内在的および外在的特性

科学と工学において、固有特性とは、特定の対象自体に存在する、または対象内に存在する特性のことです。外在特性は、特徴付けられる対象にとって不可欠でも固有でもありません。たとえば、質量はあらゆる物理的物体の固有特性ですが、重量は物体が置かれている重力場の強さに依存する外在特性です。

科学と工学における応用

材料科学において、固有特性は、材料がどれだけ存在するかに依存せず、材料の形状（例えば、1つの大きな塊か小さな粒子の集まりか）にも依存しません。固有特性は、主に材料の基本的な化学組成と構造に依存します。 ^[1]外在的特性は、回避可能な化学汚染物質や構造欠陥の存在に依存するものとして区別されます。^[2]

生物学では、自己免疫疾患や内因性免疫など、内因的影響は生物または細胞の内部から生じます。

電子工学や光学において、デバイス（またはデバイスシステム）の固有特性とは、一般的に、さまざまな種類の非本質的な欠陥の影響を受けない特性のことである。^[3]このような欠陥は、設計上の不完全さ、製造上の誤り、または極端な動作の結果として発生する可能性があり、特徴的で望ましくない外在的特性を生み出す可能性がある。固有特性と外在的特性の両方を特定、最適化、および制御することは、現代の電気システムや光学システムの高性能と信頼性を達成するために必要なエンジニアリングタスクの1つである。^[4]

参照

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集中的かつ広範な特性
モチベーション

参考文献

^ 食品および包装工学 (IFNHH、マッシー大学、ニュージーランド)
^ Mishra, Umesh および Singh, Jasprit、第 1 章: 半導体の構造特性。半導体デバイスの物理と設計、2008 年、1-27 ページ、doi :10.1007/978-1-4020-6481-4、ISBN 978-1-4020-6481-4
^ Sune, Jordi および Wu, Ernest Y.、第 16 章: SiO2 ベースのゲート誘電体の誘電体破壊に関連する欠陥。マイクロエレクトロニクス材料およびデバイスの欠陥 (Fleetwood, Daniel および Schrimpf, Ronald 編集)、2008 年、465-496 ページ、doi :10.1201/9781420043778、ISBN 9781420043778
^ 上田修、スティーブン J. ピアトン編著、半導体光学・電子デバイス向け材料・信頼性ハンドブック、2013 年、doi :10.1007/978-1-4614-4337-7、ISBN 978-1-4614-4337-7

[1] 食品および包装工学 (IFNHH、マッシー大学、ニュージーランド)

[2] Mishra, Umesh および Singh, Jasprit、第 1 章: 半導体の構造特性。半導体デバイスの物理と設計、2008 年、1-27 ページ、doi :10.1007/978-1-4020-6481-4、ISBN 978-1-4020-6481-4

[3] Sune, Jordi および Wu, Ernest Y.、第 16 章: SiO2 ベースのゲート誘電体の誘電体破壊に関連する欠陥。マイクロエレクトロニクス材料およびデバイスの欠陥 (Fleetwood, Daniel および Schrimpf, Ronald 編集)、2008 年、465-496 ページ、doi :10.1201/9781420043778、ISBN 9781420043778

[4] 上田修、スティーブン J. ピアトン編著、半導体光学・電子デバイス向け材料・信頼性ハンドブック、2013 年、doi :10.1007/978-1-4614-4337-7、ISBN 978-1-4614-4337-7

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