電子機器において、ウェーハ(スライスまたは基板とも呼ばれる)[ 1 ]は、集積回路の製造や、太陽光発電において太陽電池の製造に使用される結晶シリコン(c-Si、シリコン)などの半導体の薄いスライスである。
ウェハは、ウェハ上に構築されるマイクロエレクトロニクスデバイスの基板として機能します。ウェハは、ドーピング、イオン注入、エッチング、各種材料の薄膜堆積、フォトリソグラフィによるパターニングなど、多くの微細加工プロセスを経て加工されます。最終的に、個々のマイクロ回路はウェハダイシングによって分離され、集積回路としてパッケージ化されます。
半導体業界では、ウェーハという用語は1950年代に、ゲルマニウムやシリコンなどの半導体材料の薄い円形のスライスを表すために登場しました。これらのウェーハの特徴である円形は、通常チョクラルスキー法を使用して製造される単結晶インゴットから得られます。ただし、シリコンウェーハは1940年代に初めて導入されました。[ 2 ] [ 3 ]
1960年までに、シリコンウェハーはMEMCやSunEdisonなどの企業によって米国で製造されるようになった。1965年、 IBMに勤務していたアメリカ人エンジニアのエリック・O・エルンスト、ドナルド・J・ハード、ジェラード・シーリーは、最初の高容量エピタキシャル装置に関する特許US3423629A [ 4 ]を出願した。

ウェーハは、純度99.9999999%(9N)以上の、 ほぼ欠陥のない高純度単結晶材料から形成されます。 [ 5 ]結晶ウェーハを 形成するプロセスの1つは、ポーランドの化学者ヤン・チョクラルスキーによって発明されたチョクラルスキー法として知られています。このプロセスでは、溶融物から種結晶を引き上げることにより、シリコンやゲルマニウムなどの高純度単結晶半導体の円筒形インゴット(ブールと呼ばれる)が形成されます。[ 6 ] [ 7 ]シリコンの場合、ホウ素やリンなどのドナー不純物原子を溶融した真性材料に正確な量で添加して結晶をドーピングし、 n型またはp型の外因性半導体に変えることができます。
続いて、ブールはウェーハソー(ワイヤーソーの一種)でスライスされ、平面度を向上させるために機械加工され、機械加工工程による結晶の損傷を除去するために化学エッチングされ、最後に研磨されてウェーハが形成されます。[ 8 ]太陽光発電用のウェーハのサイズは100~200 mm角で、厚さは100 ~500 μmです。[ 9 ]電子機器では、直径100~450 mmのウェーハが使用されます。製造された最大のウェーハは直径450 mmですが、[ 10 ]まだ一般的には使用されていません。
ウェーハは、不要な粒子を除去するために弱酸で洗浄されます。シリコンウェーハの表面に汚染がないことを確認するために、いくつかの標準的な洗浄手順があります。最も効果的な方法の 1 つはRCA 洗浄です。太陽電池に使用される場合、ウェーハは表面が粗くなるようにテクスチャ加工され、表面積が増加して効率が向上します。生成された PSG (リンケイ酸ガラス) は、エッチングでウェーハの端から除去されます。[ 11 ]
シリコンウェーハは、25.4 mm (1 インチ) から 300 mm (11.8 インチ)までさまざまな直径で入手可能です。 [ 12 ] [ 13 ]半導体製造工場は、一般的にファブと呼ばれ、製造するウェーハの直径によって定義されます。スループットの向上とコスト削減のために直径は徐々に大きくなり、現在の最先端のファブでは300 mmが使用されており、 450 mmを採用するという提案もあります。[ 14 ] [ 15 ] Intel、TSMC、Samsung はそれぞれ450 mm「プロトタイプ」(研究)ファブの出現に向けて研究を行っていましたが、深刻な障害が残っています。[ 16 ]

シリコン以外の材料を使用して成長させたウェーハは、同じ直径のシリコンウェーハとは厚さが異なります。ウェーハの厚さは、使用する材料の機械的強度によって決まります。ウェーハは、取り扱い中に割れることなく自重を支えられるだけの厚みが必要です。表に記載されている厚さは、そのプロセスが導入された時期に関連するものであり、必ずしも現在正しいとは限りません。たとえば、IBM BiCMOS7WL プロセスは 8 インチウェーハで行われますが、 厚さはわずか 200 μm です。ウェーハの重量は、厚さと直径の 2 乗に比例して増加します。導入日が、工場がすぐに設備を転換することを意味するわけではありません。実際、多くの工場は設備のアップグレードに手間をかけません。代わりに、企業は拡張して新しい技術でまったく新しいラインを構築する傾向があり、同時に幅広い技術が使用されることになります。
GaN基板ウェーハは通常、シリコン基板と並行してはいるものの、はるかに遅れており、他の基板よりは先行しているという独自のタイムラインをたどってきた。世界初の300mm GaNウェーハは2024年9月にインフィニオンによって発表され、近い将来、300mm GaNの商用生産を行う最初の工場が稼働する可能性があることを示唆している。[ 20 ]
一方、世界初のシリコンカーバイド(SiC)200mmウェハは、2021年7月にSTマイクロエレクトロニクスによって発表された。[ 21 ]通常、商用生産におけるSiCの最大規模のファブは150mmのままであるため、2024年時点でSiC 200mmが量産に入ったかどうかは不明である。
サファイア上のシリコン(SOS)は、絶縁基板がサファイアで活性基板がシリコンである、SOI(シリコン・オン・インシュレーター)技術の特定のタイプです。 [ 22 ]エピタキシャル層とドーピングは必要に応じて調整できます。2024年現在、商用生産におけるSOSは通常150mmウェハサイズが最大です。
GaAsウェーハは、2024年時点で商業生産されている最大サイズが150mmである傾向がある。[ 23 ]
AlNは商業生産では50mm(2インチ)ウェハが主流ですが、旭化成などのウェハサプライヤーは2024年現在、100mm(4インチ)ウェハの開発を進めています。しかし、ウェハが商業的に存在しているからといって、そのウェハ上にチップを製造するための加工装置が存在するとは限りません。実際、そのような装置の開発は、有料の最終顧客からの需要が具体化するまで遅れる傾向があります。装置が開発された後(数年)、製造工場がその装置を効率的に使用する方法を確立するまでには、さらに数年かかることもあります。
試作段階ではダイヤモンドは50~55mmまたは約2インチのウェハーであることが多いが、2026年以降は商業生産を目指している。[ 24 ]
エッチング工程などのウェーハ製造工程の単位あたりで生産できるチップ数は、ウェーハ面積の増加に比例して増加する一方、単位製造工程のコストはウェーハ面積の増加よりも緩やかに上昇する。これがウェーハサイズ拡大のコスト面での根拠であった。 2000年代初頭に200mmウェーハ から300mmウェーハへの移行 が始まり、ダイあたりの価格が約30~40%削減された。ウェーハの直径が大きくなれば、ウェーハ1枚あたりのダイ数も増加する。
中国では2020年現在、M1ウェハサイズ(156.75mm )の段階的廃止が進められている。様々な非標準ウェハサイズが登場したため、M10規格(182mm )の完全採用に向けた取り組みが継続されている。他の半導体製造プロセスと同様に、異なる種類のデバイスの製造プロセスの違いにもかかわらず、コスト削減がこのサイズ変更の主な推進要因となっている。


ウェーハは、規則的な結晶構造を持つ結晶から成長します。シリコンは、格子間隔が 5.430710 Å (0.5430710 nm)のダイヤモンド立方構造を持っています。 [ 25 ]ウェーハに切断すると、表面は結晶方位と呼ばれるいくつかの相対方向のいずれかに整列します。方位はミラー指数で定義され、シリコンでは (100) 面または (111) 面が最も一般的です。[ 25 ] 単結晶の構造的および電子的特性の多くは高度に異方性であるため、方位は重要です。イオン注入の深さはウェーハの結晶方位に依存します。各方向には輸送のための異なる経路があるためです。[ 26 ]
ウェハの劈開は通常、明確に定義された数方向のみで発生します。劈開面に沿ってウェハに溝を刻むことで、ウェハを個々のチップ(「ダイ」)に容易に分割することができ、平均的なウェハ上の数十億個の回路素子を多数の個々の回路に分離することが可能になります。
直径200 mm 未満のウェーハには、ウェーハの結晶面 (通常は {110} 面) を示す平面が1 面または複数面に切り込まれています。初期世代のウェーハでは、異なる角度の一対の平面がドーピングの種類も示していました (慣例については図を参照)。直径 200 mm 以上のウェーハでは、ウェーハの向きを示すために 1 つの小さなノッチが使用され、ドーピングの種類は視覚的に表示されません。450 mm ウェーハにはノッチがなく、ウェーハ表面にレーザーで刻まれた構造によって向きが示されます。[ 27 ]
シリコンウェーハは一般的に100%純粋なシリコンではなく、溶融物に添加されるホウ素、リン、ヒ素、またはアンチモンの初期不純物ドーピング濃度が1 cm 3あたり 10 13~ 10 16個の原子で形成され、ウェーハがバルク n 型または p 型のいずれかになります。[ 28 ]しかし、単結晶シリコンの原子密度がcm 3あたり 5×10 22個の原子であることと比較すると、それでも 99.9999% を超える純度が得られます。ウェーハには、初期段階で格子間酸素濃度を持たせることもできます。炭素と金属の汚染は最小限に抑えられています。[ 29 ]特に遷移金属は、電子機器用途では 10 万分の 10 の濃度以下に抑える必要があります。[ 30 ]
生産性の向上が見込まれるにもかかわらず、投資に対するリターンが不十分であるという懸念から、450 mm ウェーハへの移行にはかなりの抵抗がある。ダイ間/エッジツーエッジのウェーハばらつきの増加やエッジ欠陥の増加に関連する問題もある。450 mm ウェーハのコストは 300 mm ウェーハの 4 倍になると予想され、装置コストは 20 ~ 50% 上昇すると予想されている。[ 31 ]大型ウェーハ用の高価な半導体製造装置により、450 mm ファブ (半導体製造施設または工場) のコストが増加する。リソグラファーのクリス・マックは 2012 年に、ウェーハ処理コストの 50% 以上がリソグラフィ関連であるため、 450 mm ウェーハのダイあたりの全体的な価格は 300 mm ウェーハと比較して 10 ~ 20% しか削減されないと主張した。450 mm ウェーハへの変換は、コストがウェーハ面積ではなくウェーハ数に関連するエッチングなどのプロセス操作のダイあたりの価格のみを削減する。リソグラフィなどのプロセスのコストはウェーハ面積に比例し、ウェーハが大きくなってもダイコストに対するリソグラフィの寄与は減少しない。[ 32 ]
ニコンは2015年に450mmリソグラフィ装置を納入し、2017年に量産を開始する計画だった。[ 33 ] [ 34 ] 2013年11月、ASMLはチップメーカーの需要の時期が不確実であることを理由に、450mmリソグラフィ装置の開発を一時停止した。[ 35 ]
2012年、ニューヨーク州(SUNY Poly / College of Nanoscale Science and Engineering (CNSE))、Intel、TSMC、Samsung、IBM、Globalfoundries、Nikonの各社からなるグループが、Global 450mm Consortium (G450C、 SEMATECHに類似) と呼ばれる官民パートナーシップを結成し、「450mmウェハレベルへの協調的な業界移行を可能にする費用対効果の高いウェハ製造インフラストラクチャ、機器プロトタイプ、ツール」を開発するための5カ年計画(2016年に期限切れ)を策定した。[ 36 ] [ 37 ] 2014年半ば、CNSEはSEMICON Westで初の完全パターン化された450mmウェハを公開すると発表した。[ 38 ] 2017年初頭、G450Cは理由は明らかにされていないが、450mmウェハ研究に関する活動を解体し始めた。[ 39 ] [ 40 ] [ 41 ]さまざまな情報源は、当時 SUNY Poly の最高経営責任者であったAlain E. Kaloyerosに対する入札談合の告発がグループの終焉につながったと推測している。 [ 41 ] [ 40 ] [ 42 ] 300mm 製造の最適化が、コストのかかる 450mm への移行よりも安価であるという事実に対する業界の認識も一因となった可能性がある。[ 41 ]
450 mm のタイムライン は確定していません。2012 年に 450 mm の生産が 2017 年に開始されると予想されていましたが、それは実現しませんでした。[ 43 ] [ 44 ]当時Micron Technologyの CEO であった Mark Durcan 氏は、2014 年 2 月に、450 mm の採用は無期限に延期されるか、中止されると予想していると述べました 。「450 mm が実現するとは確信していませんが、実現するとしても、かなり先の未来です。少なくとも今後 5 年間は、Micron が 450 mm に多額の費用をかける必要性はあまりありません。」[ 45 ]
「それを実現するには、機器業界に多額の投資が必要です。そして、最終的に顧客がその機器を購入する価値があるかどうかは疑わしいと思います。」[ 46 ] 2014年3月時点で、インテル社は 2020年(今世紀末まで)までに450mmの展開を予想していました。[ 47 ] semiengineering.comのマーク・ラペダスは2014年半ばに、チップメーカーが 「当面の間」450mmの採用を延期したと報告しました。この報告によると、一部のオブザーバーは2018年から2020年を予想していましたが、VLSI Researchの最高経営責任者であるG・ダン・ハッチソンは、450mmファブが生産に移行するのは2020年から2025年までないと考えていました。[ 48 ]
300 mm へのステップアップには 大きな変更が必要で、200 mmウェーハ用のほとんど自動化されていない工場とは異なり、 300 mm ウェーハを使用する工場は完全に自動化されています。これは、 300 mm ウェーハ用のFOUP は25 枚の 300 mm ウェーハを積載すると約 7.5 kg [ 49 ]になるのに対し、 SMIF は25 枚の 200 mm ウェーハを積載すると約 4.8 kg [ 50 ] [ 51 ] [ 17 ]になるため、工場作業員には 2 倍の体力が必要となり、疲労が増加するためです。300 mm FOUP にはハンドルが付いているため、手で移動できます。450 mm FOUP は25 枚の 450 mm ウェーハを積載すると45 kg [ 52 ]になるため、クレーンを使用して手動で FOUP を取り扱う必要があり[ 53 ]、FOUP にはハンドルがなくなります。 FOUPは、村田製作所またはダイフクのマテリアルハンドリングシステムを使用して移動されます。これらの大規模な投資は、ドットコムバブル崩壊後の景気低迷期に行われたため、当初の予定通りに450mmにアップグレードすることに大きな抵抗が生じました。450mmへの増産時には、結晶インゴットの重量が3倍(総重量1トン)になり、冷却に2~4倍の時間がかかり、処理時間も2倍になります。つまり、450mmウェーハの開発には、克服すべき大きなエンジニアリング、時間、コストが必要となります。
ダイ1個あたりのコストを最小限に抑えるため、メーカーは1枚のウェハから製造できるダイの数を最大化したいと考えています。ウェハダイシングの制約により、ダイは常に正方形または長方形の形状になります。一般に、これは解析解のない計算的に複雑な問題であり、ダイの面積とアスペクト比(正方形または長方形)だけでなく、スクライブラインやソーレーンの幅、アライメント構造やテスト構造が占める追加スペースなどの他の考慮事項にも依存します。(スクライブラインとソーレーンの幅が両方ともゼロで、ウェハが平面のない完全な円形であり、ダイのアスペクト比が正方形であると仮定して問題を単純化すると、数学における未解決問題であるガウス円問題にたどり着きます。)
ウェーハあたりの総ダイ数(DPW)を推定する式は、ウェーハ上に収まる完全なダイの数のみを考慮していることに注意してください。総DPWの計算では、欠陥やパラメータの問題による完全なダイの歩留まり損失は考慮されていません。

それにもかかわらず、総DPW数は、ウェーハ対ダイ面積比の一次近似またはフロア関数から推定できます。
どこ
この式は、ウェハ上に配置できるダイの数は、ウェハの面積を個々のダイの面積で割った値を超えることはできない、ということを単純に示しています。この式は、ウェハ表面に完全には配置されていない部分的にパターン化されたダイの面積も含むため(図を参照)、常に実際の最良の場合の総ダイ面積を過大評価することになります。これらの部分的にパターン化されたダイは完全なICではないため、通常は機能部品として販売することはできません。
この単純な式を改良すると、通常は端部補正が追加されます。これは、端部にある部分的なダイを考慮するためのもので、一般的に、ダイの面積がウェーハ全体の面積に比べて大きい場合に、より顕著になります。もう一方の極限ケース(ダイが極めて小さい場合、またはウェーハが極めて大きい場合)では、端部補正は無視できます。
補正係数または補正項は、一般的にデ・フリースが挙げた形式のいずれかをとる。[ 54 ]
これらの解析式と総当たり計算結果を比較した研究では、補正係数を1より大きい値または小さい値に調整し、線形ダイ寸法を置き換えることで、実用的なダイサイズとアスペクト比の範囲で、式をより正確にできることが示されています。と(平均辺長)アスペクト比の大きい金型の場合:[ 54 ]
電子産業で使用されるウェーハの材料としてはシリコンが主流ですが、他の化合物III-V族またはII-VI族材料も使用されています。チョクラルスキー法で製造されるIII-V族半導体であるガリウムヒ素(GaAs) 、窒化ガリウム(GaN)、炭化ケイ素(SiC)も一般的なウェーハ材料であり、GaNとサファイアはLED製造に広く使用されています。[ 7 ]
{{cite web}}: CS1メンテナンス: アーカイブサービスは非推奨になりました (リンク){{cite web}}: CS1メンテナンス: アーカイブサービスは非推奨になりました (リンク)報道によると、Intel、TSMC、Samsungはそれぞれ2012年までに450mm
プロトタイプ
ファブの登場を目指して推進している。
ニコンは2017年に450mmウェハリソグラフィシステムを量産開始する予定。
Nikonは2015年までに「早期学習ツール」を出荷する予定だった。「すでに述べたように、2015年には顧客からの注文に応えるために出荷する予定です」と、Nikon PrecisionのエグゼクティブバイスプレジデントであるHamid Zarringhalam氏は述べた。
年11月、お客様の決定を受けて、ASMLは、お客様の需要とそれに関連する時期が明確になるまで、450mmリソグラフィシステムの開発を一時停止することを決定しました
。
と業界の他の企業は、当面の間 450 mm ファブへの移行を延期しており
、多くの人が次の疑問を抱いている。450
mm テクノロジーはもう終わったのか?答えは、450
mm は現在、停滞している状態である。