アンドレ・ギニエ

アンドレ・ギニエ（1911年8月1日 - 2000年7月3日）は、X線回折と固体物理学の分野で先駆的な業績を残したフランスの物理学者および結晶学者である。彼は、材料科学と結晶学に不可欠なツールである小角X線散乱（SAXS）の発見と発展に貢献したとされている。^{[ 2 ] [ 3 ]}

ギニエはフランスのナンシーで生まれ、父親のフィリベール・ギニエは植物学者で、フランス国立林業学校のナンシー支部の校長を務めていた。^{[ 4 ]}ギニエはアンリ・ポアンカレ高校で学んだ後、高等師範学校（ENS）に入学し、1930年から1934年まで物理学を学んだ。卒業後、ENSの物理学研究所で教員養成課程の学生として働いた。1939年、ギニエはSAXSを発見し^{[ 5 ] [ 6 ]} 、シャルル・モーガンの指導の下、X線結晶学に関する論文で博士号を取得した。その後、国立工芸院で働き、1944年に試験研究所の副所長となり、博士課程の学生ジェラール・フルネとともにSAXS技術をさらに発展させた。^{[ 7 ]} 1949年にソルボンヌ大学の教授になった。1950年代末、初代学部長として、後にパリ南大学となるオルセーの新大学キャンパスの建設に携わった。この時期、パリ中心部から研究室を移転し、ジャック・フリーデル、レイモン・カスタンとともに固体物理学研究所（Laboratoire de Physique des Solides、LPS）を設立した。LPSがフランス国立科学研究センターに統合された際、ギニエは初代所長となった。^{[ 1 ] [ 8 ] [ 9 ]}

ギニエは1969年から1972年まで国際結晶学連合の会長を務めた。 1968年から1969年までは『応用結晶学ジャーナル』の創刊編集者であった。^{[ 10 ]} 1971年にフランス科学アカデミー会員に選出され、1985年にはグレゴリ・アミノフ賞を受賞した。ギニエは1993年にヨーロッパアカデミーの会員に選出された。 ^{[ 11 ]}

小角散乱の分野では、ギニエは粒子サイズと強度の関係を発見し、これはギニエの法則と呼ばれている。^{[ 12 ]}彼はX線回折で使用するためのギニエカメラを開発し、レイモンド・カステインによる電子マイクロプローブの開発にも貢献した。

ギニエ・プレストン領域は、1938年頃にこの現象を独自に発見し記述したギニエとイギリスの物理学者ジョージ・ドーソン・プレストンにちなんで名付けられました。 ^{[ 13 ] [ 14 ]}

• ギニエ、アンドレ（1952）。X線結晶解析技術。ヒルガー・アンド・ワッツ、ヒルガー部門。
• ギニエ、アンドレ；フルネ、ジェラール（1955）。X線の小角散乱（PDF）。ワイリー。ISBN 978-0-598-66993-3。{{cite book}}ISBN /日付の不一致（ヘルプ）
• ギニエ、A.フォン・エラー、G.ボウマン、J.フォーネット、G.ビーマン、WW;ケーズバーグ、P.ラエーテル、H.リンゴ、GR (1957)。構造研究 / Strukturforschung。物理学百科事典 / Handbuch der Physik。 Vol.  6 / 32. ベルリン、ハイデルベルク：シュプリンガー ベルリン ハイデルベルク。土井：10.1007/978-3-642-45866-8。ISBN 978-3-642-45868-2。{{cite book}}ISBN /日付の不一致（ヘルプ）
• ギニエ、アンドレ；デクスター、デイビッド・ローレンス（1963）。材料のX線研究。インターサイエンス・パブリッシャーズ。ISBN 978-0-470-33268-9。{{cite book}}ISBN /日付の不一致（ヘルプ）
• ギニエ、アンドレ（1984）。物質の構造：青い空から液晶まで。ロンドン：アーノルド。ISBN 978-0-7131-3489-6。
• ギニエ、アンドレ；ジュリアン、レミ（1989）。固体：超伝導体から超合金まで。国際結晶学連合結晶学テキスト。国際結晶学連合。オックスフォード、ニューヨーク：オックスフォード大学出版局。ISBN 978-0-19-855290-1。
• ギニエ、アンドレ（1994）。結晶、不完全結晶、および非晶質体におけるX線回折。ニューヨーク：ドーバー出版。ISBN 978-0-486-68011-8。( Guinier, A. (1964)から翻訳。Théorie et Technique de la radiocristallographie (フランス語)。パリ: Dunod。OCLC 301350191。 ）
• Williams, Claudine E.; May, Roland P.; Guinier, André (1999年6月24日)、「X線と中性子の小角散乱」、Lifshin, Eric (編)『材料のX線特性評価』、Wiley、pp. 211–254、doi : 10.1002/9783527613748.ch4、ISBN  978-3-527-29657-62024年4月23日取得

• 電子マイクロプローブ

• 彼の初期の仕事に関する回想
• 彼が著書『X線回折50年の歴史』のために書いた個人的な回想録（574ページ）