質量分析の頭字語一覧

これは質量分析でよく使われる頭字語と頭字語を集めたものです。^{[1] [2]}

• ADI – 周囲温度脱離イオン化
• AE – 外見エネルギー
• AFADESI – 空気流支援脱着エレクトロスプレーイオン化
• AFAI – 空気流補助イオン化^[3]
• AFAPA – エアロゾル流動大気圧残光
• AGHIS – オールガラス加熱吸気システム^[4]
• AIRLAB – 周囲赤外線レーザーアブレーション^[5]
• AMS – 加速器質量分析法
• AMS – エアロゾル質量分析計
• AMU – 原子質量単位
• AP – 外見の可能性
• AP MALDI – 大気圧マトリックス支援レーザー脱離/イオン化
• APCI – 大気圧化学イオン化
• API – 大気圧イオン化
• APPI – 大気圧光イオン化
• ASAP – 大気サンプル分析プローブ
• ASMS – アメリカ質量分析学会

• BP – ベースピーク
• BIRD – 黒体赤外線放射解離^[6]

• CRF – 遠隔フラグメンテーションのチャージ
• CSR – 電荷剥離反応
• CI – 化学イオン化
• CA – 衝突活性化
• CAD – 衝突活性化解離
• CID – 衝突誘起解離
• CRM – 連続反応モニタリング
• CF-FAB – 連続流高速原子衝撃
• CRIMS – 化学反応界面質量分析法^[7]
• CTD – 電荷移動解離^[8]

• DE – 遅延抽出
• DADI – 娘イオンの直接分析
• DAPPI – 脱離大気圧光イオン化
• DEP – 直接暴露プローブ
• DESI – 脱離エレクトロスプレーイオン化
• DIOS – シリコン上の脱離/イオン化^[9]
• DIP – 直接挿入プローブ
• DART – リアルタイムでの直接分析
• DLI – 直接液体導入
• DIA – データ非依存取得

• EA – 電子親和力
• EAD – 電子活性化解離
• ECD – 電子捕獲解離
• ECI – 電子捕獲イオン化
• EDD – 電子分離解離
• EI – 電子イオン化（または電子衝撃）
• EJMS –ヨーロッパ質量分析ジャーナル
• ESA – 静電エネルギー分析装置
• ES/ESI – エレクトロスプレーイオン化
• ETD – 電子移動解離
• eV – 電子ボルト

• FAIMS – 高電界非対称波形イオン移動度分光法
• FAB – 高速原子衝撃
• FIB – 高速イオン衝撃
• FD – フィールド脱着
• FFR – 無磁場領域
• FI – 電界イオン化
• FT-ICR MS – フーリエ変換イオンサイクロトロン共鳴質量分析計
• FTMS – フーリエ変換質量分析計

• GDMS – グロー放電質量分析法

• HDX – 水素/重水素交換
• HCD – 高エネルギーCトラップ解離

• ICAT – 同位体コード化親和性タグ
• ICP – 誘導結合プラズマ
• ICRMS – イオンサイクロトロン共鳴質量分析計
• IDMS – 同位体希釈質量分析法
• IJMS –質量分析国際ジャーナル
• IRMPD – 赤外線多光子解離
• IKES – イオン運動エネルギー分光法
• IMS – イオン移動度分光法
• IMSC – 国際質量分析会議
• IMSF – 国際質量分析財団
• IRMS – 同位体比質量分析法
• IT – イオントラップ
• ITMS – イオントラップ質量分析法
• ITMS – イオントラップ移動度分光法
• iTRAQ – 相対定量と絶対定量のための等重体タグ

• JASMS –アメリカ質量分析学会誌
• JEOL – 日本電気光学研究所
• JMS –質量分析ジャーナル

• KER – 運動エネルギー放出
• KERD – 運動エネルギー放出分布

• LCMS – 液体クロマトグラフィー質量分析法
• LD – レーザー脱離
• LDI – レーザー脱離イオン化
• LI – レーザーイオン化
• LMMS – レーザーマイクロプローブ質量分析法
• LIT – リニアイオントラップ
• LSI – 液体二次イオン化
• LSII – レーザースプレーイオン化入口

• MIKES – 質量分析イオン運動エネルギー分光法
• MS – 質量分析計
• MS – 質量分析
• MS ² – 質量分析法/質量分析法、すなわちタンデム質量分析法
• MS/MS – 質量分析法/質量分析法、すなわちタンデム質量分析法
• MALDESI – マトリックス支援レーザー脱離エレクトロスプレーイオン化
• MALDI – マトリックス支援レーザー脱離イオン化
• MAII – マトリックス支援入口イオン化
• MAIV – マトリックス支援電離真空
• MIMS – 膜導入質量分析法、膜入口質量分析法、膜界面質量分析法
• MCP – マイクロチャネルプレート
• MS ⁿ – 多段質量分析法
• MCP – マイクロチャネルプレート
• MPI – 多光子イオン化
• MRM – 多重反応モニタリング

• NEMS-MS – ナノ電気機械システム質量分析
• NETD – 負の電子移動解離
• NICI – マイナスイオン化学イオン化
• NRMS – 中和再イオン化質量分析法

• oa-TOF – 直交加速飛行時間
• OMS –有機質量分析（ジャーナル）

• PDI – プラズマ脱離/イオン化
• PDMS – プラズマ脱離質量分析法
• PAD – 加速後検出器
• PSD – ポストソース減衰
• PyMS – 熱分解質量分析法

• QUISTOR – 四重極イオン貯蔵トラップ
• QIT – 四重極イオントラップ
• QMS – 四重極質量分析計
• QTOF – 四重極飛行時間

• RCM –質量分析における迅速な通信
• REIMS – 高速蒸発イオン化質量分析法
• REMPI – 共鳴増強多光子イオン化
• RGA – 残留ガス分析装置
• RI – 共鳴イオン化

• SAII – 溶媒支援イオン化入口
• SELDI – 表面増強レーザー脱離/イオン化
• SESI – 二次エレクトロスプレーイオン化
• SHRIMP – 高感度高解像度イオンマイクロプローブ
• SIFT – 選択イオンフローチューブ
• SILAC – 細胞培養におけるアミノ酸による安定同位体標識
• SIM – 選択イオンモニタリング
• SIMS – 二次イオン質量分析法
• SIR – 選択イオン記録
• SNMS – 二次中性質量分析法
• SRM – 選択反応モニタリング
• SWIFT – 保存波形の逆フーリエ変換
• SID – 表面誘起解離
• SIR – 表面誘起反応
• SI – 表面電離
• SORI – 持続的オフ共鳴照射

• TI – 熱イオン化
• TIC – 総イオン電流
• TICC – 総イオン電流クロマトグラム
• TLF – タイムラグフォーカス
• TMT – タンデムマスタグ
• TOF-MS – 飛行時間型質量分析計

• VG – 真空発生器（会社）

• MIT の質量分析の略語ページ