信号伝達関数(SiTF )は、赤外線システムやセンサーなどのシステムの信号出力と信号入力の比率を測る指標です。SiTFには多くの一般的な用途があります。特に、画像解析の分野では、SiTFは画像システムのノイズの指標となり、その性能を評価する指標となります。[1]
SiTF評価
SiTF 曲線を評価する際、信号入力と信号出力は差分的に測定されます。つまり、入力信号の差分と出力信号の差分が計算され、互いに対してプロットされます。オペレータは、コンピュータ ソフトウェアを使用して、赤外線センサ、つまりテスト対象ユニット (UUT) の出力画像の信号領域と背景領域内で、所定のデータ ポイント セットを持つ任意の領域を定義します (以下の「ハーフ ムーン」画像を参照)。平均信号と背景は、任意に定義された各領域のデータを平均化することで計算されます。2次多項式曲線が各ラインのデータに当てはめられます。次に、平均信号と背景データから多項式を減算して、新しい信号と背景を生成します。新しい信号と背景データの差を取ると、正味信号が生成されます。最後に、正味信号が信号入力に対してプロットされます。UUT の信号入力は、独自のスペクトル応答の範囲内にあります (例:色相関温度、ピクセル強度など)。この曲線の直線部分の傾きは最小二乗法を用いて求められる。[2]
SiTF曲線


ネット信号は、信号対雑音比(画像)#計算のように、平均信号と背景から計算されます。SiTF曲線は、信号出力データ(ネット信号データ)を信号入力データに対してプロットすることで得られます(右のSiTFのグラフを参照)。SiTF曲線の線形領域にあるすべてのデータポイントは、最小二乗法で線形近似を求めるために使用できます。データポイントが与えられた場合、次のようにパラメータ化された最適な直線は次のように与えられます。[3]
参照
参考文献
- ^ Tom L. Williams (1998). イメージングシステム の光学伝達関数。CRC Press。ISBN 0-7503-0599-1。
- ^ エレクトロ オプティカル インダストリーズ社 (2005)。 EO テストラボの方法論。教育において。
- ^ Aboufadel, EF , Goldberg, JL, Potter, MC (2005). Advanced Engineering Mathematics (第3版).ニューヨーク、ニューヨーク: Oxford University Press
外部リンク
- http://www.electro-optical.com
