アルゴリズム ドラマーとレイは、デジタル電圧計 に適用されたアルゴリズムについて説明した。[ 2 ] この論文はADC集積回路より前のものだが、二分探索による意思決定について説明している。
逐次近似型アナログ・デジタル変換 回路は、一般的に4つの主要なサブ回路から構成される。
入力電圧 Vを 取得 するサンプルホールド 回路。 入力 電圧V とデジタル-アナログ変換器 (DAC)の出力を比較するアナログ電圧コンパレータ。 比較器の結果によって更新される逐次近似レジスタ であり、反復処理ごとに精度が向上するデジタルコードをDACに提供する。 DACは、基準電圧Vref ( ADCのフルスケール範囲に対応)に対する相対的なアナログ電圧をコンパレータに供給し、SARのデジタルコードに比例する。 Vref = 5V の 4ビット逐次比較型ADCのアニメーション逐次近似レジスタは、最上位ビット(MSB)に1、下位ビットに0を設定して初期化されます。 レジスタ のコードはDACに入力され、DACはデジタルコードのアナログ等価物(初期値は1/2 Vref ) を コンパレータ に供給し、サンプリングされた入力電圧と比較します。このアナログ電圧がVinを超えると、 コンパレータ はSAR の このビットをリセットします。そうでない場合は、ビットは1のままです。次に次のビットが1に設定され、同じテストが実行され、SARのすべてのビットがテストされるまでこのバイナリサーチ が続きます。結果として得られるコードは、サンプリングされた入力電圧のデジタル近似出力です。
入力電圧が5Vから0Vに低下する際の逐次近似型ADCの動作。x軸 はノッチ1の初期状態から始まる反復回数、y 軸は電圧を表す。 n 番目の 反復 におけるアルゴリズムの目的は、入力電圧を基準電圧に対して1/2 n の精度で近似的にデジタル化することです。これを数学的に示すために、正規化された入力電圧はV in = xV ref とすることで[ −1 , 1 ] 内のxとして表されます。アルゴリズムは、初期近似値 x 0 = 0 から開始し、各反復i で次の近似値を生成します。
i 番目の 近似 値 : x i = x i −1 − sgn ( x i −1 − x ) / 2 i
ここで、バイナリ符号関数 sgnは、前の反復の近似値 x i-1 と正規化された入力電圧x の比較を数学的に表す。s g n ( x 私 − 1 − x ) = { + 1 もし x 私 − 1 ≥ x 、 − 1 もし x 私 − 1 < x 。 {\displaystyle sgn(x_{i-1}-x)={\begin{cases}+1&{\text{if }}x_{i-1}\geq x,\\-1&{\text{if }}x_{i-1}<x.\end{cases}}} 数学的帰納法を用いると、 n 番目 の反復の近似値は理論的に次 の精度に制限されることがわかる。| x n − x | ≤ 1 / 2 n 。
非理想的なアナログ回路における不正確さ 実際のアナログ回路として実装する場合、回路の不正確さやノイズ によって、バイナリサーチアルゴリズムが入力電圧Vin が取り 得ないと判断した値を誤って除外してしまう可能性があり、そのため逐次近似ADCは最も近い値を出力しない可能性があります。最適な一致推定値を生成するためには、DACが未知の入力電圧Vinと比較する ため の2n個の アナログ値をすべて正確に生成することが非常に重要です。特に実際の2nと理想的な 2n の間の誤差が大きくなると、最大誤差は容易に数LSBを超える可能性があります。メーカーは、実際の出力ビット数よりも小さい実効ビット数 (ENOB)を使用して精度を特徴付ける場合があります。
2001年現在 DACの部品マッチングの制限により、 実用設計では一般的に直線性が約12ビットに制限され、12ビットを超える直線性を実現するには何らかのトリミングまたはキャリブレーションが必要でした 。[ 3 ] また、kT/Cノイズ は容量に反比例するため、低ノイズには大きな入力容量が必要となり(チップ面積が増加し、より強力な駆動バッファが必要になります)、これがノイズキャンセリングに関する提案を促しました。[4] 比較のために、Vref が 5Vの 場合、 16 ビットコンバータの最下位ビットは76μVに相当し 、これは室温における 1pF (オンチップとしては大きい)コンデンサの約 64μVrmsノイズに 相当します。2012年現在 SAR ADCは18 ビットに制限されていますが、16ビットを超える必要がある場合はデルタシグマ ADC(24ビットまで可能)の方が適しています。 [ 5 ] SAR ADCは、ミックスドシグナル プロセスに簡単に統合できるため、マイクロコントローラ によく見られますが、内部基準電圧抵抗ラダーによる不正確さや、マイクロコントローラの他の部分からの クロック および信号ノイズ の影響を受けやすいため、外部ADCチップの方が精度が高い場合があります。[ 6 ]
要素の重みを較正することで精度は向上するが、一般的にはある程度の冗長性が必要となる。[ 7 ]
例 例 1: アナログ入力を 9 ビットデジタルに変換する手順を、逐次近似法を用いて 5 V から 0 V までのすべての電圧について 0.1 V 刻みで示します。基準電圧は 5 V なので、入力電圧も 5 V のときはすべてのビットがセットされます。電圧が 4.9 V まで低下すると、最下位ビットの一部のみがクリアされます。入力が基準電圧の半分である 2.5 V になるまで、最上位ビット (MSB) はセットされたままになります。
各ビットに割り当てられたバイナリ重みは、最上位ビット(MSB)から順に、2.5、1.25、0.625、0.3125、0.15625、0.078125、0.0390625、0.01953125、0.009765625です。これらをすべて合計すると4.990234375となり、これはバイナリ111111111、つまり5より1つ少ない最下位ビット(LSB)を意味します。
アナログ入力が内部DAC出力と比較される際、実際には2.5Vから始まる各バイナリ重みと比較され、その 結果として重みを保持するかクリアするかが決定されます。次に、前の結果に次の重みを加算し、再度比較するという手順を、すべてのビットとその重みが入力と比較されるまで繰り返すことで、アナログ入力を表すバイナリ数値である結果が得られます。
例2: 4ビット逐次比較型ADCの動作を以下に示します。MSBは初期値として1に設定され、残りの桁は0に設定されます。入力電圧がレジスタに格納されている値よりも低い場合、次のクロックサイクルで、レジスタは図の緑色の線に沿って値を変更します。入力電圧が高い場合、次のクロックサイクルで、レジスタは図の赤色の線に沿って値を変更します。2nボルトの範囲で動作するこのタイプのADCの簡略化された構造は、アルゴリズムとして 表現できます。
レジスタを初期化する際、最上位ビットを1に設定し、その他の値をすべて0に設定します。 n番目の クロックサイクルにおいて、電圧がレジスタ内の数値のデジタル等価電圧よりも高い場合、左から(n+1)番目の桁が1に設定されます。電圧がデジタル等価電圧よりも低い場合、左からn 番目の 桁が0に設定され、次の桁が1に設定されます。変換を実行するには、NビットADCは初期状態を除いて、このようなクロックサイクルをN回必要とします。
ADCの出力値をグリッド状に配置し、縦軸を電圧に対応させた構成図。これは0Vから15Vまでの入力電圧を測定する4ビットADCである。
入力電圧10.4Vが供給される、以前に確立された構成。
入力電圧9.4Vが供給される、既に確立された構成。
逐次近似型ADCは、図に示すように、まず各デジタル出力を対応する範囲に均等に割り当てることで説明することもできます。このアルゴリズムは、電圧範囲を基本的に2つの領域に分割し、入力電圧がどちらの領域に属するかをチェックしていることがわかります。後続のステップでは、以前に識別された領域をさらに2つに分割し、識別を続けます。これは、考えられるすべてのデジタル表現の選択肢が尽きるまで繰り返され、最終的に1つのデジタル表現のみに対応する識別された領域が残ります。
電荷再分配逐次近似ADC MOSトランジスタのみを使用したこのアプローチの最も初期の説明の1つは、「容量性電荷再分配A/Dコンバータ」である。[ 8 ]
N ビット電荷再分配SAR ADCのDACとして機能するスイッチドキャパシタアレイが、接地基準コンパレータに入力される。これは、 2 のべき乗のサイズ の個別に切り替えられるコンデンサ のアレイと、最小のコンデンサの追加複製で構成される電荷スケーリングDACを使用し、 N ビットに対して合計N + 1 個のコンデンサを使用します。 [ 9 ] したがって、最大の容量がC の場合、アレイの合計容量は2C に なります。スイッチド キャパシタ アレイは、サンプル アンド ホールド要素と DAC の両方として機能します。電荷を 再分配すると、正味電圧が調整され、コンパレータの負の入力 (正の入力は常に接地されています) に入力され、次の手順を使用してバイナリ サーチが実行されます。[ 10 ] [ 11 ]
3ビット容量性ADC、Vref = 5Vを使用。 左下の 過渡シミュレーションでは、Vin ≅ 3.5V、つまりVrefの約0.7倍を使用し、5/8(2進数で101)という結果となり、3.125V、つまりVref の 0.625 倍を 表します。 「 PESE 」 は アレイの電圧 であり 、残り の最終電圧は変換の残差誤差です。 放電:コンデンサが放電されます。コンパレータのオフセット電圧まで放電することで、オフセットが自動的にキャンセルされます。 サンプリング: コンデンサは入力信号V in に切り替えられます。短いサンプリング期間の後、コンデンサはそれぞれの容量にV in を 掛けた値(およびそれぞれのオフセット電圧を引いた値)に等しい電荷を保持するため、アレイ全体で2 C · V in の電荷が保持されます。 ホールド: 次にコンデンサが接地されます。これにより、コンパレータの負入力に− V in の電圧が供給されます。 変換:実際の変換プロセスは、各反復で以下の手順で進行します。まず、最大のコンデンサをMSBのテストコンデンサとして使用し、次に、下位ビットごとに、次に小さいコンデンサを順番にテストします。 再分配: 現在のテストコンデンサはV ref に切り替えられます。テストコンデンサはアレイの残りの部分と電荷分圧器を形成し、その比率はコンデンサの相対的なサイズに依存します。最初の反復では、比率は1 :1 なので、コンパレータの負の入力は− V in + V ref ⁄ 2 になります。i番目の 反復では、比率は1:2 i −1 になるので、この再分配ステップのi 番目 の反復では、電圧にV ref ⁄ 2 i が 実質的に加算されます。 比較:コンパレータの出力は、現在のテストコンデンサに対するビットの値を決定します。最初の反復では、V in が V ref ⁄ 2 より大きい場合、コンパレータはデジタル 1 を出力し、そうでない場合はデジタル 0 を出力します。 更新スイッチ: デジタル 1 の結果は、以降の反復処理で現在のテストコンデンサをV ref に接続したままにしますが、デジタル 0 の結果はコンデンサを接地に戻します。したがって、各i 番目の反復処理では、コンパレータの負の入力電圧に V ref ⁄ 2 i を追加する場合と追加しない場合があります。たとえば、最初の反復処理の終了時の電圧は− V in + MSB· V ref ⁄ 2 になります。 変換終了: すべてのコンデンサが同じ方法でテストされた後、コンパレータの負の入力電圧は、(DACの分解能を考慮して)コンパレータのオフセット電圧に可能な限り近い値に収束します。 較正
高精度(10ビット以上)を実現するには、コンデンサの校正が必要です。Crystal Semiconductor 社のCS5015は、電源投入時に自己校正されます。特許には、この発明と校正技術が記載されています。[ 12 ]
参考文献 ↑ Kester, Walt (2005年6月) 「どのADCアーキテクチャがあなたのアプリケーションに最適か?」 Analog Dialogue . 2025年1月9日のオリジナルからアーカイブ済み。 2025年5月30日 取得 。 ↑ Weinschel, BO; Sorgor, GU; Hedrich, AL (1959年3月) 「VHF / UHF信号発生器減衰器校正用相対電圧計」 IRE Transactions on Instrumentation . I-8 (1): 22–31 . Bibcode : 1959IRTI....1...22W . doi : 10.1109/ire-i.1959.5006830 . ISSN 0096-2260 . ↑ 「SAR ADCの理解:そのアーキテクチャと他のADCとの比較」 。 アナログ・デバイセズ 。2001年10月2日。 2024年11月18日にオリジナルから アーカイブ 。 2025年1月3日 に取得。 ↑ Keerthy Kumar、Shashank (2023)。 「kT/Cノイズキャンセリング技術を用いた13ビットSAR ADCの設計」 。 修士論文、ルンド大学学生論文集に掲載 。 ↑ 「アナログ-デジタル変換器におけるノイズ、ENOB、および実効分解能の理解」 。 アナログ・デバイセズ 。2012年5月7日。 2024年4月22日のオリジナルから アーカイブ。 2024年12月28日 取得 。 ↑ Giovino, Bill (2018-11-21). "IoTマイクロコントローラにはADCが搭載されているが、外部ADCを選択して適用するタイミングも把握している" . DigiKey . 2024-06-24のオリジナルから アーカイブ済み。2025-01-03 に 取得 。 ↑ US6486806B1、 カルロス・エステバン・ムニョス、カール・エルネスト・ トンプソン、ダグラス・S・ピアセッキ他、「Radixの適応型自動校正のためのシステムおよび方法」、2002年11月26日発行 ↑ McCreary, JL; Gray, PR (1975 年 12 月). "All-MOS 電荷再分配アナログ-デジタル変換技術 I" . IEEE Journal of Solid-State Circuits . 10 (6): 371– 379. Bibcode : 1975IJSSC..10..371M . doi : 10.1109/jssc.1975.1050629 . ISSN 0018-9200 . ↑ Suarez, R.; Gray, P.; Hodges, D. (1974). "全MOS電荷再分配A/D変換技術" . 1974 IEEE International Solid-State Circuits Conference. Digest of Technical Papers . IEEE. pp. 194–195 . doi : 10.1109/isscc.1974.1155344 . ↑ Kugelstadt, Thomas (2000). "電荷再分配に基づくSAR-ADCの動作" (PDF) . Texas Instruments . 2024-12-27のオリジナルから アーカイブ (PDF) . 2024-12-28 に取得 . ↑ 「電荷再分配に基づくSAR-ADCの動作」 。 ルネサスエレクトロニクス 。2020年。 2024年10月15日にオリジナルから アーカイブ 。 2024年12月28日 に取得。 ↑ US4709225A 、 ウェランド、デイビッド・R 、 キャラハン、マイケル・J、 「モノリシック集積回路におけるコンデンサの自己校正方法」、 1987年11月24日発行
さらに読む CMOS回路設計、レイアウト、シミュレーション、第3版 ;RJ ベイカー著;Wiley-IEEE;1208ページ;2010年;ISBN 978-0-470-88132-3 データ変換ハンドブック ;アナログ・デバイセズ;ニューネス;976ページ;2004年;ISBN 978-0750678414
外部リンク SAR ADCの理解:そのアーキテクチャと他のADCとの比較- Maxim アプリケーションに最適なA/Dコンバータをお選びください- TI