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ナノ電気機械システム質量分析計( NEMS-MS ) は、 NEMS共振器上の粒子の吸着によって生じる周波数シフトを検出することにより、分析対象粒子の質量を測定する装置です。
NEMS-MSは、 1999年にカリフォルニア工科大学のマイケル・ルークス教授とカミル・エキンチ博士によって発明されました。 [1] [2]アトグラム規模の質量感度の最初の達成は、2001年の特許開示で文書化されました。その後のNEMS-MS感度のマイルストーンは、2004年（アトグラム規模の感度）[3]と2006年（ゼプトグラム規模の感度）に発表された出版物でカリフォルニア工科大学の研究者によって報告されました。[4]彼らはその後、2009年に単一分子分析を開発しました。 [5] [6]このチームによって、2012年に初めて単一生体分子の質量測定が達成されました。[7]ハイブリッドNEMS-MS/TOF-MS機器は2015年に報告されました。[8]
参照
参考文献
- ^ 米国公開 2009/0261241、Roukesおよび Kamil Ekinci、「超高感度ナノ電気機械質量検出装置および方法」、2001 年 5 月 4 日公開
- ^ 米国特許6,722,200 B2、ルークスとカミル・エキンチ、「超高感度ナノ電気機械質量検出装置および方法」、2004年4月20日発行
- ^ Ekinci, KL; Huang, XMH; Roukes, ML (2004). 「超高感度ナノ電気機械質量検出」.応用物理学レター. 84 (22): 4469. arXiv : cond-mat/0402528 . Bibcode :2004ApPhL..84.4469E. doi :10.1063/1.1755417. S2CID 118850381.
- ^ Yang, YT; Callegari, C.; Feng, XL; Ekinci, KL; Roukes, ML (2006). 「ゼプトグラムスケールのナノメカニカル質量センシング」. Nano Letters . 6 (4): 583–6. Bibcode :2006NanoL...6..583Y. CiteSeerX 10.1.1.423.3616 . doi :10.1021/nl052134m. PMID 16608248.
- ^ Naik, AK; Hanay, MS; Hiebert, WK; Feng, XL; Roukes, ML (2009 年 6 月 21 日). 「単一分子ナノメカニカル質量分析に向けて」. Nature Nanotechnology . 4 (7): 445–450. Bibcode :2009NatNa...4..445N. doi :10.1038/nnano.2009.152. PMC 3846395. PMID 19581898 .
- ^ 米国出願 2009/0261241、Roukes他、「ナノ電気機械システムによる単一分子質量分析 (nems-ms)」、2009 年 10 月 22 日公開
- ^ Hanay, MS; Kelber, SK; Naik, AK; Chi, D.; Hentz, S.; Bullard, EC; Colinet, E.; Duraffourg, L.; Roukes, ML (2012 年 8 月 26 日)。「リアルタイムでの単一タンパク質ナノメカニカル質量分析」。Nature Nanotechnology。7 ( 9 ) : 602–608。Bibcode :2012NatNa ... 7..602H。doi : 10.1038/NNANO.2012.119。PMC 3435450。PMID 22922541。
- ^ Sage, Eric; Brenac, Ariel; Alava, Thomas; Morel, Robert; Dupré, Cécilia; Hanay, Mehmet Selim; Roukes, Michael L.; Duraffourg, Laurent; Masselon, Christophe; Hentz, Sébastien (2015 年 3 月 10 日). 「ナノメカニカルシステムによる中性粒子質量分析」. Nature Communications . 6 : 6482. arXiv : 1405.7281 . Bibcode :2015NatCo...6.6482S. doi : 10.1038/ncomms7482. PMC 4366497. PMID 25753929.
外部リンク
- カリフォルニア工科大学の Roukes グループの NEMS-MS ページ