メモリテスター

メモリ テスターは、メモリ モジュールをテストおよび検証するために使用される特殊なテスト機器です。

メモリ モジュール テスターは、ハードウェアメモリ テスターとPC環境で実行されるソフトウェア 診断プログラムの2 種類に大別できます。ハードウェア メモリ テスターに​​は、ソフトウェア診断テスト プログラムに比べて、より高度で包括的なテスト機能が組み込まれています。ソフトウェア診断では、メモリ モジュールがコンピュータ システムにすでにインストールされている場合でも、起こり得る問題を検出できます。

ハイエンドの自動テスト装置(ATE) クラス メモリ テスターは、Samsung、Hyundai、Micron などのほとんどの OEM メモリ チップ メーカーで使用されています。通常、価格はシステムあたり 100 万ドルから始まります。この装置は、十分に訓練された半導体エンジニアによって操作される必要があります。ATE クラス メモリ テスターは、メモリ チップのパッケージングの最終段階でメモリ障害を検出するための非常に複雑なテスト アルゴリズムを使用して構築されています。

ミッドレンジのメモリテスターは、通常 26,000 ドル以下の価格で、^[1]メモリモジュール製造アセンブリハウスでよく見られます。これらのテスターは、大量のメモリモジュールテストをサポートするために構築されています。また、チップがPCBまたは SIMM カードに組み立てられた後、はんだ付けミスやセル間の汚染によって引き起こされるアセンブリ障害を検出するためにも使用されます。これらのメモリテスターは通常、大量生産テスト用の自動処理システムにドッキングされているため、オペレーターによる手動介入が不要になります。

ローエンドのメモリ テスターは通常、1,000 ～ 3,000 ドルと比較的安価です。主な特徴は、携帯性、使いやすさ、比較的小型であることです。これらは通常、サービス業界、特にコンピューター サービス技術者、RMA 部門、メモリの再販業者/ブローカー/卸売業者によって、PC システムで故障したメモリ モジュールを検証およびテストするため、または PC に組み込む前に使用します。この範囲のメモリ テスターの品質と機能は、メーカーによって大きく異なります。優れたメモリ テスターは、ハイエンドの ATE や中規模メモリ テスターに​​匹敵する機能を備えています。重要なのは、ほとんどのメモリ障害や故障を効果的に捕捉できる、使いやすいテスターを手頃な価格で提供することです。

メモリ診断ソフトウェア プログラム (例: memtest86 ) は、PC のメモリ障害をチェックするために使用される低コストまたは無料のツールです。これらは通常、フロッピー ディスクまたはCD-ROM上の起動可能なソフトウェア配布の形式です。診断ツールは、コンピュータのすべてのシステム メモリをテストできるメモリ テスト パターンを提供します。診断ソフトウェアは、メモリまたはマザーボードが原因でPC を起動できない場合は使用できません。原理的には、テスト プログラムは、動作している場合はストレージ デバイス (例: フロッピー ディスク) またはプリンタに送信するか、サウンド信号によって結果を報告できますが、実際には動作するディスプレイが必要です。

微妙なタイミングの問題を検出できるより強力なメモリテストには、自己修正型、動的自己再配置型、潜在的に自己破壊型のメモリワームとして実装されるものがあり、ワームメモリテスト（またはワームテスト）と呼ばれます。^{[2] [3] [4] [5]}

メモリ テスターは、システム (メモリ チップ、ロジック チップ、または PCB ボード) の機能動作に影響を与える 2 種類の障害 (非永続的障害と永続的障害) を検出するように設計されています。

永続的な障害はシステム内のロジック値に永続的に影響を及ぼしますが、メモリ テスターを使用するとこれらの障害を簡単に検出できます。例:

• 集積回路、基板などの間の接続不良（はんだの飛散や設計上の欠陥による接続の欠落やショートなど）
• 壊れたコンポーネントまたはコンポーネントの一部
• ICマスクの不正確さ（製造上の問題）
• 機能設計エラー（実装する必要のある論理機能が正しく設計されていない）。
• ストレージセルの欠陥

非永続的な障害はランダムな瞬間に発生し、不特定の期間にわたってシステムの動作に影響を与えます。メモリ テスターでは、非永続的な障害の検出と位置特定が非常に困難です。非永続的な障害は、テスト中にシステムの動作に影響を与えない場合があります。

非永続的な障害には、一時的障害と断続的障害の 2 種類があります。

一時的な障害は検出が難しく、検出すべき明確に定義された障害はありません。一時的な障害によって RAM に発生するエラーはソフトウェア エラーと呼ばれることが多く、一時的な障害の原因となる可能性のある要因の例を次に示します。

• 宇宙線（紫外線）
• アルファ粒子（ダスト）
• 汚染
• 湿度
• 温度
• プレッシャー
• 振動
• 電源変動
• 電磁干渉
• 静電気放電
• グラウンドループ

断続的な障害は、次のような環境以外の条件によって発生します。

• 緩い接続
• 劣化または老朽化した部品
• 重要なタイミング
• 抵抗と静電容量の変化
• 身体的な異常
• ノイズ（ノイズはシステム内の信号を妨害します）
• ローハンマーの感受性

• メムテスト86
• 電源投入時のセルフテスト(POST)
• NOPスライド
• アップルワーム