
光学において、顕微鏡、望遠鏡、カメラなどのあらゆる光学機器やシステムには、回折の物理法則により、解像度に根本的な限界があります。光学機器がこの解像度性能の限界に達した場合、その機器は回折限界であると言われます。レンズの不完全性や収差など、他の要因も光学システムの性能に影響を与える可能性がありますが、これらはレンズの製造または計算の誤差によって引き起こされるのに対し、回折限界は理論的に完全な、または理想的な光学システムで可能な最大解像度です。[ 1 ]
装置の回折限界角分解能(ラジアン)は、観測対象の光の波長に比例し、対物レンズの入射口径に反比例します。円形開口部を持つ望遠鏡の場合、回折限界となる像の最小の特徴のサイズは、エアリーディスクのサイズです。望遠レンズの開口部のサイズを小さくすると、回折は比例して増加します。f /22のような小さな開口部では、ほとんどの現代のレンズは、収差やその他の構造上の欠陥ではなく、回折によってのみ制限されます。
顕微鏡の場合、回折限界空間分解能は、光の波長と、対物レンズまたは物体照明光源のいずれか小さい方の開口数に比例する。
天文学において、回折限界観測とは、使用する観測装置のサイズにおいて、理論的に理想的な対物レンズの解像度を達成する観測のことである。しかし、地球からの観測のほとんどは、大気の影響によりシーイング限界に達している。地球上の光学望遠鏡は、数キロメートルに及ぶ乱流大気を光が通過する際に生じる歪みのため、回折限界よりもはるかに低い解像度でしか観測できない。先進的な天文台では補償光学技術が用いられ始め、暗い天体の画像解像度は向上しているものの、補償光学を用いても回折限界に到達することは依然として困難である。
電波望遠鏡は、使用する波長(ミリメートルからメートル)が非常に長いため、大気による歪みが無視できるほど小さく、回折限界に達することが多い。ハッブル宇宙望遠鏡や、多くの非光学望遠鏡などの宇宙望遠鏡は、光学収差のない設計であれば、常に回折限界で動作する。
ほぼ理想的なビーム伝搬特性を持つレーザーからのビームは、回折限界ビームと表現できます。回折限界レーザービームは、回折限界光学系を通過すると、依然として回折限界ビームのままであり、その空間的または角度的な広がりは、レーザーの波長における光学系の分解能とほぼ等しくなります。
アッベ回折限界があるため、顕微鏡によるサブ波長構造の観察は困難です。エルンスト・アッベは1873 年の論文、466 ページで初めて回折限界について言及しました。「[…] die physikalische Unterscheidungsgrenze […] hängt allein vom Oeffnungswinkel ab und ist dem Sinus seines halben Betrages比例」、または「[…] 解像度の物理的限界は […] 開口角のみに依存し、その大きさの半分の正弦に比例します。」[ 2 ]アッベは1882年の論文461ページでそれを数式の形で書きました。「与えられた開口部の届く範囲にある最小の寸法は、周期的または規則的な構造に対するその開口部の分解能または分離能力の限界、つまり、問題の開口部で与えられた要素を個別に描写できる最小距離を取ることによって十分な精度で示されます。その最小距離の数値表現は次のとおりです」[ 3 ]
どこ波長は、は媒質の屈折率であり、は光学系によって集束された光の半角である。同じ式は1874年にヘルマン・フォン・ヘルムホルツによって証明された。[ 4 ]分母の部分は開口数(NA)と呼ばれ、現代の光学では約1.4~1.6に達するため、アッベ限界は。
波長約500nmの緑色光 とNA1を考慮すると、アッベの限界はおおよそ(0.25 μm)は、ほとんどの生物細胞(1 μm~100 μm)に比べると小さいが、ウイルス(100 nm)、タンパク質(10 nm)、およびより単純な分子(1 nm)に比べると大きい。解像度を上げるには、UV顕微鏡やX線顕微鏡などのより短い波長を用いることができる。これらの技術はより高い解像度を提供するが、高価であり、生物試料のコントラストが不足し、試料を損傷する可能性があるという欠点がある。
デジタルカメラでは、回折効果が規則的なピクセルグリッドの効果と相互作用します。光学系のさまざまな部分の複合効果は、点像分布関数(PSF)の畳み込みによって決定されます。回折限界の円形開口レンズの点像分布関数は、単純にエアリーディスクです。カメラの点像分布関数、別名機器応答関数 (IRF) は、ピクセルピッチに等しい幅を持つ矩形関数で近似できます。イメージセンサーの変調伝達関数 (PSF から導出) のより完全な導出は、Fliegel によって与えられています。[ 5 ]正確な機器応答関数が何であれ、それはレンズの f 値にほとんど依存しません。したがって、異なる f 値では、カメラは次の 3 つの異なるモードで動作する可能性があります。
回折限界PSFの広がりは、エアリーディスクの最初のヌルの直径によって近似される。
どこは光の波長であり、は結像光学系のf値、すなわち、アッベの回折限界式において。例えば、f/8 レンズの場合 (そして)そして青信号(0.5 μm 波長の光の場合、集光スポットの直径は d = 9.76 μm または 19.5になります。これは、市販されているほとんどの「フルフレーム」(センサー対角43mm)カメラのピクセルサイズと似ているため、これらのカメラはf値が8前後で領域3で動作します(f値が8より小さい場合、回折限界に近いレンズはほとんどありません)。
センサーが小さいカメラはピクセルも小さくなる傾向がありますが、レンズはより小さな f 値で使用するように設計されており、レンズが回折限界に達する f 値では領域 3 で動作する可能性が高いです。同じ視野、ピクセル数、シャッター スピード、ショット ノイズSNR (つまり、ピクセルあたりに収集される光の量が同じ) の場合、同等の品質の小型センサーと大型センサーは同じデジタル 画像を生成します。回折と被写界深度の両方によるぼけの量も同じです。[ 7 ]大型センサーには、レンズの最大入射瞳径が大きくなる傾向があるという利点があり、これにより、より広い範囲で被写界深度を犠牲にして、回折ぼけを減らし、より高い SNR またはより速いシャッター スピードを実現できます。[ 8 ]
特殊な光学システムとデジタル画像処理を用いることで、回折限界光学系を単純に使用した場合よりも高解像度の画像(色や形状など、対象物の特定の側面において)を生成することが可能です。[ 9 ]これらの主に計算に基づく手法は、電子顕微鏡などの他の代替手段よりも優位性があり、個々の分子のかなり正確な画像を生成するために使用されてきました。[ 10 ] [ 11 ]これらの技術は解像度のいくつかの面を改善しますが、一般的に単純な光学顕微鏡を使用する場合と比較して、コストと複雑さが大幅に増加します。通常、この技術は、いくつかの一般的なアプローチを以下に概説した、イメージング問題のごく一部にのみ適しています。
顕微鏡の実効解像度は、側面から照明を当てることで向上させることができる。
明視野顕微鏡や微分干渉コントラスト顕微鏡などの従来の顕微鏡では、コンデンサーを使用することでこれを実現します。空間的に非干渉的な条件下では、画像はコンデンサー上の各点から照明された画像の合成として理解され、それぞれの点が物体の空間周波数の異なる部分をカバーします。[ 12 ]これにより、解像度は最大で2倍向上します。
全ての角度から同時に照明する(コンデンサーを完全に開く)と、干渉コントラストが低下します。従来の顕微鏡では、最大解像度(コンデンサーを完全に開いた状態、N = 1)はめったに使用されません。さらに、部分的にコヒーレントな条件下では、記録された画像は、特に自発光しない(蛍光を発しない)物体を観察する場合、物体の散乱ポテンシャルに対して非線形になることがよくあります。[ 13 ]コントラストを高め、場合によってはシステムを線形化するために、非従来型の顕微鏡(構造化照明付き)は、既知の照明パラメータを持つ一連の画像を取得することによってコンデンサー照明を合成します。通常、これらの画像は合成され、完全に閉じたコンデンサーを使用する場合(これもめったに使用されません)と比較して、物体の空間周波数のより広い範囲をカバーするデータを持つ単一の画像を形成します。
別の技術である4Pi顕微鏡法は、対向する2つの対物レンズを使用して有効開口数を2倍にし、前方散乱光と後方散乱光を収集することで回折限界を実質的に半分にします。透明なサンプルを、非干渉性照明または構造化照明と前方散乱光および後方散乱光の両方を組み合わせて画像化することで、散乱球全体を画像化することが可能です。
位置特定に依存する手法とは異なり、このようなシステムは依然として照明(コンデンサー)および集光光学系(対物レンズ)の回折限界によって制限されるが、実際には従来の方法と比較して大幅な解像度向上を実現できる。
回折限界は、検出器にエバネッセント場が到達しないことを前提としているため、遠視野でのみ有効です。像面から約1波長以内の距離で動作するさまざまな近視野技術では、大幅に高い解像度が得られます。これらの技術は、エバネッセント場が回折限界を超える情報を含んでいるという事実を利用して、非常に高解像度の画像を構築します。原理的には、特定のイメージングシステムが近視野信号をどれだけうまく検出できるかに比例する係数で回折限界を上回ります。散乱光イメージングの場合、原子間力顕微鏡システムの上に構築された近視野走査型光学顕微鏡やナノFTIRなどの装置を使用して、最大10~50 nmの解像度を達成できます。このような装置で記録されたデータは、多くの場合、各画像に対して光学逆問題を解くという、かなりの処理を必要とします。
メタマテリアルを用いたスーパーレンズは、対物レンズを対象物に極めて近い位置(通常は数百ナノメートル)に配置することで、回折限界を超える解像度で画像を取得できる。
蛍光顕微鏡では、励起光と発光光は通常、異なる波長で用いられます。全反射蛍光顕微鏡では、カバーガラス直上の試料の薄い部分をエバネッセント場によって励起し、従来の回折限界対物レンズで記録することで、軸方向の分解能を向上させています。
しかし、これらの技術は1波長を超える波長を画像化できないため、1波長よりも厚い物体を画像化することはできず、その適用範囲が制限される。
遠視野イメージング技術は、照明波長に比べて大きいが微細構造を持つ物体をイメージングする場合に最も適している。これには、細胞が複数の波長にまたがり、分子スケールまでの構造を持つほぼすべての生物学的応用が含まれる。近年、いくつかの技術によって、マクロスケールの距離にわたって回折限界以下のイメージングが可能であることが示された。これらの技術は通常、物質の反射光における光学的非線形性を利用して、回折限界を超える解像度を実現する。
これらの技術の中でも、STED顕微鏡は最も成功した技術の一つです。STEDでは、複数のレーザービームを用いてまず蛍光色素を励起し、次に消光します。消光過程における非線形な光応答(光量を増やすと像が暗くなる)により、色素分子の位置に関する回折限界以下の情報が得られ、高強度の照明を用いることで回折限界をはるかに超える解像度を実現できます。
レーザービームの集束や平行光化における限界は、顕微鏡や望遠鏡を用いたイメージングにおける限界と非常によく似ています。唯一の違いは、レーザービームは通常、エッジが柔らかいビームであるということです。この光分布の不均一性により、イメージングでよく知られている1.22という値とはわずかに異なる係数が生じます。しかし、波長と開口径に対するスケーリングは全く同じです。
レーザービームのビーム品質は、同じ波長の理想的なガウスビームとの伝搬特性の一致度によって特徴づけられます。ビーム品質係数M²(M² )は、ビームウエストにおけるビームサイズと、ウエストから離れた位置でのビームの発散を測定し、その積(ビームパラメータ積と呼ばれる)を求めることで得られます。この測定されたビームパラメータ積と理想的なビームパラメータ積との比をM²と定義し、 M²=1は理想的なビームを表します。ビームのM²値は、回折限界光学系によって変換されても保存されます。
多くの低出力および中出力レーザーの出力は、M²値が1.2以下であり、実質的に回折限界に達している。
M 2係数はさまざまな方程式に含まれ、ビームの非理想性を補正します。たとえば、平行レーザービームをレンズで集光して得られる最小スポットサイズは次のようになります。
どこはレンズの焦点距離であり、はビームの直径です。[ 14 ]
同じ原理は、レーダーや人間の耳など、他の波動ベースのセンサーにも適用されます。また、粒子の運動量に反比例するド・ブロイ波長を実効波長として用いることで、質量のある粒子にも一般化できます。例えば、10 keVのエネルギーを持つ電子の波長は約0.01 nmであり、これにより電子顕微鏡(SEMまたはTEM)は高解像度の画像を得ることができます。