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スパークマイクロメータはリースマイクロメータ[1]としても知られ、19世紀の物理学者が電気回路の電位を測定するために使用した装置でした。主にドイツの物理学者ピーターリースによって開発されました。非常に接近した2つの電極で構成され、そのうちの1つは目盛り付きのマイクロメータネジに取り付けられており、ノブを回すことでギャップの幅を非常に正確に調整できます。パッシェンの法則から、スパークがギャップを飛び越えたときの2つの電極間の距離は電極間の電位差（電圧）に比例するため、スパークマイクロメータは、電圧が飛び越えることができるまでギャップを広げることで、大まかな電圧測定器として機能することができました。
1887年、ハインリッヒ・ヘルツは、近くの装置の火花が、電源に接続されていないループ状の電線の両端の間の火花ギャップに火花を誘導できることを発見し、電波を発見しました。[2]ヘルツは、歴史的な実験で、受信機として小さなループアンテナとダイポールアンテナ に取り付けられた火花マイクロメータを使用し、電波の特性を調査しました。受信アンテナに誘導された電圧は電波の信号強度に比例するため、ヘルツは発生した火花の長さを測定することで、電波の電界強度を測定することができました。彼は、電波が光と同様に屈折、回折、干渉、定在波を示すことを示し、電波と光はどちらも電磁波であることを証明しました。これにより、マクスウェルの1873年の電磁気学の理論と、光は電磁波で構成されているという彼の予測が実証されました 。[1]