過渡回折格子分光法

過渡回折格子分光法は、準粒子の伝播を測定するために使用される光学技術である。^[1]金属材料が照射されたときにその変化を追跡することができる。^[2]

これは、短寿命の定在波がサンプル表面に生成される ポンププローブ法^{[3]です。 [1] [4]}これは、2つの同時ポンプレーザービームをそれらの間の角度（θ）で組み合わせることによって実行され、サンプル上に干渉パターンを作成します。^[5]これは、よく知られている二重スリット実験によって生成される干渉パターンに似ています。建設的干渉の領域間の空間は、次の式で与えられます。

$${\displaystyle \Lambda ={\frac {\lambda }{2sin(\theta /2)}}}$$

ここで、Λ は干渉縞間の距離、λ はポンプパルスの波長、θ は 2 つの入射重なり合うビーム間の角度です。^[6]サンプルの建設的干渉縞内の領域は熱的/振動的に励起され、励起されていない縞と組み合わさって、表面弾性波としても知られる波長 Λ の定在波を作成します。表面弾性波は、ポンプビームの直後にパルスを発する連続レーザーでプローブできる過渡吸収または反射格子として機能します。プローブビームは、サンプルの性質に応じて、表面を回折するか、表面から反射して検出器に向かいます。表面弾性波の変動により、サンプル表面でのプローブビームの回折または反射が変調されます。その強度は、時間の関数として検出器によって監視されます。回折または反射されたプローブビームの強度は、表面弾性波がプローブの回折または反射を妨げないベースラインレベルに収束します。