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トーマス・W・ウィリアムズ（1943年8月3日生まれ）は、アメリカのエンジニアであり、シノプシス社の主任科学者兼フェローを務めた。彼は電子システムの設計、自動化、およびテストへの貢献で知られている。
ウィリアムズはクラークソン大学で電気工学の学士号、ニューヨーク州立大学ビンガムトン校で純粋数学の修士号、コロラド州立大学で電気工学の博士号を取得しました。[ 1 ]彼はコロラド州ボルダーにあるIBMマイクロエレクトロニクス部門でVLSIテスト容易性設計グループのマネージャーとして働きました。その後、シノプシスに入社し、フェローおよびチーフサイエンティストになりました。
ウィリアムズは、IEEE コンピュータ ソサエティのテスト容易性設計ワークショップの創設者兼議長であり、ヨーロッパのテスト容易性設計ワークショップの共同創設者でもありました。ウィリアムズは、IEEE のテスト容易性設計に関する技術小委員会の議長を務め、国際会議で基調講演者や招待講演者として登壇してきました。[ 2 ]ウィリアムズは、1982 年から 1985 年まで IEEE コンピュータ ソサエティから著名な客員講演者として表彰されました。彼は、IEEE Transactions on ComputersおよびIEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems の特集号編集者を務めました。
ウィリアムズは1988年に「テスト容易性設計の分野におけるリーダーシップと貢献」により、電気電子学会のフェローに選出された。[ 3 ] 1989年には、エドワード・B・アイヒェルバーガーと共に、IEEEコンピュータソサエティのW・ウォレス・マクドウェル賞[ 2 ]を受賞した。 「ソリッドステート論理回路をテストするためのレベルセンシティブスキャン技術の開発、およびテスト容易性設計の概念の主導、定義、推進」が評価された。
2007年、ウィリアムズは、電子システムの電子設計、自動化、テストの最先端技術への卓越した貢献により、欧州設計自動化協会（EDAA）生涯功労賞[ 1 ]を受賞した[ 4 ] 。この賞は、欧州設計自動化テスト会議の開会セッションで授与された。
2010年、ウィリアムズはIEEEテスト技術技術評議会生涯貢献メダルを受賞した。[ 5 ] [ 6 ]
2018年、電子システム設計アライアンスは、ウィリアムズ氏に「テスト自動化への卓越した貢献と電子業界全体への影響力」を称え、フィル・カウフマン賞を授与した。 [ 7 ] [ 8 ]
ウィリアムズは4冊の本、50の査読付き論文、20の特許を共著した。彼は以下の優秀論文賞を受賞した：[ 2 ]