Theil (1950)の定義によれば、2 次元点の集合( x i , y i )の Theil–Sen 推定量は、すべてのサンプル点のペアによって決定される傾き( y j − y i )/( x j − x i )の中央値mです。Sen (1968)はこの定義を拡張し、2 つのデータ点が同じx座標を持つ場合を扱いました。 Sen の定義では、異なるx座標を持つ点のペアからのみ定義される傾きの中央値を取ります。[ 8 ]
傾きmが決定されたら、サンプル点から直線を求めることができます。これは、 y切片bを値y i − mx iの中央値に設定することによって行われます。近似直線は、傾き切片形式の係数mとbを持つ直線y = mx + bです。[ 12 ] Sen が指摘したように、この傾きの選択により、値x iとそれに対応する残差y i − mx i − bを比較する際に使用されるケンドールのタウ順位相関係数がほぼゼロになります。直感的に、これは近似直線がデータ点の上または下をどれだけ通過するかは、その点がデータセットの左側にあるか右側にあるかとは相関がないことを示唆しています。b の選択はケンドール係数には影響しませんが、中央値残差がほぼゼロになります。つまり、近似直線は同数の点の上と下を通過します。[ 9 ]
Theil–Sen 推定量の変形であるSiegel (1982)の繰り返し中央値回帰は、各サンプル点( x i , y i )について、その点を通る直線の傾き( y j − y i )/( x j − x i )の中央値m i を決定し、次にこれらの中央値の中央値として全体の推定量を決定します。これは Theil–Sen 推定量よりも多くの外れ値を許容できますが、これを効率的に計算するための既知のアルゴリズムはより複雑で実用的ではありません。[ 14 ]
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