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単色波長分散型蛍光X線分析(MWD XRF )は、従来の波長分散型X線分光法(WDXRF )元素分析の改良版です。主な違いは、MWD XRFではX線源と試料の間に二重曲面結晶X線光学系を使用することで単色励起を実現している点です。 [ 1 ] [ 2 ] この追加の光学系により、X線源の出力を上げることなく、小さなスポットサイズで高強度のX線ビームが生成されます。MWD XRF装置は、低出力X線管、励起用の点対点集束光学系、試料セル、試料からの蛍光を収集する集束光学系、およびX線検出器で構成されています。X線源と試料の間に光学系を使用することで、制動放射のない単色ビームが試料を励起し、元素分析に必要な二次蛍光X線を発生させます。励起に使用する波長帯域を制限することで、信号対バックグラウンド比が大幅に向上します。このタイプの励起により、検出限界が大幅に低下し、読み取り時間が短縮されます。[ 3 ]