説明 FeRAMセルの構造 従来のDRAMは、小さな コンデンサ のグリッドと、それに関連する配線および信号トランジスタ で構成されています。各記憶素子(セル) は、1つのコンデンサと1つのトランジスタで構成されており、いわゆる「1T-1C」デバイスです。[ 22 ]
FeRAMの1T-1Cストレージセル設計は、どちらのセルタイプも1つのコンデンサと1つのアクセストランジスタを含むという点で、DRAMのストレージセルと構造が似ています。[ 23 ] [ 24 ] DRAMセルコンデンサでは線形誘電体が使用されますが、FeRAMセルコンデンサでは誘電体構造に強誘電体材料 、典型的にはチタン酸ジルコン酸鉛 (PZT)が含まれます。[ 22 ]
強誘電体は、印加された電場と見かけ上蓄積された電荷との間に非線形な関係を持ちます。[ 25 ] 具体的には、強誘電体の特性はヒステリシス ループの形をしており、これは強磁性 体のヒステリシスループと形状が非常によく似ています。[ 26 ] 強誘電体の誘電率は、強誘電体の 結晶構造 に形成される半永久的な電気双極子 の影響により、一般的に線形誘電体の誘電率よりもはるかに高くなります。外部電場が誘電体に印加されると、原子の位置のわずかなずれと結晶構造内の電子電荷の分布のずれによって、双極子は電場の方向に整列する傾向があります。[ 26 ] 電荷が除去された後も、双極子は分極状態を保持します。各データ記憶セルには、バイナリの「0」と「1」が2つの可能な電気分極のいずれかとして格納されます[ 27 ] 2021 2027 グローバルおよび地域フェロ誘電体RAM産業の現状と展望プロフェッショナル市場 – Market Reports World。
動作の観点から見ると、FeRAM は DRAM と似ています。書き込みは、強誘電体層の両側のプレートを充電して強誘電体層全体に電界を印加し、内部の原子を (電荷の極性に応じて)「上」または「下」の方向に強制することで行われ、それによって「1」または「0」が保存されます。DRAM (ダイナミックランダムアクセスメモリ) の概要 - 技術記事。読み出し動作も DRAM と似ています。強誘電体 RAM: FRAM テクノロジーの動作 » 電子ノート。トランジスタはセルを特定の状態、たとえば「0」に強制します。セルがすでに「0」を保持していた場合、出力ラインでは何も起こりません。[ 1 ] セルが「1」を保持していた場合、フィルム内の原子の再配向により、「下」側の金属から電子が押し出されるため、出力に短い電流パルスが発生します。強 誘電体 RAM: FRAM テクノロジーの動作 » 電子ノート。このパルスの存在は、セルが「1」を保持していたことを意味します。このプロセスはセルを上書きするため、FeRAMの読み出しは破壊的なプロセスであり、セルを書き換える必要があります。[ 1 ] [ 28 ]
一般的に、FeRAMの動作は、1960年代の主要なコンピュータメモリの形態の1つであるフェライトコアメモリに似ています (コンピュータメモリ技術:フェライトリングからFRAMへ)。ただし、コアメモリと比較すると、FeRAMは極性の状態を反転させるのに必要な電力がはるかに少なく、また、はるかに高速です。
特徴と特性
密度 メモリシステムのコストを決定する主な要因は、それを構成する部品の密度です。部品が小さく、数が少ないほど、1つのチップ上に多くのセルを詰め込むことができ、その結果、1枚のシリコンウェハから一度に多くの製品を生産できます。[ 2 ] これにより歩留まりが向上し、コストに直接関係します。[ 29 ]
このスケーリングプロセスの下限は、重要な比較ポイントです。一般的に、最小のセルサイズまでスケーリングする技術は、ビットあたりのコストが最も低くなります。構造的には、FeRAMとDRAMは類似しており、一般的に同様のラインで同様のサイズで構築できます。[ 30 ] [ 2 ] どちらの場合も、下限はセンスアンプをトリガーするために必要な電荷量によって決まるようです。DRAMの場合、これは約55 nmで問題となるようで 、その時点ではコンデンサに蓄積された電荷が小さすぎて検出できません。[ 31 ]
サイズに関するもう一つの制約は、材料が小さすぎると強誘電性を失う傾向があることです。[ 32 ] [ 33 ] (この効果は強誘電体の「脱分極場」に関連しています。)強誘電性材料の安定化の問題に取り組む研究が進行中です。たとえば、分子吸着物を使用するアプローチがあります。[ 32 ]
消費電力 FeRAMがDRAMよりも優れている主な利点は、読み出しサイクルと書き込みサイクルの間に何が起こるかです。 [ 34 ] DRAMでは、金属プレートに蓄積された電荷が絶縁層と制御トランジスタを横切って漏れ、消滅します。DRAMが非常に短い時間以外データを保存するためには、すべてのセルを定期的に読み出して書き直す必要があり、このプロセスはリフレッシュ と呼ばれます。各セルは毎秒何度もリフレッシュする必要があり(通常は毎秒16回 [ 35 ] )、これには継続的な電力供給が必要です。対照的に、FeRAMはセルを実際に読み書きするときにのみ電力を必要とします。FRAMはMCUベースのシステムで消費電力を削減し、パフォーマンスを向上させることができます。
もう1つの不揮発性メモリタイプはフラッシュメモリ で、FeRAMと同様にリフレッシュプロセスは不要です。[ 26 ] フラッシュメモリは、高品質の絶縁バリアを介して電子を押し出し、トランジスタの一方の端子に「固定」することで動作します。このプロセスには高電圧が必要で、これは チャージポンプ で時間をかけて蓄積されます。つまり、FeRAMの書き込み電力は読み出し電力よりもわずかに高いだけなので、少なくとも書き込みに関しては、FeRAMはフラッシュメモリよりも低消費電力になると予想されます。FRAM - Texas InstrumentsのスマートICメモリ。「主に読み出し」デバイスではその差はわずかかもしれませんが、読み出しと書き込みのバランスが取れたデバイスではその差ははるかに大きくなると予想されます。[ 34 ]
信頼性 F-RAMでは、 MRAM と比較して、高磁場環境下でもデータの信頼性が保証されています。Cypress Semiconductorの[ 36 ] F-RAMデバイスは、強力な磁場に耐性があり、利用可能な最大磁場強度(水平挿入で3,700ガウス 、垂直挿入で2,000ガウス)でも故障は発生しません。FRAM - Texas InstrumentsのスマートICメモリ。さらに、F-RAMデバイスは、磁場にさらされた後でも、異なるデータパターンで書き換えることができます。[ 29 ]
スピード DRAMの速度は、セルに蓄積された電荷を放電(読み出し)または蓄積(書き込み)できる速度によって制限されます。[ 34 ] 一般的に、これは制御トランジスタの能力、セルに電力を供給するラインの容量、および電力によって発生する熱によって決まります。[ 27 ]
FeRAMは、外部電場に反応する原子の物理的な動きに基づいており、その速度は平均約1ナノ秒と非常に速い。[ 34 ] 理論的には、これはFeRAMがDRAMよりもはるかに高速になる可能性があることを意味する。しかし、読み書きのためにセルに電力を流す必要があるため、[ 37 ] 電気的遅延とスイッチング遅延は全体的にDRAMと似ていると思われる。DRAMは電荷を保持する 必要があるのに対し、FeRAMは電荷が放電される前に書き込みが行われるため、FeRAMはDRAMよりも少ない電荷で済むと考えるのは妥当と思われる。[ 29 ] ただし、電荷が制御トランジスタを通過する必要があるため、書き込みに遅延があり、電流がいくらか制限される。強誘電体メモリ:中間的な位置。
フラッシュと比較すると、その利点ははるかに明白です。[ 24 ] 読み出し動作の速度は同程度である可能性が高いですが、書き込みに使用されるチャージポンプは電流を「蓄積」するのにかなりの時間を要し、FeRAMではこのプロセスは不要です。[ 30 ] フラッシュメモリでは書き込みを完了するのに通常1ミリ秒以上かかりますが、現在のFeRAMでは150ナノ秒未満で書き込みを完了できます。[ 38 ]
一方、FeRAMには、インプリントや疲労などの信頼性の問題があります。[ 2 ] [ 39 ] インプリントとは、以前の書き込みによる優先分極状態のことで、疲労とは、繰り返し書き込みを行った後の分極の喪失により、最小書き込み電圧が上昇することです。[ 24 ]
FeRAMの理論上の速度は完全には明らかではありません。既存の350nm デバイスの読み出し時間は50~60ns程度です。読み出し時間が20ns程度の最新のDRAMと比較すると遅いものの、一般的な350nm DRAMの読み出し時間は約35nsであるため[ 40 ] 、同じ製造技術であればFeRAMの速度は同程度であると考えられます。
アプリケーション FeRAMはEEPROMなどの他の不揮発性メモリに比べて消費電力が少ないため、携帯型/埋め込み型医療機器のデータロガーに用いられる[ 46 ]。 Feramのエネルギー効率が高く信頼性の高いデータ保持機能は、ウェアラブル電子機器、センサー、アクチュエーターなどのIoTデバイスにとって理想的な選択肢となります。。 FeRAMは、ウェアラブルデバイス、スマートメーター、医療モニターなどに使用されています。。 FRAMは自動車業界で大きな可能性を秘めており、その主な利点の1つは高速書き込み機能です。Infineonは自動車用強誘電体RAMの製品群に新しいデバイスを追加しました - ニュース。 これらは、高速書き込み、低消費電力、高耐久性を実現するためにRFIDタグに統合されることが多く、サプライチェーン追跡、アクセス制御、スマートカードなどのアプリケーション向けに安全かつ頻繁なデータ更新を可能にします。FeRAM組み込みRFIDを選択する理由|RAMXEED。
市場 FeRAMは半導体市場全体のごく一部に過ぎない。 2005年の世界の半導体売上高は2350億米ドル(Gartner Group 調べ)で、フラッシュメモリ市場は186億米ドル(IC Insights調べ)を占めた。[ 47 ] おそらく最大のFeRAMベンダーであるRamtronの2005年の年間売上高は3270万米ドルと報告されている。代替のNVRAMと比較してフラッシュメモリの売上高がはるかに大きいため、研究開発努力もはるかに大きくなっている。フラッシュメモリは Samsungで30 nmの半導体線幅を使用して製造されている(2007年)が、FeRAMは 富士通で350 nm、 テキサス・インスツルメンツで130 nmの線幅で製造されている(2007年)。FRAM (強誘電体RAM)の概要とその歴史。フラッシュメモリセルは、セルあたり複数のビット(現在、最も高密度のNANDフラッシュデバイスでは4ビット)を保存でき、フラッシュセル設計の革新により、フラッシュセルあたりのビット数は8ビットに増加すると予測されています。NANDフラッシュメモリガイド:SLC、MLC、TLC、QLCの比較。その結果、フラッシュメモリの面積ビット密度はFeRAMよりもはるかに高く、したがってフラッシュメモリのビットあたりのコストはFeRAMのそれよりも桁違いに低くなります。[ 37 ]
FeRAMアレイの密度は、セルフットプリントの面積を縮小するための垂直キャパシタ構造の開発(DRAMと同様)など、FeRAMファウンドリプロセス技術とセル構造の改善によって増加する可能性がある。ただし、セルサイズを小さくすると、データ信号が弱くなりすぎて検出できなくなる可能性がある。[ 37 ] 2005年、ラムトロンは、電力メーター [ 48 ] 、自動車(ブラックボックス 、スマートエアバッグ など)、事務機器(プリンター、RAID ディスクコントローラなど)、計測機器、医療機器、産業用マイクロコントローラ、無線周波数識別 タグなど、さまざまな分野でFeRAM製品が大量に売れたと報告した。MRAMなどの他の新興NVRAMは、FeRAMと競合する同様のニッチ市場への参入を目指す可能性がある。[ 49 ]
テキサス・インスツルメンツは、 従来のCMOS半導体製造中に2つの追加のマスク工程[ 50 ] を使用してFeRAMセルを埋め込むことが可能であることを実証しました。フラッシュメモリは通常9つのマスクを必要とします。これにより、例えば、プロセスを簡素化することでコストを削減できるマイクロコントローラへのFeRAMの統合が可能になります。ただし、FeRAMの製造に使用される材料は、CMOS集積回路製造では一般的に使用されていません。PZT強誘電体層と電極に使用される貴金属の両方が、CMOSプロセスとの互換性と汚染の問題を引き起こします。テキサス・インスツルメンツは 、新しいFRAMシリーズのMSP430 マイクロコントローラにFRAMメモリを組み込んでいます。 [ 51 ]
容量に関するタイムライン 2021年時点では、さまざまなベンダーがストレージサイズ(密度)が16Mb以下のメモリを搭載したチップを販売していた。[ 52 ]
参考文献 1 2 3 4 Rabe, Karin M.; Dawber, Matthew; Lichtensteiger, Céline; Ahn, Charles H.; Triscone, Jean-Marc (2007), "強誘電体の現代物理学:基礎的背景", Physics of Ferroelectrics: A Modern Perspective , Berlin, Heidelberg: Springer, pp. 1– 30, doi : 10.1007/978-3-540-34591-6_1 , ISBN 978-3-540-34591-6 1 2 3 4 5 シルバ、ホセ PB。アルカラ、ルーベン。アヴシ、ウイガーE.ニック・バレット。ベゴン=ルール、ローラ。ボルグ、マティアス。ピョン、スンヨン。チャン・スーチー。チョン・サンウク。チェ・ドクヒョン。コイグナス、ジャン。デシュパンデ、ヴィーレシュ。ディムラス、アタナシオス。デュブルデュー、カトリーヌ。フィナ、イグナシ(2023-08-01)。 「強誘電性ハフニアおよびジルコニアベースの材料およびデバイスに関するロードマップ」 。 APLマテリアル 。 11 (8) 089201。 Bibcode : 2023APLM...11h9201S 。 土井 : 10.1063/5.0148068 。 hdl : 10261/341290 . ISSN 2166-532X . ↑ アルカラ、R.;マテラーノ、M.ロメンツォPD。グルヌイエ、L.フランソワ、T.コイグナス、J.バクセラー、N.カラバス、C.シュヴァリエ、S.アンドリュー、F.ミコラジック、T.シュローダー、U. (2022)。 「BEOL 統合強誘電体 HfO 2 ベースの FeRAM 用キャパシタ: 使用条件に対する信頼性性能の外挿」 。 IEEE 電子デバイス協会ジャーナル 。 10 : 907– 912。 Bibcode : 2022IJEDS..10..907A 。 土井 : 10.1109/JEDS.2022.3198138 。 ISSN 2168-6734 。 ↑ Mikolajick, Thomas; Slesazeck, Stefan; Park, Min Hyuk; Schroeder, Uwe (2018年5月10日). "強誘電体ランダムアクセスメモリおよび強誘電体電界効果トランジスタ用強誘電体ハフニウム酸化物" . MRS Bulletin . 43 (5): 340– 346. Bibcode : 2018MRSBu..43..340M . doi : 10.1557/mrs.2018.92 . ISSN 0883-7694 . ↑ 「FRAM技術」 。サイプレス・セミコンダクトス。 ↑ "FeTRAM: メモリ 99% のエネルギーを含む" . 2011 年 9 月 29 日。 ↑ 「メモリ FRAM 4 M ビット (512 K × 8) MB85R4001A」 (PDF) 。 富士通セミコンダクター データシート 。富士通セミコンダクター。2013。DS501-00005-3v0-E。 1 2 3 「CY15B116QI データシート」 。サイプレスセミコンダクターズ。p. 19。 ↑ Mueller, Stefan; Muller, Johannes; Schroeder, Uwe; Mikolajick, Thomas (2012年8月29日). "メモリ用途向け強誘電体Si:HfO 2 薄膜の信頼性特性". IEEE Transactions on Device and Materials Reliability . 13 (1): 93– 97. doi : 10.1109/TDMR.2012.2216269 . ISSN 1530-4388 . ↑ リン・ユデ;そう、ポーチュン。タン、インツァン。スー、ジャンウェイ。ヤン・シンユン。チェン、ユーハオ。リン・チーピン。そう、ポーシャオ。チェン、ジュイチン。ツェン、ペイジャー。リー・ミンフン;ホウ・トゥオホン。シェウ、シーシュアン。ロー、ウェイチョン。ウー、チヒ(2021-12-11)。 「スケーリングされた HfZrO x FeRAM におけるエッジ デッド ドメインと耐久性の向上」。 2021 IEEE 国際電子デバイス会議 (IEDM) 。 IEEE。ページ 6.4.1 ~ 6.4.4。 土井 : 10.1109/IEDM19574.2021.9720692 。 ISBN 978-1-6654-2572-8 。↑ グルヌイエ、L.;バーボット、J.ラゲール、J.マーティン、S.カラバス、C.ロウロ、M.ベジャウイ、M.ミノレット、S.ケルディレス、S.ボイサデラス、C.マジス、T.ジャハン、C.アンドリュー、F. Coignus、J. (2023 年 5 月 15 日)。 「メモリおよび AI アプリケーション向けのハフニアベースの強誘電体デバイスおよびアレイの信頼性評価 (招待状)」。 2023 IEEE 国際信頼性物理シンポジウム (IRPS) 。 IEEE。 pp. 1–8 . doi : 10.1109/IRPS48203.2023.10118099 。 ISBN 978-1-6654-5672-2 。↑ Buck, Dudley A. (1952年6月). デジタル情報ストレージおよびスイッチング用強誘電体 (技術報告書). MIT . hdl : 1721.3/40244 . R-212. ↑ ルイ・N・リデナワー (1955年6月)。 「コンピュータメモリ」 。 サイエンティフィック ・アメリカン 。192 (6): 92。Bibcode : 1955SciAm.192f..92R。doi : 10.1038/scientificamerican0655-92 。 2016年8月22日にオリジナルから アーカイブ。 2016年8月 22 日 に 取得 。 ↑ 「1970年:半導体が磁気コアと競合」 。 コンピュータ歴史博物館 。 2019年 6月19日 取得 。 ↑ Thakoor S 、Thakoor AP (1995 年 6月)。「非破壊読み出しによる光学 的アドレス指定強誘電体メモリ」。Appl Opt . 34 ( 17): 3136–44。Bibcode : 1995ApOpt..34.3136T。doi : 10.1364 / AO.34.003136。hdl : 2014 / 33494。PMID 21052469 。 ↑ 「FRAMがビデオゲームと融合」 。EDN 。 第39巻 、第 5-8 号。 1994年。14ページ。 不揮発 性強誘電体RAM(FRAM)のこれまでで最大の使用量で、ビデオゲームメーカーのセガは、セッション間でゲームを保存するためにラムトロンインターナショナル社のFRAMを組み込んだ新作ゲーム「ソニック・ザ・ヘッジホッグIII」を数百万本出荷した。 1 2 Scott, JF (2003). "ナノ強誘電体" . Tsakalakos, Thomas; Ovid'ko, Ilya A.; Vasudevan, Asuri K. (編) 『ナノ構造:合成、機能特性および応用 』Springer. pp. 583-600 (584-5, 597). ISBN 978-94-007-1019-1 。↑ 「歴史:1990年代」 。SK ハイニックス 。 2021年2月5日に オリジナルからアーカイブ済み 。 2019年 7月6日 に取得。 ↑ Scott, JF (2003). "ナノ強誘電体" . Tsakalakos, Thomas; Ovid'ko, Ilya A.; Vasudevan, Asuri K. (編) 『ナノ構造:合成、機能特性および応用』 . ドルドレヒト:Springer Netherlands. pp. 584–600 . doi : 10.1007/978-94-007-1019-1_34 . ISBN 978-94-007-1019-1 。↑ 「2021~2027年 世界および地域別強誘電体ラム産業の現状と展望 プロフェッショナル市場 – Market Reports World」 。www.marketreportsworld.com 。 2025年12月19日 取得 。 ↑ 「サイプレス・セミコンダクター、ラムトロン買収を完了」 。デンバー・ビジネス・ジャーナル。2012年11月21日。 2012年11月30日時点の オリジナル よりアーカイブ。 1 2 McAdams, HP; Acklin, R.; Blake, T.; Du, X.-H.; Eliason, J.; Fong, J.; Kraus, WF; Liu, D.; Madan, S.; Moise, T.; Natarajan, S.; Qian, N.; Qiu, Y.; Remack, KA; Rodriguez, J. (2024年4月30日). "130nm 5LM Cu/FSGロジックプロセスを利用した64Mb組み込みFRAM". IEEE Journal of Solid-State Circuits . 39 (4): 667–677 . doi : 10.1109/JSSC.2004.825241 . ISSN 0018-9200 . ↑ Scott, James F.; Paz de Araujo, Carlos A. (1989-12-15). "強誘電体メモリ" . Science . 246 (4936): 1400– 1405. Bibcode : 1989Sci...246.1400S . doi : 10.1126/science.246.4936.1400 . PMID 17755995 . 1 2 3 ヤン、ワンワン;ユウ、チェンシー。リー・ハオリン。ファン、メンチー。ソン、シュジン。マ、ハイリ。周、鄭。チャン・ペンイン。黄、鵬。リュウ、フェイ。劉暁燕。カン・ジンフェン(2022年11月16日)。 「酸化ハフニウム系材料の強誘電性:物理機構からデバイス応用までの現状と将来展望 」 半導体ジャーナル 。 44 (5) 053101. 土井 : 10.1088/1674-4926/44/5/053101 。 ISSN 1674-4926 。 ↑ シュクラトフ、セルゲイ・I. (2019). 爆発性強誘電体発電機 . World Scientific. doi : 10.1142/10958 . ISBN 978-981-323-893-0 2025年8月7日 に取得 。1 2 3 Banerjee, Writam; Kashir, Alireza; Kamba, Stanislav (2022). "Hafnium Oxide (HfO2) – A Multifunctional Oxide: A Review on the Prospect and Challenges of Hafnium Oxide in Resistive Switching and Ferroelectric Memories" . Small . 18 (23) 2107575. Bibcode : 2022Small..1807575B . doi : 10.1002/smll.202107575 . ISSN 1613-6829 . PMID 35510954 . 1 2 Hwang, Cheol Seong (2015). "半導体メモリデバイスの展望:メモリシステムから材料まで" . Advanced Electronic Materials . 1 (6) 1400056. doi : 10.1002/aelm.201400056 . ISSN 2199-160X . ↑ Wang, Dong; Hao, Shenglan; Dkhil, Brahim; Tian, Bobo; Duan, Chungang (2024-09-01). " 神経科学に 基づくコンピューティングアプリケーションのための強誘電体材料" . Fundamental Research . 4 (5): 1272– 1291. Bibcode : 2024FunRe...4.1272W . doi : 10.1016/j.fmre.2023.04.013 . ISSN 2667-3258 . PMC 11489484 . PMID 39431127 . 1 2 3 西義雄、ブランカ・マジャリ=コペ(2019年6月15日)。 不揮発 性メモリおよびストレージ技術の進歩 。ウッドヘッド出版。ISBN 978-0-08-102585-7 。1 2 Schroeder, Uwe; Park, Min Hyuk; Mikolajick, Thomas; Hwang, Cheol Seong (2022年3月30日). "強誘電体HfO2の基礎と応用" . Nature Reviews Materials . 7 (8): 653– 669. doi : 10.1038/s41578-022-00431-2 . ISSN 2058-8437 . ↑ Saenger, KL; Andricacos, PC; Athavale, SD; Baniecki, JD; Cabral, C.; Costrini, G.; Kwietniak, KT; Laibowitz, RB; Lian, JJ; Limb, Y.; Neumayer, DA; Wise, ML (2000-12-01). "DRAMおよびFeRAM用電極とバリア:処理、統合、および基礎". MRS Online Proceedings Library . 655 (1): 240– 250. doi : 10.1557/PROC-655-CC2.1.1 . ISSN 1946-4274 . 1 2 Spanier, JE; Kolpak, AM; Urban, JJ; Grinberg, I.; Ouyang, L.; Yun, WS; Rappe, AM ; Park, H. (2006). "Ferroelectric phase transition in individual single-crystalline BaTiO 3 nanowires" (PDF) . Nano Letters . 6 (4): 735– 9. Bibcode : 2006NanoL...6..735S . doi : 10.1021/nl052538e . PMID 16608274 . ↑ Junquera, J.; Ghosez, P. (2003). "ペロブスカイト超薄膜における強誘電性の臨界厚さ". Nature . 422 (6931): 506–9 . Bibcode : 2003Natur.422..506J . doi : 10.1038/nature01501 . PMID 12673246 . 1 2 3 4 江下 孝、田村 孝、有本 裕 (2014-01-01)、 「14 - 強誘電体ランダムアクセスメモリ (FRAM) デバイス」 、西 義雄 (編)、 不揮発性メモリおよびストレージ技術の進歩 、Woodhead Publishing、pp. 434–454 、 doi : 10.1533/9780857098092.3.434 、 ISBN 978-0-85709-803-0 2025年8月25日 取得↑ 「TN-47-16: 高密度DDR2メモリの設計」 (PDF) 。 2006年9月20日に オリジナル (PDF) からアーカイブされました。 ↑ 「FRAM – 磁場耐性」 。サイプレス・セミコンダクターズ。 1 2 3 Chen, Yanning; Wang, Senlin; Liu, Fang; Wu, Bo; Deng, Yongfeng; Tao, Ran; Wu, Yongyu; Gao, Dawei (2025-01-05). "強誘電体電界効果トランジスタおよびランダムアクセスメモリの動作原理、構造設計および材料開発" . Journal of Alloys and Compounds . 1010 178077. doi : 10.1016/j.jallcom.2024.178077 . ISSN 0925-8388 . ↑ Locatelli, Nicolas; Herrera Diez, Liza; Mikolajick, Thomas (2020-01-01)、 「第4章 – 磁気メモリと強誘電体メモリ」 、Spiga, Sabina; Sebastian, Abu; Querlioz, Damien; Rajendran, Bipin (編)、 脳型コンピューティングのためのメモリスティブデバイス 、Woodhead Publishing Series in Electronic and Optical Materials、Woodhead Publishing、pp. 97–134 、 ISBN 978-0-08-102782-0 2025年8月25日 取得↑ Park, Min Hyuk; Lee, Young Hwan; Kim, Han Joon; Kim, Yu Jin; Moon, Taehwan; Kim, Keum Do; Müller, Johannes; Kersch, Alfred; Schroeder, Uwe; Mikolajick, Thomas; Hwang, Cheol Seong (2015). "ドープされた薄膜HfO2の強誘電性と反強誘電性" . Advanced Materials . 27 (11): 1811– 1831. Bibcode : 2015AdM....27.1811P . doi : 10.1002/adma.201404531 . ISSN 1521-4095 . PMID 25677113 . ↑ Lee, Dong-Jae; Seok, Yong-Sik; Choi, Do-Chan; Lee, Jae-Hyeong; Kim, Young-Rae; Kim, Hyeun-Su; Jun, Dong-Soo; Kwon, Oh-Hyun (1992年6月1日). 「オンチップ昇圧電源を用いた35 ns 64 Mb DRAM」. 1992年VLSI回路シンポジウム技術論文集 . pp. 64–65 . doi : 10.1109/VLSIC.1992.229238 . ISBN 978-0-7803-0701-8 。S2CID 62372447 – IEEE Xplore 経由。 ↑ 「F-RAM™ テクノロジー概要」 サイプレス・セミコンダクターズ。2016年6月。001-88042 Rev. *B。 2019年1月11日に オリジナル からアーカイブ済み。 ↑ Bondurant, David (2020年6月). 「モノのインターネット(IoT)向け不揮発性RAM」 (PDF) . IEEE Pikes Peak Section. ↑ 「FRAMデータシート」 サイプレス・セミコンダクターズ。 ↑ 「FRAM」 。サイプレス・セミコンダクターズ。 ↑ Wong, William G. (2018年3月21日). 「MRAMを永続メモリとして活用する」 . Electronic Design. ↑ 「FRAMとEEPROMのエネルギー比較」 サイプレス・セミコンダクターズ。 ↑ admin-ectnews (2005-12-09). "NANDが半導体売上高を過去最高の2350億ドルに押し上げる" . TechNewsWorld . 2025-08-07 に閲覧. ↑ 「ユーザーマニュアル:単相、単レート、クレジットメーター」 。Ampy Automation Ltd. FRAMは最低10,000,000,000回の書き込みサイクルが保証されています。 ↑ 「デバイスおよびシステムに関する国際ロードマップ(IRDS™)2023年版 – IEEE IRDS™」 。irds.ieee.org 。 2025年8月29日 取得 。 ↑ EETimes (2002-11-07). 「TI、90nm設計向けFRAM組み込みメモリを支援」 . EE Times . 2025-08-07 閲覧 . ↑ 「FRAM – 超低消費電力組み込みメモリ」 。テキサス・インスツルメンツ。 ↑ AG、インフィニオン・テクノロジーズ。 「F-RAM(強誘電体RAM) – インフィニオン・テクノロジーズ」 。www.infineon.com 。 2021年12月18日 取得 。
外部リンク FRAM(FeRAM)[サイプレス Ramtron社主催 FRAM(FeRAM) アプリケーションコミュニティ [言語: 中国語] 富士通によるFRAMの概要 トロント大学電気・コンピュータ工学科によるFeRAMチュートリアル FRAMの動作と技術に関するチュートリアル シリフ、ケン(2024年9月)。「強誘電体RAMチップの内部」。Ramtron FM24C64 FRAMチップのダイ...この記事では、1999年のFRAMチップの内部を見ていきます... Sheikholeslami, Ali; Gulak, PG (2000年5月) 「強誘電体ランダムアクセスメモリにおける回路革新の概観」(PDF) . Proceedings of the IEEE . 88 (5): 667– 689. Bibcode : 2000IEEEP..88..667S . doi : 10.1109/5.849164 . ICチップ 「1.1 MSP430 MCUの概要」。MSP430 ™ MCU開発ガイドブック (PDF) 。テキサス・インスツルメンツ。2021年5月。SLAU840A。16ビットMSP430 マイクロコントローラ(MCU)ファミリは、多くのアプリケーション向けに手頃な価格のソリューションを提供します。…現在、不揮発性メモリ(NVM)の種類に基づいて、フラッシュファミリとFRAMファミリの2つの主要なシリーズがあります。FRAM MCUは消費電力が少なく、フラッシュとRAMの特性を兼ね備えています。…FRAMシリーズには、MSP430FR2xx、MSP430FR4xx、MSP430FR5xx、およびMSP430FR6xxが含まれます。