X線光子相関分光法

物理学と化学におけるX線光子相関分光法（XPCS）は、コヒーレント X線 シンクロトロンビームを利用してサンプルのダイナミクスを測定する新しい技術です。コヒーレントスペックルパターンが時間とともにどのように変動するかを記録することで、時間相関関数を測定し、関心のある時間スケールのプロセス（拡散、緩和、再編成など）を測定できます。XPCSは、凝縮物質システムで発生するさまざまな平衡および非平衡プロセスの遅いダイナミクスを研究するために使用されます。

XPCS 実験には、材料 (ガラス質材料など) の動的特性に関する情報を提供できるという利点があります。一方、他の実験技術では、材料の静的構造に関する情報しか提供できません。この技術は、空間的に不均一な材料から発生する散乱コヒーレント光によるスペックルパターンの生成に基づいています。スペックルパターンは回折限界構造因子であり、通常、レーザー光が粗い表面や空気中でブラウン運動している塵粒子から反射されたときに観察されます。硬 X 線によるスペックルパターンの観察は、ここ数年で実証されたばかりです。この観察は、十分なコヒーレントフラックスを提供できる新しいシンクロトロン放射X 線源の開発により、現在可能になっています。

これらの技術の特定のサブグループは、原子スケール X 線光子相関分光法 (aXPCS) です。

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• スニル・K・シンハ、チャン・ジャン、ローレンス・B・ルリオ X線光子相関分光法による表面と薄膜の研究先端材料 2014、26 (46)、7764–7785。doi: 10.1002/adma.201401094
• Aurora Nogales、Andrei Fluerasu ポリマーダイナミクスの研究のためのX線光子相関分光法European Polymer Journal 2016 . doi: 10.1016/j.eurpolymj.2016.03.032