電離層探査

電気通信および無線科学において、電離層探査は、同期された送信機と受信機で構成される 基本システムを使用して、高周波数の電離層依存の無線伝搬に関するリアルタイムのデータを提供する技術です。

送信と受信の間の時間遅延は、実効電離層高度に変換されます。垂直入射サウンディングでは、同じ場所に配置された送信機と受信機を使用し、さまざまな周波数を垂直に電離層に向け、反射された戻り信号の値を測定して実効電離層高度を決定します。この技術は、臨界周波数の決定にも使用されます。斜めサウンダーは、特定の伝播経路の一方の端に送信機を使用し、もう一方の端で同期された受信機 (通常はオシロスコープ型ディスプレイ (イオノグラム) 付き) を使用します。送信機は、受信機で表示または測定されるステップ型またはスイープ型の周波数信号を発信します。測定により、時間遅延が電離層層の実効高度に変換されます。イオノグラム表示には、電離層層の実効高度が周波数の関数として表示されます。

• ケネリー・ヘヴィサイド層
• エドワード・V・アップルトン

•  この記事には、連邦規格 1037Cのパブリック ドメイン マテリアルが組み込まれています。一般調達局。2022 年 1 月 22 日にオリジナルからアーカイブされました。