Robach, O.; Castelnau, O. (2016 年 3 月 1 日). 「Laue マイクロ回折と高解像度 EBSD による弾性ひずみ場測定の精度について: 相互検証実験」(PDF) . Experimental Mechanics . 56 (3): 483– 492. doi : 10.1007/s11340-015-0114-1 . hdl : 10985/15090 . S2CID 255157494 . 2020年3月13日にオリジナルからアーカイブ（PDF）。2023年3月20日に取得。
↑ Maurice, Claire; Driver, Julian H.; Fortunier, Roland (2012). "高角度分解能EBSDの配向勾配依存性の解決について". Ultramicroscopy . 113 : 171– 181. doi : 10.1016/j.ultramic.2011.10.013 .
1 2 Koko, Abdalrhaman; Marrow, James; Elmukashfi, Elsiddig (2026). "ひずみ場からの変位の計算: 導出、検証、および応用". Acta Materialia . 304 121818. arXiv : 2107.10330 . doi : 10.1016/j.actamat.2025.121818 . この記事には、 CC BY 4.0ライセンスの下で利用可能なこの出典からのテキストが含まれています。
↑ Ruggles, TJ; Bomarito, GF; Qiu, RL; Hochhalter, JD (2018年12月1日). 「逆組成ガウス・ニュートン法に基づくデジタル画像相関による高角度分解能EBSD性能の新たなレベル」 . Ultramicroscopy . 195 : 85–92 . Bibcode : 2018Ultmi.195...85R . doi : 10.1016/j.ultramic.2018.08.020 . PMC 7780544. PMID 30216795 .
↑ Vermeij, T.; Hoefnagels, JPM (2018). "A consistent full-field integrated DIC framework for HR-EBSD" (PDF) . Ultramicroscopy . 191 : 44– 50. doi : 10.1016/j.ultramic.2018.05.001 . PMID 29772417 . S2CID 21685690 . 2021年7月16日にオリジナルからアーカイブ(PDF) 。 2023年3月20日に取得。
↑エルヌール、クレマン。ボーシール、ブノワ。ファンデンベルガー、ジャン＝ジャック。トーピン、ヴィンセント。ブジー、エマニュエル（2021）。「グローバル HR-EBSD 技術のための光学歪みの統合補正」。超顕微鏡検査。221 113158.土井: 10.1016/j.ultramic.2020.113158。PMID 33338818。S2CID 228997006。
↑ Shi, Qiwei; Loisnard, Dominique; Dan, Chengyi; Zhang, Fengguo; Zhong, Hongru; Li, Han; Li, Yuda; Chen, Zhe; Wang, Haowei; Roux, Stéphane (2021). "統合デジタル画像相関法を用いたEBSDの結晶方位とパターン中心の較正" (PDF) . Materials Characterization . 178 111206. doi : 10.1016/j.matchar.2021.111206 . S2CID 236241507 . 2023年3月25日のオリジナルからアーカイブ(PDF) . 2023年3月20日取得.
1 2 3 4 Maurice, Claire; Fortunier, Roland; Driver, Julian; Day, Austin; Mingard, Ken; Meaden, Graham (2010). 「Josh Kacher、Colin Landon、Brent L. Adams、David Fullwood による論文「電子後方散乱回折解析のためのブラッグの法則回折シミュレーション」に対するコメント」。Ultramicroscopy . 110 ( 7): 758– 759. doi : 10.1016/j.ultramic.2010.02.003 . PMID 20223590 .
1 2 Wright, Stuart I.; Nowell, Matthew M. (2006). "EBSD Image Quality Mapping" . Microscopy and Microanalysis . 12 (1): 72– 84. Bibcode : 2006MiMic..12...72W . doi : 10.1017/s1431927606060090 . PMID 17481343 . S2CID 35055001 .
↑ Jiang, Jun; Zhang, Tiantian; Dunne, Fionn PE; Britton, T. Ben (2016). "Deformation compatibility in a single crystalline Ni superalloy" . Proceedings of the Royal Society A: Mathematical, Physical and Engineering Sciences . 472 (2185) 20150690. Bibcode : 2016RSPSA.47250690J . doi : 10.1098/rspa.2015.0690 . PMC 4786046. PMID 26997901 .
1 2 3 4三上義樹、小田和夫、鎌谷正之、望月正人 (2015)「EBSDを用いた微視的応力測定における基準点選択の影響」Materials Science and Engineering: A. 647 : 256–264 . doi : 10.1016 /j.msea.2015.09.004 .
↑ Koko, A.; Earp, P.; Wigger, T.; Tong, J.; Marrow, TJ (2020). "J-integral analysis: An EDXD and DIC comparative study for a fatigue crack" . International Journal of Fatigue . 134 105474. doi : 10.1016/j.ijfatigue.2020.105474 . S2CID 214391445. 2021年1月27日のオリジナルからアーカイブ。2023年3月20日取得。
↑ Kacher, Josh; Landon, Colin; Adams, Brent L.; Fullwood, David (2009年8月1日). 「電子後方散乱回折解析のためのブラッグの法則回折シミュレーション」。Ultramicroscopy . 109 ( 9): 1148– 1156. doi : 10.1016/j.ultramic.2009.04.007 . PMID 19520512 .
↑ Winkelmann, A; Nolze, G; Vos, M; Salvat-Pujol, F; Werner, WSM (2016). "EBSD の物理ベースシミュレーションモデル: 進歩と課題". IOP Conference Series: Materials Science and Engineering . 109 (1) 012018. arXiv : 1505.07982 . Bibcode : 2016MS & E..109a2018W . doi : 10.1088/1757-899x/109/1/012018 . S2CID 38586851 .
↑ Alkorta, Jon; Marteleur, Matthieu; Jacques, Pascal J. (2017). "画像勾配ベースのDIC技術を用いた改良型シミュレーションベースHR-EBSD手順". Ultramicroscopy . 182 : 17–27 . doi : 10.1016/j.ultramic.2017.06.015 . hdl : 2078.1/186551 . PMID 28644960 .
↑ Winkelmann, Aimo; Nolze, Gert; Cios, Grzegorz; Tokarski, Tomasz; Bała, Piotr; Hourahine, Ben; Trager-Cowan, Carol (2021年11月)。「後方散乱および透過電子の菊池パターンシミュレーション」(PDF) . Journal of Microscopy . 284 (2): 157– 184. doi : 10.1111/jmi.13051 . PMID 34275156 . S2CID 236091618 . 2023年3月25日のオリジナルからアーカイブ(PDF) . 2023年3月20日取得.
↑ Winkelmann, A. (2010). "電子後方散乱回折のための深さ分解菊池パターンシミュレーションの原理: EBSD 用菊池パターンシミュレーション". Journal of Microscopy . 239 (1): 32– 45. doi : 10.1111/j.1365-2818.2009.03353.x . PMID 20579267 . S2CID 23590722 .
↑ Vermeij, Tijmen; De Graef, Marc; Hoefnagels, Johan (2019年3月15日). 「電子後方散乱回折を用いた正確な絶対結晶粒間応力と方位相関の可能性の実証」. Scripta Materialia . 162 : 266–271 . arXiv : 1807.03908 . doi : 10.1016/j.scriptamat.2018.11.030 . S2CID 54575778 .
1 2田中智人、アンガス・J・ウィルキンソン (2019年7月1日)。「パターン中心、結晶方位、絶対弾性ひずみの決定のための電子後方散乱回折パターンのパターンマッチング解析-精度と精密さの評価」。Ultramicroscopy。202 : 87–99。arXiv : 1904.06891。doi : 10.1016 / j.ultramic.2019.04.006。PMID 31005023。S2CID 119294636。
↑ Kacher, Josh; Basinger, Jay; Adams, Brent L.; Fullwood, David T. (2010年6月1日). 「Maurice 他による「電子後方散乱回折解析のためのブラッグの法則回折シミュレーション」へのコメントに対する返答」「. Ultramicroscopy . 110 (7): 760– 762. doi : 10.1016/j.ultramic.2010.02.004 . PMID 20189305 .
↑ Britton, TB; Maurice, C.; Fortunier, R.; Driver, JH; Day, AP; Meaden, G.; Dingley, DJ; Mingard, K.; Wilkinson, AJ (2010). "シミュレーションパターンを使用した場合の高解像度電子後方散乱回折の精度に影響を与える要因". Ultramicroscopy . 110 (12): 1443– 1453. doi : 10.1016/j.ultramic.2010.08.001 . PMID 20888125 .
↑ Alkorta, Jon (2013年8月1日). 「シミュレーションに基づく高解像度EBSDの限界」。Ultramicroscopy . 131 : 33–38 . doi : 10.1016/j.ultramic.2013.03.020 . PMID 23676453 .
↑ Jackson, Brian E.; Christensen, Jordan J.; Singh, Saransh; De Graef, Marc; Fullwood, David T.; Homer, Eric R.; Wagoner, Robert H. (2016 年 8 月). "Performance of Dynamically Simulated Reference Patterns for Cross-Correlation Electron Backscatter Diffraction". Microscopy and Microanalysis . 22 (4): 789– 802. Bibcode : 2016MiMic..22..789J . doi : 10.1017/S143192761601148X . PMID 27509538 . S2CID 24482631 .
↑ Zhang, Tiantian; Collins, David M.; Dunne, Fionn PE; Shollock, Barbara A. (2014). "熱負荷下における全視野多結晶Ni超合金の歪みと回転の結晶塑性と高分解能電子後方散乱回折分析". Acta Materialia . 80 : 25– 38. doi : 10.1016/j.actamat.2014.07.036 . hdl : 10044/1/25979 .
↑ Guo, Yi; Zong, Cui; Britton, TB (2021). "引張変形中のボイド周辺の局所塑性発達". Materials Science and Engineering: A . 814 141227. arXiv : 2007.11890 . doi : 10.1016/j.msea.2021.141227 . S2CID 234850241 .
↑ Jiang, J.; Britton, TB; Wilkinson, AJ (2013年11月1日). "銅の引張変形中の転位密度分布の進化" . Acta Materialia . 61 (19): 7227– 7239. Bibcode : 2013AcMat..61.7227J . doi : 10.1016/j.actamat.2013.08.027 .
↑ Britton, TB; Hickey, JLR (2018). "高角度分解能電子後方散乱回折 (HR-EBSD) による変形の理解". IOP Conference Series: Materials Science and Engineering . 304 (1) 012003. arXiv : 1710.00728 . Bibcode : 2018MS & E..304a2003B . doi : 10.1088/1757-899x/304/1/012003 . S2CID 54529072 .
↑シルビア、カラチスカ。ダンカジ、ゾルタン。ジラヒ、ジュラ。メーダー、ザビエル。ミヒラー、ヨハン。イスパノヴィティ、ペテル・ドゥサン;イシュトヴァーンのグロマ（2020）。「3次元HR-EBSDによる圧縮Cuマイクロピラー中の幾何学的に必要な転位構造の調査」。材料科学と工学: A。770 138499。arXiv : 1906.06980。土井：10.1016/j.msea.2019.138499。S2CID 189928469。2020年7月17日のオリジナルからアーカイブ。2023 年3 月 20 日に取得。
↑ Wallis, David; Hansen, Lars N.; Britton, T. Ben; Wilkinson, Angus J. (2017). "Dislocation Interactions in Olivine Revealed by HR-EBSD: Dislocation Interactions in Olivine" . Journal of Geophysical Research: Solid Earth . 122 (10): 7659– 7678. doi : 10.1002/2017JB014513 . hdl : 10044/1/50615 . S2CID 134570945 .
↑ Moussa, C; Bernacki, M; Besnard, R; Bozzolo, N (2015). "純タンタルの変形および回復サブ構造の定量的EBSD解析について" . IOP Conference Series: Materials Science and Engineering . 89 (1) 012038. Bibcode : 2015MS & E...89a2038M . doi : 10.1088/1757-899x/89/1/012038 . S2CID 53137730 .
↑ Wright, Stuart I.; Matthew, M. Nowell; David, P. Field. (2011). "電子後方散乱回折を用いたひずみ解析のレビュー". Microscopy and Microanalysis . 17. 17 (3): 316– 329. Bibcode : 2011MiMic..17..316W . doi : 10.1017/S1431927611000055 . PMID 21418731 . S2CID 26116915 .
↑ Tao, Xiaodong; Eades, Alwyn (2002). "EBSDにおける画像品質（IQ）マッピングの代替方法" . Microscopy and Microanalysis . 8 (S02): 692– 693. Bibcode : 2002MiMic...8S.692T . doi : 10.1017/s1431927602106465 . S2CID 138999871 .
↑ McLean, Mark J.; Osborn, William A. (2018). "EBSDを用いた微小力学試験中のその場弾性ひずみマッピング". Ultramicroscopy . 185 : 21–26 . doi : 10.1016/j.ultramic.2017.11.007 . PMID 29161620 .
↑ Yu, Hongbing; Liu, Junliang; Karamched, Phani; Wilkinson, Angus J.; Hofmann, Felix (2019). "高角度分解能透過菊池回折法 (HR-TKD) による単一転位の全格子歪みテンソルのマッピング" . Scripta Materialia . 164 : 36– 41. arXiv : 1808.10055 . doi : 10.1016/j.scriptamat.2018.12.039 . S2CID 119075799 .
↑ Prior, David J.; Mariani, Elisabetta; Wheeler, John (2009)、「地球科学におけるEBSD：応用、一般的な実践、および課題」、Electron Backscatter Diffraction in Materials Science、ボストン、マサチューセッツ州：Springer US、pp. 345–360、doi：10.1007/978-0-387-88136-2_26、ISBN 978-0-387-88135-5
↑ Choi, Seung; Han, Seokyoung; Lee, Yuong-Nam (2019). Rahman, Imran (編). "マニラプトル類の卵殻の電子後方散乱回折 (EBSD) 分析と微細構造およびタフォノミー解釈への重要な示唆". Palaeontology . 62 (5): 777– 803. Bibcode : 2019Palgy..62..777C . doi : 10.1111/pala.12427 . S2CID 182770470 .
↑ Wolfe, Kennedy; Smith, Abigail M.; Trimby, Patrick; Byrne, Maria (2013年8月1日). 「ペーパーノーチラス（Argonauta nodosa）殻の微細構造と海洋酸性化の影響に対処するための電子後方散乱回折（EBSD）の新規応用」Marine Biology . 160 (8): 2271– 2278. Bibcode : 2013MarBi.160.2271W . doi : 10.1007/s00227-012-2032-4 . S2CID 253745873 .
↑ Piazolo, S.; Jessell, MW; Prior, DJ; Bons, PD (2004). "実験的in-situ EBSD観察と数値シミュレーションの統合：微細構造プロセス解析の新しい手法". Journal of Microscopy . 213 (3): 273– 284. doi : 10.1111/j.0022-2720.2004.01304.x . PMID 15009695 . S2CID 24037204 .
↑ Koblischka-Veneva, Anjela; Koblischka, Michael R.; Schmauch, Jörg; Hannig, Matthias (2018). "ヒトの歯のエナメル質：TEMとt-EBSDで調査された天然ナノテクノロジーの傑作". Nano Research . 11 (7): 3911– 3921. doi : 10.1007/s12274-018-1968-1 . S2CID 139757769 .
1 2 3 Wright, Stuart I.; Nowell, Matthew M.; de Kloe, René; Camus, Patrick; Rampton, Travis (2015). "EBSD検出器による電子イメージング" . Ultramicroscopy . 148 : 132– 145. doi : 10.1016/j.ultramic.2014.10.002 . PMID 25461590 .
1 2 Schwarzer, Robert A; Hjelen, Jarle (2015年1月9日). "EBSD検出器による後方散乱電子イメージング" . Microscopy Today . 23 (1): 12– 17. doi : 10.1017/S1551929514001333 . S2CID 138740715 .
1 2 Tong , Vivian S .; Knowles, Alexander J.; Dye, David; Britton, T. Ben (2019年1月1日)。「高速電子後方散乱回折マッピング：数字で描く」。Materials Characterization。147 ： 271–279。arXiv ： 1809.07283。doi ：10.1016 / j.matchar.2018.11.014。S2CID 119328762。
↑ 「電子後方散乱回折（EBSD）とエネルギー分散型X線分光法（EDS）を用いた類似結晶構造を持つ相の識別」。AZoNano.com 。 2015年。2023年3月2日にオリジナルからアーカイブ済み。
↑ Nolze, G.; Geist, V.; Neumann, R. Saliwan; Buchheim, M. (2005). "ワトソン鉄隕石を例としたEBSDおよびEDSによる方位関係の調査" . Crystal Research and Technology . 40 (8): 791– 804. Bibcode : 2005CryRT..40..791N . doi : 10.1002/crat.200410434 . S2CID 96785527 .
↑ 「材料の破損を引き起こす微細な欠陥の解明」。Physics World。2022年11月29日。2023年3月3日にオリジナルからアーカイブ済み。
↑ Kell, J.; Tyrer, JR; Higginson, RL; Thomson, RC (2005). "EBSDおよびEDSを用いた316Lステンレス鋼の自家レーザー溶接の微細構造特性評価". Journal of Microscopy . 217 (2): 167–173 . doi : 10.1111/j.1365-2818.2005.01447.x . PMID 15683414. S2CID 12285114 .
↑ West, GD; Thomson, RC (2009). "デュアルビームFIB/FEG-SEMにおけるEBSD/EDSトモグラフィーの組み合わせ". Journal of Microscopy . 233 (3): 442–450 . doi : 10.1111/j.1365-2818.2009.03138.x . PMID 19250465. S2CID 42955621 .
↑ Moser, DE; Cupelli, CL; Barker, IR; Flowers, RM; Bowman, JR; Wooden, J.; Hart, JR (2011). Davis, William J. (編). 「電子ナノビーム (EBSD、CL、EDS) および同位体 U–Pb および (U–Th)/He 分析によって明らかになった Vredefort ドームの大規模衝突構造の年代測定と再構築のための新しいジルコン衝撃現象とその利用」この論文は、Tom Krogh を記念する地質年代学をテーマにしたこの特集号に掲載された一連の論文の 1 つです。Canadian Journal of Earth Sciences . 48 (2): 117– 139. Bibcode : 2011CaJES..48..117D . doi : 10.1139/E11-011 .
↑ Laigo, J.; Christien, F.; Le Gall, R.; Tancret, F.; Furtado, J. (2008). "SEM、EDS、EPMA-WDSおよびEBSDによるHP型耐熱合金中の炭化物の特性評価". Materials Characterization . 59 (11): 1580– 1586. doi : 10.1016/j.matchar.2008.02.001 .
↑ 「リチウム含有化合物および合金の微細構造分析」。AZoM.com 。2023年1月18日。2023年2月17日にオリジナルからアーカイブ済み。
↑ Wisniewski, Wolfgang; Švančárek, Peter; Prnová, Anna; Parchovianský, Milan; Galusek, Dušan (2020). "Y ₂ O ₃ –Al ₂ O ₃マイクロ球の結晶化を電子後方散乱回折 (EBSD) により解析" . Scientific Reports . 10 (1): 11122. Bibcode : 2020NatSR..1011122W . doi : 10.1038/s41598-020-67816-7 . PMC 7338460 . PMID 32632218 .
↑大藤弘明、山本正志 (2015) 「オスミウム表面コーティングを用いた軽元素のEDS定量」 .鉱物学・岩石学雑誌. 110 (4): 189– 195. Bibcode : 2015JMPeS.110..189O . doi : 10.2465/jmps.141126 . S2CID 93672390 .
↑ Frahm, Ellery (2014), "走査型電子顕微鏡 (SEM): 考古学への応用", Encyclopedia of Global Archaeology , New York, New York: Springer New York, pp. 6487–6495 , doi : 10.1007/978-1-4419-0465-2_341 , ISBN 978-1-4419-0426-3
↑ Stinville, JC; Callahan, PG; Charpagne, MA; Echlin, MP; Valle, V.; Pollock, TM (2020). "高解像度デジタル画像相関法を用いたニッケル基超合金におけるすべり不可逆性の直接測定" . Acta Materialia . 186 : 172– 189. Bibcode : 2020AcMat.186..172S . doi : 10.1016/j.actamat.2019.12.009 . OSTI 1803462 . S2CID 213631580 .
↑ Charpagne, Marie-Agathe; Strub, Florian; Pollock, Tresa M. (2019). "進化アルゴリズムを用いたマルチモーダルデータアプローチによるEBSDデータセットの正確な再構築". Materials Characterization . 150 : 184–198 . arXiv : 1903.02988 . doi : 10.1016/j.matchar.2019.01.033 . S2CID 71144677 .
↑ Zhao, Chong; Stewart, David; Jiang, Jun; Dunne, Fionn PE (2018). "HR-EBSDとHR-DICを用いた鉄およびコバルト系硬化肉盛合金の変形の比較評価". Acta Materialia . 159 : 173– 186. Bibcode : 2018AcMat.159..173Z . doi : 10.1016/j.actamat.2018.08.021 . hdl : 10044/1/68967 . S2CID 139436094 .
↑オロスコ＝カバレロ、アルベルト。ジャクソン、トーマス。ダ・フォンセカ、ジョアン・キンタ（2021）。「ショットピーニングされたRR1000ニッケル基超合金の荷重中のひずみ局所化の高解像度デジタル画像相関研究」(PDF)。アクタ・マテリアリア。220 117306. Bibcode : 2021AcMat.22017306O。土井：10.1016/j.actamat.2021.117306。S2CID 240539022。2023 年 3 月 25 日のオリジナルからアーカイブ(PDF) 。2023 年3 月 20 日に取得。
↑ Ye, Zhenhua; Li, Chuanwei; Zheng, Mengyao; Zhang, Xinyu; Yang, Xudong; Gu, Jianfeng (2022). "FCC構造およびL12構造のFeCoNiV高エントロピー合金における変形および破壊メカニズムのその場EBSD/DICベースの調査". International Journal of Plasticity . 152 103247. doi : 10.1016/j.ijplas.2022.103247 . S2CID 246553822 .
1 2 3ヘストロファー、ジョナサン M.スティンヴィル、ジャン＝シャルル。シャルパーニュ、マリー＝アガット。ミラー、マシュー P.ポロック、トレサ M.バイエルライン、アイリーン J. (2023)。「ニッケル基超合金の三重接合における滑り局在化挙動」。アクタ・マテリアリア。249 118801。Bibcode : 2023AcMat.24918801H。土井：10.1016/j.actamat.2023.118801。OSTI 2420863。S2CID 257216017。
↑ Sperry, Ryan; Han, Songyang; Chen, Zhe; Daly, Samantha H. ; Crimp, Martin A.; Fullwood, David T. (2021). "変形した Ti-7Al における活性すべり系の識別のための EBSD、DIC、AFM、および ECCI の比較" . Materials Characterization . 173 110941. doi : 10.1016/j.matchar.2021.110941 . S2CID 233839426 .
↑ガオ、ウェンジエ。ルー・ジュンシア。周、建立。劉、リンエン。ワン、ジン。張岳飛。張澤（2022）。「インコネル 718 の変形と破壊に対する粒径の影響: 現場 SEM-EBSD-DIC 調査」。材料科学と工学: A。861 144361.土井: 10.1016/j.msea.2022.144361。S2CID 253797056。
↑ Di Gioacchino, Fabio; Quinta da Fonseca, João (2015). "オーステナイト系ステンレス鋼の多結晶塑性に関する実験的研究" . International Journal of Plasticity . 74 : 92– 109. doi : 10.1016/j.ijplas.2015.05.012 .
↑ Mingard, KP; Roebuck, B.; Jones, HG; Stewart, M.; Cox, D.; Gee, MG (2018). "Visualisation and measurement of hardmetal microstructures in 3D". International Journal of Refractory Metals and Hard Materials . 71 : 285–291 . doi : 10.1016/j.ijrmhm.2017.11.023 .
1 2 Lin, FX; Godfrey, A.; Jensen, D. Juul; Winther, G. (2010). "市販の純アルミニウムの変形構造の3D EBSD特性評価". Materials Characterization . 61 (11): 1203– 1210. doi : 10.1016/j.matchar.2010.07.013 .
↑ Khorashadizadeh, A.; Raabe, D.; Zaefferer, S.; Rohrer, GS; Rollett, AD; Winning, M. (2011). "等チャネル角圧延法で加工した超微細粒CuZr合金の3D EBSDによる5パラメータ粒界解析". Advanced Engineering Materials . 13 (4): 237– 244. doi : 10.1002/adem.201000259 . S2CID 18389821 .
↑ Tsai, Shao-Pu; Konijnenberg, Peter J.; Gonzalez, Ivan; Hartke, Samuel; Griffiths, Thomas A.; Herbig, Michael; Kawano-Miyata, Kaori; Taniyama, Akira; Sano, Naoyuki; Zaefferer, Stefan (2022). "Development of a new, fully automated system for electron backscatter diffraction (EBSD)-based large volume three-dimensional microstructure mapping using serial sectioning by mechanical polish, and its application to the analysis of special boundaries in 316L stainless steel" . Review of Scientific Instruments . 93 (9): 093707. Bibcode : 2022RScI...93i3707T . doi : 10.1063/5.0087945 . PMID 36182491 . S2CID 252628156。
↑ Zaafarani, N.; Raabe, D.; Singh, RN; Roters, F.; Zaefferer, S. (2006). "3D EBSDと結晶塑性有限要素シミュレーションを用いたCu単結晶のナノインデント下のテクスチャと微細構造の3次元調査". Acta Materialia . 54 (7): 1863– 1876. Bibcode : 2006AcMat..54.1863Z . doi : 10.1016/j.actamat.2005.12.014 . hdl : 11858/00-001M-0000-0019-5A14-4 .
↑橋本輝夫、ジョージ・E・トンプソン、周暁栄、フィリップ・J・ウィザーズ（2016）。「超薄切片法を用いた材料科学のための連続ブロック面走査型電子顕微鏡による3Dイメージング」。Ultramicroscopy。163 ：6–18。doi：10.1016 / j.ultramic.2016.01.005。PMID 26855205。
↑ DeMott, Ryan; Haghdadi, Nima; Kong, Charlie; Gandomkar, Ziba; Kenney, Matthew; Collins, Peter; Primig, Sophie (2021). "微細αチタン微細構造の3D電子後方散乱回折特性評価：収集、再構成、および分析方法" . Ultramicroscopy . 230 113394. doi : 10.1016/j.ultramic.2021.113394 . hdl : 1959.4/unsworks_77599 . PMID 34614440 . S2CID 238422160 .
↑ Konrad, J.; Zaefferer, S.; Raabe, D. (2006). "Investigation of orientation gradients around a hard Laves particle in a warm-rolled Fe ₃ Al-based alloy using a 3D EBSD-FIB technique" . Acta Materialia . 54 (5): 1369– 1380. Bibcode : 2006AcMat..54.1369K . doi : 10.1016/j.actamat.2005.11.015 .
↑ Calcagnotto, Marion; Ponge, Dirk; Demir, Eralp; Raabe, Dierk (2010). "2Dおよび3D EBSDによる超微細粒二相鋼の配向勾配と幾何学的に必要な転位の研究". Materials Science and Engineering: A . 527 (10): 2738– 2746. doi : 10.1016/j.msea.2010.01.004 .
↑ Gholinia, A.; Brough, I.; Humphreys, J.; McDonald, D.; Bate, P. (2010). "3D EBSD を用いた Cu–Sn ブロンズの動的再結晶化の調査". Materials Science and Technology . 26 (6): 685– 690. Bibcode : 2010MatST..26..685G . doi : 10.1179/026708309X12547309760966 . S2CID 137530768 .
↑ Pirgazi, Hadi (2019). "連続切断法で収集した3D EBSDデータの整列について". Materials Characterization . 152 : 223–229 . doi : 10.1016/j.matchar.2019.04.026 . S2CID 149835216 .
↑ Winiarski, B.; Gholinia, A.; Mingard, K.; Gee, M.; Thompson, G.; Withers, PJ (2021). "大面積EBSDに関連するアーティファクトの補正" . Ultramicroscopy . 226 113315. doi : 10.1016/j.ultramic.2021.113315 . PMID 34049196 . S2CID 235241941 .
↑ペンシルベニア州コニネンベルク。ザエフェラー、S.ラーベ、D. (2015)。「3D EBSDによって導き出される幾何学的に必要な転位レベルの評価」。アクタ・マテリアリア。99 : 402–414。Bibcode : 2015AcMat..99..402K。土井：10.1016/j.actamat.2015.06.051。

さらに読む

「電子後方散乱回折（EBSD）」。DoITPoMS。
Britton, T. Ben ; Jiang, Jun; Guo, Y.; Vilalta-Clemente, A.; Wallis, D.; Hansen, LN; Winkelmann, A.; Wilkinson, AJ (2016 年 7 月) 「チュートリアル: 結晶方位と EBSD — どちらが上か？」 . Materials Characterization . 117 : 113– 126. doi : 10.1016/j.matchar.2016.04.008 . hdl : 10044/1/31250 . S2CID 138070296 .
Charpagne, Marie-Agathe; Strub, Florian; Pollock, Tresa M. (2019年4月)「進化アルゴリズムを用いたマルチモーダルデータアプローチによるEBSDデータセットの正確な再構築」Materials Characterization . 150 : 184–198 . arXiv : 1903.02988 . doi : 10.1016/j.matchar.2019.01.033 . S2CID 71144677 .
Jackson, MA; Pascal, E.; De Graef, M. (2019). "電子後方散乱回折パターンの辞書インデックス作成：実践チュートリアル" . Integrating Materials and Manufacturing Innovation . 8 (2): 226– 246. doi : 10.1007/s40192-019-00137-4 . S2CID 182073071 .
Randle, Valerie (2009年9月)「電子後方散乱回折：信頼性の高いデータ取得と処理のための戦略」Materials Characterization . 60 (90): 913–922 . doi : 10.1016/j.matchar.2009.05.011 .
Schwartz, Adam J.、Kumar, Mukul、Adams, Brent L.、Field, David P. 編 (2009).電子後方散乱回折の材料科学（第2 版）. ニューヨーク、ニューヨーク：Springer New York、ニューヨーク（2009年8月12日発行）. doi : 10.1007/978-0-387-88136-2 . ISBN 978-0-387-88135-5。
Zaefferer, S.; Raabe, D. ; A., Khorashadizadeh. 「FIB SEM 技術を併用した鋼材のトモグラフィー方位顕微鏡 (3D EBSD)」マックス・プランク鉄鋼研究所.

外部リンク

コード

De Graef, M. (2017年7月). "EMsoft (EBSPのシミュレーション)" . GitHub .
Anes, Hakon (2020). "kikuchipy (Python で EBSD パターンを処理、シミュレート、分析する)" . kikuchipy .
ヒールシャー、シェーベン (2008)。「MTEX（EBSD解析）」。MTEX。
Ruggles, TJ; Bomarito, GF; Qiu, RL; Hochhalter, JD (2018年12月1日). "OpenXY (HR-EBSD)" . GitHub .
Tong, Vivian; Britton, Ben (2017年7月) 「TrueEBSD: 電子後方散乱回折マップの空間歪みの補正」 Ultramicroscopy . 221 113130. arXiv : 1909.00347 . doi : 10.1016 / j.ultramic.2020.113130 . PMID 33290982. S2CID 202538027 .

動画

Britton, Ben (2021年1月11日). EBSD入門：セクション1 - EBSDで何がわかるか？ . YouTube.
Nowell, Matt (2022年2月22日). EBSD分析用のサンプル準備方法を学ぶ。EDAX (YouTube)。
ライト、スチュアート（2022年1月31日）。変形した微細構造のEBSD解析。EDAX（YouTube）。
電子後方散乱回折の解説：QUANTAX EBSD。Bruker Nano Analytics（YouTube）。2020年9月1日。

[80] このページ全体を通して、「誤差」および「精度」という用語は、国際度量衡局(BIPM)の測定不確かさに関するガイドで定義されているとおりに使用されています。実際には、「誤差」、「正確度」、「不確かさ」、および「真値」と「最良推定値」は同義です。精度は、すべての推定量間の分散 (または標準偏差) です。バイアスは、測定値の平均と独立して測定された「最良推定値」との差です。正確度は、バイアスと精度の組み合わせです。^{[ 1 ]}

[87] ひずみ、歪み、変形は、さまざまな分野で複数の量を指すことがあります。ここでは、次のように使用します。機械的に負荷された物体は、加えられた負荷に応じて形状が変化します。機械試験フレームで測定すると、これは（全）工学ひずみと呼ばれます。塑性ひずみは、巨視的な負荷を取り除いた後に残る形状変化です。ミクロスケールでは、ほとんどの結晶材料の塑性変形は、転位すべりと変形双晶によって吸収されます。しかし、塑性変形が進むにつれて材料中に転位も生成され、材料中で互いに近くなる（例えば、すべり帯で並ぶ）類似の結晶学的特性と符号を持つ転位は、GNDとして特徴付けられます。多結晶における塑性ひずみの増加は、結晶格子を弾性的に歪ませて結晶欠陥（例えば、転位核）、欠陥群（例えば、転位セル壁）を吸収し、多結晶粒界での適合性を維持します。この格子歪みは変形勾配テンソルとして表現でき、これは弾性ひずみ（対称）成分と格子回転（反対称）成分に分解できます。^{[ 85 ]}本稿では、「格子歪み」とは、変形勾配、弾性ひずみ、および格子回転テンソルから導出される弾性歪み成分を指します。

[:10-1] 1 2 3 4 5 6 7 8 9 Koko, Abdalrhaman; Tong, Vivian; Wilkinson, Angus J. ; Marrow, T. James (2023). "高解像度電子後方散乱回折 (HR-EBSD) における参照パターン選択のための反復法". Ultramicroscopy . 248 113705. arXiv : 2206.10242 . doi : 10.1016/j.ultramic.2023.113705 . PMID 36871367 . S2CID 249889699 . この記事には、 CC BY 4.0ライセンスの下で利用可能なこの出典からのテキストが含まれています。

[2] Vespucci, S.; Winkelmann, A.; Naresh-Kumar, G.; Mingard, KP; Maneuski, D.; Edwards, PR; Day, AP; O'Shea, V.; Trager-Cowan, C. (2015). "エネルギーフィルタリングされた電子後方散乱回折パターンのデジタル直接電子イメージング" . Physical Review B . 92 (20) 205301. Bibcode : 2015PhRvB..92t5301V . doi : 10.1103/PhysRevB.92.205301 .

[:18-3] 1 2 Randle, Valerie (2009 年 9 月)「電子後方散乱回折: 信頼性の高いデータ取得と処理のための戦略」Materials Characterization . 60 (9): 913–922 . doi : 10.1016/j.matchar.2009.05.011 .

[4] Goldstein, Joseph I.; Newbury, Dale E.; Michael, Joseph R.; Ritchie, Nicholas WM; Scott, John Henry J.; Joy, David C. (2018), "Backscattered Electrons", Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis , New York, New York: Springer New York, pp. 15–28 , doi : 10.1007/978-1-4939-6676-9_2 , ISBN 978-1-4939-6674-5

[5] Winkelmann, Aimo; Nolze, Gert (2010). "シリコンの電子後方散乱回折パターンにおける菊池帯コントラスト反転の解析". Ultramicroscopy . 110 (3): 190– 194. doi : 10.1016/j.ultramic.2009.11.008 . PMID 20005045 .

[:0-6] 1 2 3 4 5 Schwarzer, Robert A.; Field, David P.; Adams, Brent L.; Kumar, Mukul; Schwartz, Adam J. (2009), "Present State of Electron Backscatter Diffraction and Prospective Developments", in Schwartz, Adam J.; Kumar, Mukul; Adams, Brent L.; Field, David P. (eds.), Electron Backscatter Diffraction in Materials Science , Boston, MA: Springer US, pp. 1–20 , doi : 10.1007/978-0-387-88136-2_1 , ISBN 978-0-387-88136-2、OSTI 964094

[7] Venables, JA; Harland, CJ (1973). "電子後方散乱パターン ― 走査型電子顕微鏡で結晶学的情報を得るための新しい技術". The Philosophical Magazine . 27 (5): 1193–1200 . Bibcode : 1973PMag...27.1193V . doi : 10.1080/14786437308225827 .

[8] Chen, Delphic; Kuo, Jui-Chao; Wu, Wen-Tuan (2011). "EBSD空間分解能に対する顕微鏡パラメータの影響". Ultramicroscopy . 111 (9): 1488– 1494. doi : 10.1016/j.ultramic.2011.06.007 . PMID 21930021 .

[9] Field, DP (2005). "EBSDの空間分解能の向上" . Microscopy and Microanalysis . 11. doi : 10.1017/s1431927605506445 . S2CID 138097039 .

[10] Deal, Andrew; Tao, Xiaodong; Eades, Alwyn (2005). "SEMにおけるEBSDジオメトリ：シミュレーションと表現" . Surface and Interface Analysis . 37 (11): 1017– 1020. doi : 10.1002/sia.2115 . S2CID 122757345 .

[:45-11] 1 2 Randle, Valerie (2000)、「電子後方散乱回折の理論的枠組み」、Schwartz, Adam J.、Kumar, Mukul、Adams, Brent L. (編)、Electron Backscatter Diffraction in Materials Science、ボストン、マサチューセッツ州：Springer US、pp. 19–30、doi：10.1007/978-1-4757-3205-4_2、ISBN 978-1-4757-3205-4

[12] Goulden, J.; Trimby, P.; Bewick, A. (2018年8月1日). "CMOSベースのEBSD検出器の利点と応用" . Microscopy and Microanalysis . 24 (S1): 1128– 1129. Bibcode : 2018MiMic..24S1128G . doi : 10.1017/s1431927618006128 . S2CID 139967518 .

[:19-13] 1 2 Eades, Alwyn; Deal, Andrew; Bhattacharyya, Abhishek; Hooghan, Tejpal (2009)、「EBSDにおけるエネルギーフィルタリング」、Schwartz, Adam J.; Kumar, Mukul; Adams, Brent L.; Field, David P. (編)、Electron Backscatter Diffraction in Materials Science、ボストン、マサチューセッツ州、pp. 53–63、doi : 10.1007/978-0-387-88136-2_4、ISBN 978-0-387-88136-2{{citation}}: CS1メンテナンス: 場所の発行元が見つかりません (リンク)

[:20-14] 1 2 3 4 5 6 Wilkinson, Angus J.; Britton, T. Ben. (2012). "材料科学におけるひずみ、面、およびEBSD" . Materials Today . 15 (9): 366– 376. doi : 10.1016/S1369-7021(12)70163-3 .

[15] Sawatzki, Simon; Woodcock, Thomas G.; Güth, Konrad; Müller, Karl-Hartmut; Gutfleisch, Oliver (2015). "Nd–Fe–B焼結磁石におけるEBSD方位ヒストグラムとXRDロッキングカーブからの残留磁化とテクスチャ度の計算". Journal of Magnetism and Magnetic Materials . 382 : 219– 224. Bibcode : 2015JMMM..382..219S . doi : 10.1016/j.jmmm.2015.01.046 .

[16] 西川聡、菊池聡 (1928 年 6 月) 「雲母による陰極線の回折」Nature . 121 (3061): 1019– 1020. Bibcode : 1928Natur.121.1019N . doi : 10.1038/1211019a0 . ISSN 0028-0836 .

[17] Tixier, R.; Waché, C. (1970). "Kossel patterns". Journal of Applied Crystallography . 3 (6): 466– 485. Bibcode : 1970JApCr...3..466T . doi : 10.1107/S0021889870006726 .

[18] Maitland, Tim; Sitzman, Scott (2007)、「ナノ材料特性評価における後方散乱検出器とEBSD」、Zhou, Weilie; Wang, Zhong Lin (編)、Scanning Microscopy for Nanotechnology: Techniques and Applications、ニューヨーク、ニューヨーク：Springer、pp. 41–75、doi：10.1007/978-0-387-39620-0_2、ISBN 978-0-387-39620-0

[19] Alam, MN; Blackman, M.; Pashley, DW (1954). "高角度菊池パターン". Proceedings of the Royal Society of London. Series A. Mathematical and Physical Sciences . 221 (1145): 224– 242. Bibcode : 1954RSPSA.221..224A . doi : 10.1098/rspa.1954.0017 . S2CID 97131764 .

[20] Dingley, DJ; Wright, SI; Nowell, MM (2005 年 8 月) 「電子後方散乱回折パターンの動的背景補正」 . Microscopy and Microanalysis . 11 (S02). doi : 10.1017/S1431927605506676 . S2CID 137658758 .

[:15-21] 1 2 3 Britton, TB; Jiang, J.; Guo, Y.; Vilalta-Clemente, A.; Wallis, D.; Hansen, LN; Winkelmann, A.; Wilkinson, AJ (2016). "チュートリアル: 結晶方位とEBSD — どちらが上ですか？" . Materials Characterization . 117 : 113–126 . doi : 10.1016/j.matchar.2016.04.008 . hdl : 10044/1/31250 . S2CID 138070296 .

[:31-22] 1 2 3 Koko, A. Mohamed (2022).歪み集中（変形双晶、すべり帯、亀裂）のその場全視野特性評価（博士論文）。オックスフォード大学。2023年2月1日にオリジナルからアーカイブ済み。 この記事には、 CC BY 4.0ライセンスの下で利用可能なこの出典からのテキストが含まれています。

[23] Nowell, Matthew M; Witt, Ronald A; True, Brian W (2005). "EBSD サンプル調製: テクニック、ヒント、コツ" . Microscopy Today . 13 (4): 44– 49. doi : 10.1017/s1551929500053669 . S2CID 139585885 .

[:32-24] 1 2 3 4 Koko, Abdalrhaman; Elmukashfi, Elsiddig; Becker, Thorsten H.; Karamched, Phani S.; Wilkinson, Angus J.; Marrow, T. James (2022). "高分解能電子後方散乱回折によるフェライト粒内すべり帯のひずみ場のその場特性評価" . Acta Materialia . 239 118284. Bibcode : 2022AcMat.23918284K . doi : 10.1016/j.actamat.2022.118284 . S2CID 251783802 . この記事には、 CC BY 4.0ライセンスの下で利用可能なこの出典からのテキストが含まれています。

[25] 「EBSD分析（電子後方散乱回折）のための試料調製技術」。AZoNano.com 。 2013年11月15日。2023年3月2日にオリジナルからアーカイブ済み。

[26] Williams, B. David (2009). Transmission electron microscopy: a textbook for materials science . Plenum Press. p. 11. ISBN 978-0-387-76501-3OCLC 633626308

[27] Britton, TB; Jiang, J.; Clough, R.; Tarleton, E.; Kirkland, AI; Wilkinson, AJ (2013). "電子後方散乱回折を用いたひずみ測定の精度評価 – パート2：実験的実証". Ultramicroscopy . 135 : 136– 141. doi : 10.1016/j.ultramic.2013.08.006 . PMID 24034981 .

[28] Jiang, J.; Britton, TB; Wilkinson, AJ (2013). "銅の引張変形中の転位密度分布の進化" . Acta Materialia . 61 (19): 7227– 7239. Bibcode : 2013AcMat..61.7227J . doi : 10.1016/j.actamat.2013.08.027 .

[29] Abdolvand, Hamidreza; Wilkinson, Angus J. (2016). "双晶形成中の再配向とせん断伝達の影響について：高解像度電子後方散乱回折実験と結晶塑性有限要素モデルの比較" . International Journal of Plasticity . 84 : 160– 182. doi : 10.1016/j.ijplas.2016.05.006 . S2CID 139049848 .

[:29-30] Koko, Abdalrhaman; Becker, Thorsten H.; Elmukashfi, Elsiddig; Pugno, Nicola M.; Wilkinson, Angus J.; Marrow, T. James (2023). "HR-EBSD分析によるミクロンスケールでのin situ安定亀裂成長". Journal of the Mechanics and Physics of Solids . 172 105173. arXiv : 2206.10243 . Bibcode : 2023JMPSo.17205173K . doi : 10.1016/j.jmps.2022.105173 . S2CID 249889649 .

[:30-31] 1 2 Wilkinson, Angus J.; Randman, David (2010). "電子後方散乱回折を用いたナノインデント近傍の弾性ひずみ場と幾何学的に必要な転位分布の決定" (PDF) . Philosophical Magazine . 90 (9): 1159– 1177. Bibcode : 2010PMag...90.1159W . doi : 10.1080/14786430903304145 . S2CID 121903030 . 2023年3月3日にオリジナルからアーカイブ(PDF) 。 2023年3月20日に取得。

[32] Griffiths, AJV; Walther, T (2010). "走査透過型電子顕微鏡における電子ビーム照射下での炭素汚染の定量化とプラズマ洗浄によるその抑制" . Journal of Physics: Conference Series . 241 (1) 012017. Bibcode : 2010JPhCS.241a2017G . doi : 10.1088/1742-6596/241/1/012017 . S2CID 250689401 .

[:4-33] Koko, Abdalrhaman; Elmukashfi, Elsiddig; Dragnevski, Kalin; Wilkinson, Angus J.; Marrow, Thomas James (2021). "電子後方散乱回折を用いたフェライト変形双晶の弾性ひずみ場のJ積分解析" . Acta Materialia . 218 117203. Bibcode : 2021AcMat.21817203K . doi : 10.1016/j.actamat.2021.117203 . 2022年7月5日のオリジナルからアーカイブ済み。 2023年3月20日取得。

[:12-34] Bachmann, F.; Hielscher, Ralf; Schaeben, Helmut (2010). "Texture Analysis with MTEX – Free and Open Source Software Toolbox". Solid State Phenomena . 160 : 63– 68. doi : 10.4028/www.scientific.net/SSP.160.63 . S2CID 136017346 .

[35] Powell, CJ; Jablonski, A. (2011). "オージェ電子分光法およびX線光電子分光法の表面感度" . Journal of Surface Analysis . 17 (3): 170– 176. doi : 10.1384/jsa.17.170 .

[36] Piňos, J.; Mikmeková, Š.; Frank, L. (2017). "後方散乱電子イメージングの情報深度について". Journal of Microscopy . 266 (3): 335– 342. doi : 10.1111/jmi.12542 . PMID 28248420 . S2CID 35266526 .

[:27-37] 1 2 3 Zaefferer, S. (2007). 「後方散乱菊池パターンの形成メカニズム、空間分解能、強度について」。Ultramicroscopy . 107 ( 2): 254– 266. doi : 10.1016/j.ultramic.2006.08.007 . PMID 17055170 .

[38] Seah, MP (2001). "ISO/TC 201規格の概要: VIII、ISO 18115:2001—表面化学分析—用語集". Surface and Interface Analysis . 31 (11): 1048– 1049. doi : 10.1002/sia.1139 . S2CID 97982609 .

[39] Dingley, D. (2004). "電子後方散乱回折および方位イメージング顕微鏡法の開発における進歩的ステップ: EBSD および OIM". Journal of Microscopy . 213 (3): 214– 224. doi : 10.1111/j.0022-2720.2004.01321.x . PMID 15009688 . S2CID 41385346 .

[:28-40] 1 2 Isabell, Thomas C.; Dravid, Vinayak P. (1997 年 6 月 1 日). "冷陰極電界放出型走査電子顕微鏡における電子後方散乱回折の分解能と感度". Ultramicroscopy . Frontiers in Electron Microscopy in Materials Science. 67 (1): 59– 68. doi : 10.1016/S0304-3991(97)00003-X .

[41] Humphreys, F. J (2004). "電子後方散乱回折 (EBSD) による微細構造の特性評価". Scripta Materialia . Viewpoint set no. 35. Metals and alloys with a structural scale from the micrometer to the atomic dimensions. 51 (8): 771– 776. doi : 10.1016/j.scriptamat.2004.05.016 .

[42] Goldstein, Joseph I.; Newbury, Dale E.; Michael, Joseph R.; Ritchie, Nicholas WM; Scott, John Henry J.; Joy, David C. (2018), "The Visibility of Features in SEM Images", in Goldstein, Joseph I.; Newbury, Dale E.; Michael, Joseph R.; Ritchie, Nicholas WM (eds.), Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis , New York, New York: Springer, pp. 123– 131, doi : 10.1007/978-1-4939-6676-9_8 , ISBN 978-1-4939-6676-9

[:24-43] 1 2 Zhu, Chaoyi; De Graef, Marc (2020). "格子欠陥を含む相互作用体積のEBSDパターンシミュレーション" . Ultramicroscopy . 218 113088. doi : 10.1016/j.ultramic.2020.113088 . PMID 32784084 . S2CID 221123906 .

[44] Ren, SX; Kenik, EA; Alexander, KB (1997). "二相材料への応用を伴う電子後方散乱回折（EBSD）の空間分解能のモンテカルロシミュレーション" . Microscopy and Microanalysis . 3 (S2): 575– 576. Bibcode : 1997MiMic...3S.575R . doi : 10.1017/S1431927600009764 . S2CID 137029133 . 2023年3月25日のオリジナルからアーカイブ済み。 2023年3月20日取得。

[45] Brodusch, Nicolas; Demers, Hendrix; Gauvin, Raynald (2018). "走査型電子顕微鏡における市販の電子後方散乱回折（EBSD）カメラを用いたイメージング：レビュー" . Journal of Imaging . 4 (7): 88. doi : 10.3390/jimaging4070088 .

[46] 田中道吉 (1988).収束ビーム電子回折(PDF) . Jeol. OCLC 312738225 . 2023年3月20日のオリジナルからアーカイブ(PDF) . 2023年3月20日取得.

[:26-47] 1 2 Winkelmann, Aimo (2009)、「電子後方散乱回折パターンの動的シミュレーション」、Schwartz, Adam J.、Kumar, Mukul、Adams, Brent L.、Field, David P. (編)、Electron Backscatter Diffraction in Materials Science、ボストン、マサチューセッツ州：Springer US、pp. 21–33、doi：10.1007/978-0-387-88136-2_2、ISBN 978-0-387-88136-2S2CID 122806598

[:21-48] 1 2 El-Dasher, Bassem; Deal, Andrew (2009)、「電子後方散乱回折の相同定への応用」、Schwartz, Adam J.; Kumar, Mukul; Adams, Brent L.; Field, David P. (編)、Electron Backscatter Diffraction in Materials Science、ボストン、マサチューセッツ州：Springer US、pp. 81–95、doi：10.1007/978-0-387-88136-2_6、ISBN 978-0-387-88136-22023年3月25日にオリジナルからアーカイブされ、2023年3月20日に取得されました。

[49] 「新しい技術により金属の結晶構造の詳細な画像が得られる」。MITニュース｜マサチューセッツ工科大学。2016年7月6日。2023年3月2日にオリジナルからアーカイブ済み。

[EBSDSpringer2009-50] 1 2 3材料科学における電子後方散乱回折（第2版）。Springer Science+Business Media。2009年。p . 1。ISBN 978-0-387-88135-5。

[51] Wright, Stuart I.; Zhao, Jun-Wu; Adams, Brent L. (1991). "電子後方散乱菊池回折パターンからの格子方位の自動決定" .テクスチャ、応力、微細構造. 13 ( 2– 3): 123– 131. doi : 10.1155/TSM.13.123 .

[52] Wright, Stuart I.; Adams, Brent L.; Kunze, Karsten (1993). "多結晶アルミニウムへの新しい自動格子方位測定技術の適用". Materials Science and Engineering: A . 160 (2): 229– 240. doi : 10.1016/0921-5093(93)90452-K .

[53] Lassen, Niels Chr. Krieger (1992). "EBSPからの自動結晶方位決定". Micron and Microscopica Acta . 23 (1): 191– 192. doi : 10.1016/0739-6260(92)90133-X .

[54] Krieger Lassen, NC; Juul Jensen, Dorte; Condradsen, K. (1994). "電子後方散乱パターンを用いた部分再結晶試料中の変形および再結晶領域の自動認識" . Materials Science Forum . 157– 162: 149– 158. doi : 10.4028/www.scientific.net/msf.157-162.149 . S2CID 137129038 .

[55] Wright, Stuart I.; Nowell, Matthew M.; Lindeman, Scott P.; Camus, Patrick P.; De Graef, Marc; Jackson, Michael A. (2015). "新しいEBSD後処理方法の紹介と比較" . Ultramicroscopy . 159 : 81– 94. doi : 10.1016/j.ultramic.2015.08.001 . PMID 26342553 .

[56] Randle, Valerie (2009). "電子後方散乱回折：信頼性の高いデータ取得と処理のための戦略". Materials Characterization . 60 (9): 913–922 . doi : 10.1016/j.matchar.2009.05.011 .

[:14-57] 1 2 3 Lassen, Niels Christian Krieger (1994).電子後方散乱パターンからの結晶方位の自動決定(PDF) (博士論文). デンマーク工科大学。2022年3月8日にオリジナルからアーカイブ(PDF) 。

[58] Sitzman, Scott; Schmidt, Niels-Henrik; Palomares-Garcia, Alberto; Munoz-Moreno, Rocio; Goulden, Jenny (2015). "高精度バンド検出によるγ-TiAlのEBSD分析における擬似対称ミスインデックスの対処" . Microscopy and Microanalysis . 21 (S3): 2037– 2038. Bibcode : 2015MiMic..21S2037S . doi : 10.1017/s143192761501096x . S2CID 51964340 .

[59] Lenthe, W.; Singh, S.; De Graef, M. (2019). "電子後方散乱回折パターンのインデックス付けにおける潜在的な擬似対称性の問題の予測" . Journal of Applied Crystallography . 52 (5): 1157– 1168. Bibcode : 2019JApCr..52.1157L . doi : 10.1107/S1600576719011233 . OSTI 1575873 . S2CID 204108200 .

[60] Dingley, David J.; Wright, SI (2009)、「EBSDパターンにおける対称性判定による相同定」、Schwartz, Adam J.; Kumar, Mukul; Adams, Brent L.; Field, David P. (編)、『材料科学における電子後方散乱回折』、ボストン、マサチューセッツ州：Springer US、pp. 97–107、doi：10.1007/978-0-387-88136-2_7、ISBN 978-0-387-88136-2

[:22-61] 1 2 Winkelmann, Aimo; Trager-Cowan, Carol; Sweeney, Francis; Day, Austin P.; Parbrook, Peter (2007). "電子後方散乱回折パターンの多ビーム動的シミュレーション". Ultramicroscopy . 107 (4): 414– 421. doi : 10.1016/j.ultramic.2006.10.006 . PMID 17126489 .

[:1-62] Britton, TB; Tong, VS; Hickey, J.; Foden, A.; Wilkinson, AJ (2018). "AstroEBSD: 天文学的アプローチから生まれた手法でパターンインデックス付けの新しい空間を探求する" . Journal of Applied Crystallography . 51 (6): 1525– 1534. arXiv : 1804.02602 . Bibcode : 2018JApCr..51.1525B . doi : 10.1107/S1600576718010373 . hdl : 10044/1/81541 . S2CID 51687153 .

[63] Britton, Thomas Benjamin; Tong, Vivian S.; Hickey, Jim; Foden, Alex; Wilkinson, Angus J. (2018). "AstroEBSD: 天文学的アプローチから生まれた手法でパターンインデックス付けの新しい空間を探求". Journal of Applied Crystallography . 51 (6): 1525– 1534. arXiv : 1804.02602 . Bibcode : 2018JApCr..51.1525B . doi : 10.1107/S1600576718010373 . S2CID 51687153 .

[64] Pang, Edward L.; Larsen, Peter M.; Schuh, Christopher A. (2020). "EBSDパターン中心の正確な決定のためのグローバル最適化". Ultramicroscopy . 209 112876. arXiv : 1908.10692 . doi : 10.1016/j.ultramic.2019.112876 . PMID 31707232 . S2CID 201651309 .

[65] 田中智人、アンガス・J・ウィルキンソン（2019年7月1日）「電子後方散乱回折パターンのパターンマッチング解析によるパターン中心、結晶方位、絶対弾性ひずみの決定―精度と精密さの評価」Ultramicroscopy.202 : 87–99.arXiv : 1904.06891.doi : 10.1016 / j.ultramic.2019.04.006.PMID 31005023.S2CID 119294636 .

[66] Foden, A.; Collins, DM; Wilkinson, AJ; Britton, TB (2019). "Indexing electron backscatter diffraction patterns with a refined template matching approach". Ultramicroscopy . 207 112845. arXiv : 1807.11313 . doi : 10.1016/j.ultramic.2019.112845 . PMID 31586829 . S2CID 203307560 .

[67] Jackson, MA; Pascal, E.; De Graef, M. (2019). "電子後方散乱回折パターンの辞書インデックス作成：実践チュートリアル". Integrating Materials and Manufacturing Innovation . 8 (2): 226– 246. doi : 10.1007/s40192-019-00137-4 . S2CID 182073071 .

[68] Dingley, DJ; Randle, V. (1992). "電子後方散乱回折による微細構造の決定". Journal of Materials Science . 27 (17): 4545– 4566. Bibcode : 1992JMatS..27.4545D . doi : 10.1007/BF01165988 . S2CID 137281137 .

[69] Adams, Brent L. (1997). "方向イメージング顕微鏡：新たな応用と将来の応用". Ultramicroscopy . Frontiers in Electron Microscopy in Materials Science. 67 (1): 11– 17. doi : 10.1016/S0304-3991(96)00103-9 .

[70] Hielscher, Ralf; Bartel, Felix; Britton, Thomas Benjamin (2019). "水晶玉を凝視する: 球面上の電子後方散乱回折パターン解析と相互相関". Ultramicroscopy . 207 112836. arXiv : 1810.03211 . doi : 10.1016/j.ultramic.2019.112836 . PMID 31539865 . S2CID 202711517 .

[71] Hielscher, R.; Silbermann, CB; Schmidl, E.; Ihlemann, Joern (2019). "結晶方位マップのノイズ除去". Journal of Applied Crystallography . 52 (5): 984– 996. Bibcode : 2019JApCr..52..984H . doi : 10.1107/s1600576719009075 . S2CID 202068671 .

[:3-72] 1 2 Adams, Brent L.; Wright, Stuart I.; Kunze, Karsten (1993). "Orientation imaging: The emergence of a new microscopy". Metallurgical Transactions A . 24 (4): 819– 831. Bibcode : 1993MTA....24..819A . doi : 10.1007/BF02656503 . S2CID 137379846 .

[:23-73] Randle, Valerie; Engler, Olaf (2000). Introduction to texture analysis: macrotexture, microtexture and orientation mapping (Digital printing 2003 ed.). Boca Raton: CRC Press . ISBN 978-90-5699-224-8。

[:2-74] 1 2 Prior (1999). 「走査型電子顕微鏡における電子後方散乱回折を用いた、小さな角度ミスオリエンテーションの場合のミスオリエンテーション軸の決定における問題点」Journal of Microscopy . 195 (3): 217– 225. doi : 10.1046/j.1365-2818.1999.00572.x . PMID 10460687 . S2CID 10144078 .

[:25-75] Humphreys, FJ (2001). "電子後方散乱回折による結晶粒および亜結晶粒の特性評価に関するレビュー". Journal of Materials Science . 36 (16): 3833–3854 . doi : 10.1023/A:1017973432592 . S2CID 135659350 .

[:35-76] 1 2 Wilkinson, Angus J.; Hirsch, Peter B. (1997). "バルク材料の走査型電子顕微鏡における電子回折に基づく技術". Micron . 28 (4): 279–308 . arXiv : 1904.05550 . doi : 10.1016/S0968-4328(97)00032-2 . S2CID 118944816 .

[77] Shi, Qiwei; Roux, Stéphane; Latourte, Félix; Hild, François (2019). "電子回折パターンにおける統合画像相関による弾性ひずみの推定" . Ultramicroscopy . 199 : 16– 33. doi : 10.1016/j.ultramic.2019.02.001 . PMID 30738984 . S2CID 73418370 .

[78] Lassen, NC Krieger; Jensen, Dorte Juul; Condradsen, K. (1994). "電子後方散乱パターンを用いた部分再結晶試料中の変形および再結晶領域の自動認識" . Materials Science Forum . 157– 162: 149– 158. doi : 10.4028/www.scientific.net/MSF.157-162.149 . S2CID 137129038 . 2023年3月2日にオリジナルからアーカイブ済み. 2023年3月2日に取得.

[79] Wilkinson, AJ (1997年1月1日). 「電子後方散乱回折と電子チャネリングパターンから弾性ひずみを決定する方法」. Materials Science and Technology . 13 (1): 79–84 . Bibcode : 1997MatST..13...79W . doi : 10.1179/mst.1997.13.1.79 .

[81] Troost, KZ; van der Sluis, P.; Gravesteijn, DJ (1993). "走査型電子顕微鏡における後方散乱菊池回折による微小スケール弾性ひずみの決定". Applied Physics Letters . 62 (10): 1110– 1112. Bibcode : 1993ApPhL..62.1110T . doi : 10.1063/1.108758 .

[82] Wilkinson, AJ; Dingley, DJ (1991). "電子後方散乱パターンを用いた定量的変形研究". Acta Metallurgica et Materialia . 39 (12): 3047– 3055. doi : 10.1016/0956-7151(91)90037-2 .

[83] Wilkinson, Angus J. (1996). "電子後方散乱回折を用いた弾性ひずみと小さな格子回転の測定". Ultramicroscopy . 62 (4): 237– 247. doi : 10.1016/0304-3991(95)00152-2 . PMID 22666906 .

[:11-84] Wilkinson, AJ; Meaden, G.; Dingley, DJ (2006年11月1日) 「電子後方散乱回折を用いた歪みと回転の高解像度マッピング」 . Materials Science and Technology . 22 (11): 1271– 1278. Bibcode : 2006MatST..22.1271W . doi : 10.1179/174328406X130966 . S2CID 135875163. 2023年3月25日のオリジナルからアーカイブ済み。2023年3月20日取得。

[:6-85] 1 2 3 4 5 6 7 8 Wilkinson, Angus J.; Meaden, Graham; Dingley, David J. (2006). "電子後方散乱回折パターンからの高分解能弾性ひずみ測定：新たな感度レベル". Ultramicroscopy . 106 (4): 307– 313. doi : 10.1016/j.ultramic.2005.10.001 . PMID 16324788 .

[86] Barabash, Rozaliya; Ice, Gene (2013). Strain and Dislocation Gradients from Diffraction . doi : 10.1142/p897 . ISBN 978-1-908979-62-9。

[:5-88] 1 2 3 4 Britton, TB; Wilkinson, AJ (2012). "高分解能電子後方散乱回折測定による、より大きな格子回転が存在する場合の弾性ひずみ変動の測定". Ultramicroscopy . 114 : 82– 95. doi : 10.1016/j.ultramic.2012.01.004 . PMID 22366635 .

[:16-89] 1 2 3 Wilkinson, Angus J.; Dingley, David J.; Meaden, Graham (2009)、「電子後方散乱回折を用いた歪みマッピング」、Schwartz, Adam J.; Kumar, Mukul; Adams, Brent L.; Field, David P. (編)、Electron Backscatter Diffraction in Materials Science、ボストン、マサチューセッツ州：Springer US、pp. 231–249、doi：10.1007/978-0-387-88136-2_17、ISBN 978-0-387-88136-2

[:17-90] 1 2 Hardin, TJ; Ruggles, TJ; Koch, DP; Niezgoda, SR; Fullwood, DT; Homer, ER (2015). "高解像度EBSD測定におけるトラクションフリー仮定の分析: HR-EBSDトラクションフリー仮定". Journal of Microscopy . 260 (1): 73– 85. doi : 10.1111/jmi.12268 . PMID 26138919 . S2CID 25692536 .

[91] Pantleon, W. (2008年6月1日). 「従来の電子後方散乱回折による幾何学的に必要な転位含有量の解明」. Scripta Materialia . 58 (11): 994–997 . doi : 10.1016/j.scriptamat.2008.01.050 .

[92] Brewer, Luke N.; Field, David P.; Merriman, Colin C. (2009), "EBSDを用いた塑性変形のマッピングと評価", Schwartz, Adam J.; Kumar, Mukul; Adams, Brent L.; Field, David P. (編), Electron Backscatter Diffraction in Materials Science , Boston, MA: Springer US, pp. 251–262 , doi : 10.1007/978-0-387-88136-2_18 , ISBN 978-0-387-88136-2

[:7-93] 1 2 Plancher, E.; Petit, J.; Maurice, C.; Favier, V.; Saintoyant, L.; Loisnard, D.; Rupin, N.; Marijon, J.-B.; Ulrich, O.; Bornert, M.; Micha, J.-S.; Robach, O.; Castelnau, O. (2016 年 3 月 1 日). 「Laue マイクロ回折と高解像度 EBSD による弾性ひずみ場測定の精度について: 相互検証実験」(PDF) . Experimental Mechanics . 56 (3): 483– 492. doi : 10.1007/s11340-015-0114-1 . hdl : 10985/15090 . S2CID 255157494 . 2020年3月13日にオリジナルからアーカイブ（PDF）。2023年3月20日に取得。

[94] Maurice, Claire; Driver, Julian H.; Fortunier, Roland (2012). "高角度分解能EBSDの配向勾配依存性の解決について". Ultramicroscopy . 113 : 171– 181. doi : 10.1016/j.ultramic.2011.10.013 .

[:33-95] 1 2 Koko, Abdalrhaman; Marrow, James; Elmukashfi, Elsiddig (2026). "ひずみ場からの変位の計算: 導出、検証、および応用". Acta Materialia . 304 121818. arXiv : 2107.10330 . doi : 10.1016/j.actamat.2025.121818 . この記事には、 CC BY 4.0ライセンスの下で利用可能なこの出典からのテキストが含まれています。

[96] Ruggles, TJ; Bomarito, GF; Qiu, RL; Hochhalter, JD (2018年12月1日). 「逆組成ガウス・ニュートン法に基づくデジタル画像相関による高角度分解能EBSD性能の新たなレベル」 . Ultramicroscopy . 195 : 85–92 . Bibcode : 2018Ultmi.195...85R . doi : 10.1016/j.ultramic.2018.08.020 . PMC 7780544. PMID 30216795 .

[97] Vermeij, T.; Hoefnagels, JPM (2018). "A consistent full-field integrated DIC framework for HR-EBSD" (PDF) . Ultramicroscopy . 191 : 44– 50. doi : 10.1016/j.ultramic.2018.05.001 . PMID 29772417 . S2CID 21685690 . 2021年7月16日にオリジナルからアーカイブ(PDF) 。 2023年3月20日に取得。

[98] エルヌール、クレマン。ボーシール、ブノワ。ファンデンベルガー、ジャン＝ジャック。トーピン、ヴィンセント。ブジー、エマニュエル（2021）。「グローバル HR-EBSD 技術のための光学歪みの統合補正」。超顕微鏡検査。221 113158.土井: 10.1016/j.ultramic.2020.113158。PMID 33338818。S2CID 228997006。

[99] Shi, Qiwei; Loisnard, Dominique; Dan, Chengyi; Zhang, Fengguo; Zhong, Hongru; Li, Han; Li, Yuda; Chen, Zhe; Wang, Haowei; Roux, Stéphane (2021). "統合デジタル画像相関法を用いたEBSDの結晶方位とパターン中心の較正" (PDF) . Materials Characterization . 178 111206. doi : 10.1016/j.matchar.2021.111206 . S2CID 236241507 . 2023年3月25日のオリジナルからアーカイブ(PDF) . 2023年3月20日取得.

[:8-100] 1 2 3 4 Maurice, Claire; Fortunier, Roland; Driver, Julian; Day, Austin; Mingard, Ken; Meaden, Graham (2010). 「Josh Kacher、Colin Landon、Brent L. Adams、David Fullwood による論文「電子後方散乱回折解析のためのブラッグの法則回折シミュレーション」に対するコメント」。Ultramicroscopy . 110 ( 7): 758– 759. doi : 10.1016/j.ultramic.2010.02.003 . PMID 20223590 .

[EBSD_Image_Quality_Mapping-101] 1 2 Wright, Stuart I.; Nowell, Matthew M. (2006). "EBSD Image Quality Mapping" . Microscopy and Microanalysis . 12 (1): 72– 84. Bibcode : 2006MiMic..12...72W . doi : 10.1017/s1431927606060090 . PMID 17481343 . S2CID 35055001 .

[102] Jiang, Jun; Zhang, Tiantian; Dunne, Fionn PE; Britton, T. Ben (2016). "Deformation compatibility in a single crystalline Ni superalloy" . Proceedings of the Royal Society A: Mathematical, Physical and Engineering Sciences . 472 (2185) 20150690. Bibcode : 2016RSPSA.47250690J . doi : 10.1098/rspa.2015.0690 . PMC 4786046. PMID 26997901 .

[:9-103] 1 2 3 4三上義樹、小田和夫、鎌谷正之、望月正人 (2015)「EBSDを用いた微視的応力測定における基準点選択の影響」Materials Science and Engineering: A. 647 : 256–264 . doi : 10.1016 /j.msea.2015.09.004 .

[104] Koko, A.; Earp, P.; Wigger, T.; Tong, J.; Marrow, TJ (2020). "J-integral analysis: An EDXD and DIC comparative study for a fatigue crack" . International Journal of Fatigue . 134 105474. doi : 10.1016/j.ijfatigue.2020.105474 . S2CID 214391445. 2021年1月27日のオリジナルからアーカイブ。2023年3月20日取得。

[105] Kacher, Josh; Landon, Colin; Adams, Brent L.; Fullwood, David (2009年8月1日). 「電子後方散乱回折解析のためのブラッグの法則回折シミュレーション」。Ultramicroscopy . 109 ( 9): 1148– 1156. doi : 10.1016/j.ultramic.2009.04.007 . PMID 19520512 .

[106] Winkelmann, A; Nolze, G; Vos, M; Salvat-Pujol, F; Werner, WSM (2016). "EBSD の物理ベースシミュレーションモデル: 進歩と課題". IOP Conference Series: Materials Science and Engineering . 109 (1) 012018. arXiv : 1505.07982 . Bibcode : 2016MS & E..109a2018W . doi : 10.1088/1757-899x/109/1/012018 . S2CID 38586851 .

[107] Alkorta, Jon; Marteleur, Matthieu; Jacques, Pascal J. (2017). "画像勾配ベースのDIC技術を用いた改良型シミュレーションベースHR-EBSD手順". Ultramicroscopy . 182 : 17–27 . doi : 10.1016/j.ultramic.2017.06.015 . hdl : 2078.1/186551 . PMID 28644960 .

[108] Winkelmann, Aimo; Nolze, Gert; Cios, Grzegorz; Tokarski, Tomasz; Bała, Piotr; Hourahine, Ben; Trager-Cowan, Carol (2021年11月)。「後方散乱および透過電子の菊池パターンシミュレーション」(PDF) . Journal of Microscopy . 284 (2): 157– 184. doi : 10.1111/jmi.13051 . PMID 34275156 . S2CID 236091618 . 2023年3月25日のオリジナルからアーカイブ(PDF) . 2023年3月20日取得.

[109] Winkelmann, A. (2010). "電子後方散乱回折のための深さ分解菊池パターンシミュレーションの原理: EBSD 用菊池パターンシミュレーション". Journal of Microscopy . 239 (1): 32– 45. doi : 10.1111/j.1365-2818.2009.03353.x . PMID 20579267 . S2CID 23590722 .

[110] Vermeij, Tijmen; De Graef, Marc; Hoefnagels, Johan (2019年3月15日). 「電子後方散乱回折を用いた正確な絶対結晶粒間応力と方位相関の可能性の実証」. Scripta Materialia . 162 : 266–271 . arXiv : 1807.03908 . doi : 10.1016/j.scriptamat.2018.11.030 . S2CID 54575778 .

[Angus_J_2019-111] 1 2田中智人、アンガス・J・ウィルキンソン (2019年7月1日)。「パターン中心、結晶方位、絶対弾性ひずみの決定のための電子後方散乱回折パターンのパターンマッチング解析-精度と精密さの評価」。Ultramicroscopy。202 : 87–99。arXiv : 1904.06891。doi : 10.1016 / j.ultramic.2019.04.006。PMID 31005023。S2CID 119294636。

[Brent_L_2010-112] Kacher, Josh; Basinger, Jay; Adams, Brent L.; Fullwood, David T. (2010年6月1日). 「Maurice 他による「電子後方散乱回折解析のためのブラッグの法則回折シミュレーション」へのコメントに対する返答」「. Ultramicroscopy . 110 (7): 760– 762. doi : 10.1016/j.ultramic.2010.02.004 . PMID 20189305 .

[113] Britton, TB; Maurice, C.; Fortunier, R.; Driver, JH; Day, AP; Meaden, G.; Dingley, DJ; Mingard, K.; Wilkinson, AJ (2010). "シミュレーションパターンを使用した場合の高解像度電子後方散乱回折の精度に影響を与える要因". Ultramicroscopy . 110 (12): 1443– 1453. doi : 10.1016/j.ultramic.2010.08.001 . PMID 20888125 .

[114] Alkorta, Jon (2013年8月1日). 「シミュレーションに基づく高解像度EBSDの限界」。Ultramicroscopy . 131 : 33–38 . doi : 10.1016/j.ultramic.2013.03.020 . PMID 23676453 .

[115] Jackson, Brian E.; Christensen, Jordan J.; Singh, Saransh; De Graef, Marc; Fullwood, David T.; Homer, Eric R.; Wagoner, Robert H. (2016 年 8 月). "Performance of Dynamically Simulated Reference Patterns for Cross-Correlation Electron Backscatter Diffraction". Microscopy and Microanalysis . 22 (4): 789– 802. Bibcode : 2016MiMic..22..789J . doi : 10.1017/S143192761601148X . PMID 27509538 . S2CID 24482631 .

[116] Zhang, Tiantian; Collins, David M.; Dunne, Fionn PE; Shollock, Barbara A. (2014). "熱負荷下における全視野多結晶Ni超合金の歪みと回転の結晶塑性と高分解能電子後方散乱回折分析". Acta Materialia . 80 : 25– 38. doi : 10.1016/j.actamat.2014.07.036 . hdl : 10044/1/25979 .

[117] Guo, Yi; Zong, Cui; Britton, TB (2021). "引張変形中のボイド周辺の局所塑性発達". Materials Science and Engineering: A . 814 141227. arXiv : 2007.11890 . doi : 10.1016/j.msea.2021.141227 . S2CID 234850241 .

[118] Jiang, J.; Britton, TB; Wilkinson, AJ (2013年11月1日). "銅の引張変形中の転位密度分布の進化" . Acta Materialia . 61 (19): 7227– 7239. Bibcode : 2013AcMat..61.7227J . doi : 10.1016/j.actamat.2013.08.027 .

[119] Britton, TB; Hickey, JLR (2018). "高角度分解能電子後方散乱回折 (HR-EBSD) による変形の理解". IOP Conference Series: Materials Science and Engineering . 304 (1) 012003. arXiv : 1710.00728 . Bibcode : 2018MS & E..304a2003B . doi : 10.1088/1757-899x/304/1/012003 . S2CID 54529072 .

[120] シルビア、カラチスカ。ダンカジ、ゾルタン。ジラヒ、ジュラ。メーダー、ザビエル。ミヒラー、ヨハン。イスパノヴィティ、ペテル・ドゥサン;イシュトヴァーンのグロマ（2020）。「3次元HR-EBSDによる圧縮Cuマイクロピラー中の幾何学的に必要な転位構造の調査」。材料科学と工学: A。770 138499。arXiv : 1906.06980。土井：10.1016/j.msea.2019.138499。S2CID 189928469。2020年7月17日のオリジナルからアーカイブ。2023 年3 月 20 日に取得。

[121] Wallis, David; Hansen, Lars N.; Britton, T. Ben; Wilkinson, Angus J. (2017). "Dislocation Interactions in Olivine Revealed by HR-EBSD: Dislocation Interactions in Olivine" . Journal of Geophysical Research: Solid Earth . 122 (10): 7659– 7678. doi : 10.1002/2017JB014513 . hdl : 10044/1/50615 . S2CID 134570945 .

[122] Moussa, C; Bernacki, M; Besnard, R; Bozzolo, N (2015). "純タンタルの変形および回復サブ構造の定量的EBSD解析について" . IOP Conference Series: Materials Science and Engineering . 89 (1) 012038. Bibcode : 2015MS & E...89a2038M . doi : 10.1088/1757-899x/89/1/012038 . S2CID 53137730 .

[:13-123] Wright, Stuart I.; Matthew, M. Nowell; David, P. Field. (2011). "電子後方散乱回折を用いたひずみ解析のレビュー". Microscopy and Microanalysis . 17. 17 (3): 316– 329. Bibcode : 2011MiMic..17..316W . doi : 10.1017/S1431927611000055 . PMID 21418731 . S2CID 26116915 .

[124] Tao, Xiaodong; Eades, Alwyn (2002). "EBSDにおける画像品質（IQ）マッピングの代替方法" . Microscopy and Microanalysis . 8 (S02): 692– 693. Bibcode : 2002MiMic...8S.692T . doi : 10.1017/s1431927602106465 . S2CID 138999871 .

[125] McLean, Mark J.; Osborn, William A. (2018). "EBSDを用いた微小力学試験中のその場弾性ひずみマッピング". Ultramicroscopy . 185 : 21–26 . doi : 10.1016/j.ultramic.2017.11.007 . PMID 29161620 .

[:44-126] Yu, Hongbing; Liu, Junliang; Karamched, Phani; Wilkinson, Angus J.; Hofmann, Felix (2019). "高角度分解能透過菊池回折法 (HR-TKD) による単一転位の全格子歪みテンソルのマッピング" . Scripta Materialia . 164 : 36– 41. arXiv : 1808.10055 . doi : 10.1016/j.scriptamat.2018.12.039 . S2CID 119075799 .

[127] Prior, David J.; Mariani, Elisabetta; Wheeler, John (2009)、「地球科学におけるEBSD：応用、一般的な実践、および課題」、Electron Backscatter Diffraction in Materials Science、ボストン、マサチューセッツ州：Springer US、pp. 345–360、doi：10.1007/978-0-387-88136-2_26、ISBN 978-0-387-88135-5

[128] Choi, Seung; Han, Seokyoung; Lee, Yuong-Nam (2019). Rahman, Imran (編). "マニラプトル類の卵殻の電子後方散乱回折 (EBSD) 分析と微細構造およびタフォノミー解釈への重要な示唆". Palaeontology . 62 (5): 777– 803. Bibcode : 2019Palgy..62..777C . doi : 10.1111/pala.12427 . S2CID 182770470 .

[129] Wolfe, Kennedy; Smith, Abigail M.; Trimby, Patrick; Byrne, Maria (2013年8月1日). 「ペーパーノーチラス（Argonauta nodosa）殻の微細構造と海洋酸性化の影響に対処するための電子後方散乱回折（EBSD）の新規応用」Marine Biology . 160 (8): 2271– 2278. Bibcode : 2013MarBi.160.2271W . doi : 10.1007/s00227-012-2032-4 . S2CID 253745873 .

[130] Piazolo, S.; Jessell, MW; Prior, DJ; Bons, PD (2004). "実験的in-situ EBSD観察と数値シミュレーションの統合：微細構造プロセス解析の新しい手法". Journal of Microscopy . 213 (3): 273– 284. doi : 10.1111/j.0022-2720.2004.01304.x . PMID 15009695 . S2CID 24037204 .

[131] Koblischka-Veneva, Anjela; Koblischka, Michael R.; Schmauch, Jörg; Hannig, Matthias (2018). "ヒトの歯のエナメル質：TEMとt-EBSDで調査された天然ナノテクノロジーの傑作". Nano Research . 11 (7): 3911– 3921. doi : 10.1007/s12274-018-1968-1 . S2CID 139757769 .

[:34-132] 1 2 3 Wright, Stuart I.; Nowell, Matthew M.; de Kloe, René; Camus, Patrick; Rampton, Travis (2015). "EBSD検出器による電子イメージング" . Ultramicroscopy . 148 : 132– 145. doi : 10.1016/j.ultramic.2014.10.002 . PMID 25461590 .

[:46-133] 1 2 Schwarzer, Robert A; Hjelen, Jarle (2015年1月9日). "EBSD検出器による後方散乱電子イメージング" . Microscopy Today . 23 (1): 12– 17. doi : 10.1017/S1551929514001333 . S2CID 138740715 .

[:37-134] 1 2 Tong , Vivian S .; Knowles, Alexander J.; Dye, David; Britton, T. Ben (2019年1月1日)。「高速電子後方散乱回折マッピング：数字で描く」。Materials Characterization。147 ： 271–279。arXiv ： 1809.07283。doi ：10.1016 / j.matchar.2018.11.014。S2CID 119328762。

[135] 「電子後方散乱回折（EBSD）とエネルギー分散型X線分光法（EDS）を用いた類似結晶構造を持つ相の識別」。AZoNano.com 。 2015年。2023年3月2日にオリジナルからアーカイブ済み。

[136] Nolze, G.; Geist, V.; Neumann, R. Saliwan; Buchheim, M. (2005). "ワトソン鉄隕石を例としたEBSDおよびEDSによる方位関係の調査" . Crystal Research and Technology . 40 (8): 791– 804. Bibcode : 2005CryRT..40..791N . doi : 10.1002/crat.200410434 . S2CID 96785527 .

[137] 「材料の破損を引き起こす微細な欠陥の解明」。Physics World。2022年11月29日。2023年3月3日にオリジナルからアーカイブ済み。

[138] Kell, J.; Tyrer, JR; Higginson, RL; Thomson, RC (2005). "EBSDおよびEDSを用いた316Lステンレス鋼の自家レーザー溶接の微細構造特性評価". Journal of Microscopy . 217 (2): 167–173 . doi : 10.1111/j.1365-2818.2005.01447.x . PMID 15683414. S2CID 12285114 .

[139] West, GD; Thomson, RC (2009). "デュアルビームFIB/FEG-SEMにおけるEBSD/EDSトモグラフィーの組み合わせ". Journal of Microscopy . 233 (3): 442–450 . doi : 10.1111/j.1365-2818.2009.03138.x . PMID 19250465. S2CID 42955621 .

[140] Moser, DE; Cupelli, CL; Barker, IR; Flowers, RM; Bowman, JR; Wooden, J.; Hart, JR (2011). Davis, William J. (編). 「電子ナノビーム (EBSD、CL、EDS) および同位体 U–Pb および (U–Th)/He 分析によって明らかになった Vredefort ドームの大規模衝突構造の年代測定と再構築のための新しいジルコン衝撃現象とその利用」この論文は、Tom Krogh を記念する地質年代学をテーマにしたこの特集号に掲載された一連の論文の 1 つです。Canadian Journal of Earth Sciences . 48 (2): 117– 139. Bibcode : 2011CaJES..48..117D . doi : 10.1139/E11-011 .

[141] Laigo, J.; Christien, F.; Le Gall, R.; Tancret, F.; Furtado, J. (2008). "SEM、EDS、EPMA-WDSおよびEBSDによるHP型耐熱合金中の炭化物の特性評価". Materials Characterization . 59 (11): 1580– 1586. doi : 10.1016/j.matchar.2008.02.001 .

[142] 「リチウム含有化合物および合金の微細構造分析」。AZoM.com 。2023年1月18日。2023年2月17日にオリジナルからアーカイブ済み。

[143] Wisniewski, Wolfgang; Švančárek, Peter; Prnová, Anna; Parchovianský, Milan; Galusek, Dušan (2020). "Y ₂ O ₃ –Al ₂ O ₃マイクロ球の結晶化を電子後方散乱回折 (EBSD) により解析" . Scientific Reports . 10 (1): 11122. Bibcode : 2020NatSR..1011122W . doi : 10.1038/s41598-020-67816-7 . PMC 7338460 . PMID 32632218 .

[144] 大藤弘明、山本正志 (2015) 「オスミウム表面コーティングを用いた軽元素のEDS定量」 .鉱物学・岩石学雑誌. 110 (4): 189– 195. Bibcode : 2015JMPeS.110..189O . doi : 10.2465/jmps.141126 . S2CID 93672390 .

[145] Frahm, Ellery (2014), "走査型電子顕微鏡 (SEM): 考古学への応用", Encyclopedia of Global Archaeology , New York, New York: Springer New York, pp. 6487–6495 , doi : 10.1007/978-1-4419-0465-2_341 , ISBN 978-1-4419-0426-3

[146] Stinville, JC; Callahan, PG; Charpagne, MA; Echlin, MP; Valle, V.; Pollock, TM (2020). "高解像度デジタル画像相関法を用いたニッケル基超合金におけるすべり不可逆性の直接測定" . Acta Materialia . 186 : 172– 189. Bibcode : 2020AcMat.186..172S . doi : 10.1016/j.actamat.2019.12.009 . OSTI 1803462 . S2CID 213631580 .

[147] Charpagne, Marie-Agathe; Strub, Florian; Pollock, Tresa M. (2019). "進化アルゴリズムを用いたマルチモーダルデータアプローチによるEBSDデータセットの正確な再構築". Materials Characterization . 150 : 184–198 . arXiv : 1903.02988 . doi : 10.1016/j.matchar.2019.01.033 . S2CID 71144677 .

[148] Zhao, Chong; Stewart, David; Jiang, Jun; Dunne, Fionn PE (2018). "HR-EBSDとHR-DICを用いた鉄およびコバルト系硬化肉盛合金の変形の比較評価". Acta Materialia . 159 : 173– 186. Bibcode : 2018AcMat.159..173Z . doi : 10.1016/j.actamat.2018.08.021 . hdl : 10044/1/68967 . S2CID 139436094 .

[149] オロスコ＝カバレロ、アルベルト。ジャクソン、トーマス。ダ・フォンセカ、ジョアン・キンタ（2021）。「ショットピーニングされたRR1000ニッケル基超合金の荷重中のひずみ局所化の高解像度デジタル画像相関研究」(PDF)。アクタ・マテリアリア。220 117306. Bibcode : 2021AcMat.22017306O。土井：10.1016/j.actamat.2021.117306。S2CID 240539022。2023 年 3 月 25 日のオリジナルからアーカイブ(PDF) 。2023 年3 月 20 日に取得。

[150] Ye, Zhenhua; Li, Chuanwei; Zheng, Mengyao; Zhang, Xinyu; Yang, Xudong; Gu, Jianfeng (2022). "FCC構造およびL12構造のFeCoNiV高エントロピー合金における変形および破壊メカニズムのその場EBSD/DICベースの調査". International Journal of Plasticity . 152 103247. doi : 10.1016/j.ijplas.2022.103247 . S2CID 246553822 .

[:40-151] 1 2 3ヘストロファー、ジョナサン M.スティンヴィル、ジャン＝シャルル。シャルパーニュ、マリー＝アガット。ミラー、マシュー P.ポロック、トレサ M.バイエルライン、アイリーン J. (2023)。「ニッケル基超合金の三重接合における滑り局在化挙動」。アクタ・マテリアリア。249 118801。Bibcode : 2023AcMat.24918801H。土井：10.1016/j.actamat.2023.118801。OSTI 2420863。S2CID 257216017。

[152] Sperry, Ryan; Han, Songyang; Chen, Zhe; Daly, Samantha H. ; Crimp, Martin A.; Fullwood, David T. (2021). "変形した Ti-7Al における活性すべり系の識別のための EBSD、DIC、AFM、および ECCI の比較" . Materials Characterization . 173 110941. doi : 10.1016/j.matchar.2021.110941 . S2CID 233839426 .

[153] ガオ、ウェンジエ。ルー・ジュンシア。周、建立。劉、リンエン。ワン、ジン。張岳飛。張澤（2022）。「インコネル 718 の変形と破壊に対する粒径の影響: 現場 SEM-EBSD-DIC 調査」。材料科学と工学: A。861 144361.土井: 10.1016/j.msea.2022.144361。S2CID 253797056。

[154] Di Gioacchino, Fabio; Quinta da Fonseca, João (2015). "オーステナイト系ステンレス鋼の多結晶塑性に関する実験的研究" . International Journal of Plasticity . 74 : 92– 109. doi : 10.1016/j.ijplas.2015.05.012 .

[155] Mingard, KP; Roebuck, B.; Jones, HG; Stewart, M.; Cox, D.; Gee, MG (2018). "Visualisation and measurement of hardmetal microstructures in 3D". International Journal of Refractory Metals and Hard Materials . 71 : 285–291 . doi : 10.1016/j.ijrmhm.2017.11.023 .

[:36-156] 1 2 Lin, FX; Godfrey, A.; Jensen, D. Juul; Winther, G. (2010). "市販の純アルミニウムの変形構造の3D EBSD特性評価". Materials Characterization . 61 (11): 1203– 1210. doi : 10.1016/j.matchar.2010.07.013 .

[157] Khorashadizadeh, A.; Raabe, D.; Zaefferer, S.; Rohrer, GS; Rollett, AD; Winning, M. (2011). "等チャネル角圧延法で加工した超微細粒CuZr合金の3D EBSDによる5パラメータ粒界解析". Advanced Engineering Materials . 13 (4): 237– 244. doi : 10.1002/adem.201000259 . S2CID 18389821 .

[158] Tsai, Shao-Pu; Konijnenberg, Peter J.; Gonzalez, Ivan; Hartke, Samuel; Griffiths, Thomas A.; Herbig, Michael; Kawano-Miyata, Kaori; Taniyama, Akira; Sano, Naoyuki; Zaefferer, Stefan (2022). "Development of a new, fully automated system for electron backscatter diffraction (EBSD)-based large volume three-dimensional microstructure mapping using serial sectioning by mechanical polish, and its application to the analysis of special boundaries in 316L stainless steel" . Review of Scientific Instruments . 93 (9): 093707. Bibcode : 2022RScI...93i3707T . doi : 10.1063/5.0087945 . PMID 36182491 . S2CID 252628156。

[159] Zaafarani, N.; Raabe, D.; Singh, RN; Roters, F.; Zaefferer, S. (2006). "3D EBSDと結晶塑性有限要素シミュレーションを用いたCu単結晶のナノインデント下のテクスチャと微細構造の3次元調査". Acta Materialia . 54 (7): 1863– 1876. Bibcode : 2006AcMat..54.1863Z . doi : 10.1016/j.actamat.2005.12.014 . hdl : 11858/00-001M-0000-0019-5A14-4 .

[160] 橋本輝夫、ジョージ・E・トンプソン、周暁栄、フィリップ・J・ウィザーズ（2016）。「超薄切片法を用いた材料科学のための連続ブロック面走査型電子顕微鏡による3Dイメージング」。Ultramicroscopy。163 ：6–18。doi：10.1016 / j.ultramic.2016.01.005。PMID 26855205。

[161] DeMott, Ryan; Haghdadi, Nima; Kong, Charlie; Gandomkar, Ziba; Kenney, Matthew; Collins, Peter; Primig, Sophie (2021). "微細αチタン微細構造の3D電子後方散乱回折特性評価：収集、再構成、および分析方法" . Ultramicroscopy . 230 113394. doi : 10.1016/j.ultramic.2021.113394 . hdl : 1959.4/unsworks_77599 . PMID 34614440 . S2CID 238422160 .

[162] Konrad, J.; Zaefferer, S.; Raabe, D. (2006). "Investigation of orientation gradients around a hard Laves particle in a warm-rolled Fe ₃ Al-based alloy using a 3D EBSD-FIB technique" . Acta Materialia . 54 (5): 1369– 1380. Bibcode : 2006AcMat..54.1369K . doi : 10.1016/j.actamat.2005.11.015 .

[163] Calcagnotto, Marion; Ponge, Dirk; Demir, Eralp; Raabe, Dierk (2010). "2Dおよび3D EBSDによる超微細粒二相鋼の配向勾配と幾何学的に必要な転位の研究". Materials Science and Engineering: A . 527 (10): 2738– 2746. doi : 10.1016/j.msea.2010.01.004 .

[164] Gholinia, A.; Brough, I.; Humphreys, J.; McDonald, D.; Bate, P. (2010). "3D EBSD を用いた Cu–Sn ブロンズの動的再結晶化の調査". Materials Science and Technology . 26 (6): 685– 690. Bibcode : 2010MatST..26..685G . doi : 10.1179/026708309X12547309760966 . S2CID 137530768 .

[165] Pirgazi, Hadi (2019). "連続切断法で収集した3D EBSDデータの整列について". Materials Characterization . 152 : 223–229 . doi : 10.1016/j.matchar.2019.04.026 . S2CID 149835216 .

[166] Winiarski, B.; Gholinia, A.; Mingard, K.; Gee, M.; Thompson, G.; Withers, PJ (2021). "大面積EBSDに関連するアーティファクトの補正" . Ultramicroscopy . 226 113315. doi : 10.1016/j.ultramic.2021.113315 . PMID 34049196 . S2CID 235241941 .

[167] ペンシルベニア州コニネンベルク。ザエフェラー、S.ラーベ、D. (2015)。「3D EBSDによって導き出される幾何学的に必要な転位レベルの評価」。アクタ・マテリアリア。99 : 402–414。Bibcode : 2015AcMat..99..402K。土井：10.1016/j.actamat.2015.06.051。

[ 2 ]

[ 4 ]

[ 5 ]

[ 7 ]

[ 8 ]

[ 9 ]

[ 10 ]

[ 12 ]

[ 15 ]

[

[

[

[ 19 ]

[ 20 ]

[ 23 ]

[ 25 ]

[ 26 ]

[ 27 ]

[ 28 ]

[ 29 ]

[ 32 ]

[ 35 ]

[ 36 ]

[ 38 ]

[ 39 ]

[ 41 ]

[ 42 ]

[ 44 ]

[ 45 ]

[ 46 ]

[ 49 ]

[ 50 ]

[ 51 ]

[ 52 ]、

[ 53 ]

[ 54 ]

[ 55 ]

[ 56 ]

[ 58 ]

[ 59 ]

[ 60 ]

[ 63 ]

[ 64 ]は、EMSoft [

67

[

[

[ 68 ]

[ 69 ]

[ 70 ]

[ 71 ]

[ 77 ]

[ 78 ]

[ 79 ] は

[注 1 ]

[ 80 ]

[ 81 ]

[ 82 ]

[

[ 89 ]

[ 90 ]

[ 92 ]

[ 94 ]

[ 95 ]

[

[

[

[

[ 102 ]

[ 103 ]

[ 104 ]

[ 105 ]

[ 106 ]

[ 107 ]

[ 108 ]

[ 109 ]

[ 110 ]

[ 111 ]

[ 112 ]

[ 113 ]

[ 114 ]

[ 115 ]

。

119 ]

これ

EBSP

[ 120 ]

[ 122 ]

[

[ 125 ]

[ 126 ]

[ 127 ]

[ 128 ]

[ 129 ]

[ 133 ]

[ 134 ]

[ 135 ]

[ 136 ]

[ 137 ]

[ 138 ]

[ 139 ]