ランダム逐次吸着(RSA )とは、粒子がシステムにランダムに導入され、以前に吸着した粒子と重ならない場合は吸着し、プロセスの残りの間固定されたままになるプロセスを指します。RSAは、コンピューターシミュレーション、数学的分析、または実験で実行できます。最初に1次元モデルによって研究されました。ポール・フローリーによるポリマー鎖のペンダント基の付着と、アルフレッド・レーニによる駐車場問題です。[1]その他の初期の研究には、ベンジャミン・ウィドムによるものがあります。[2] 2次元以上の多くの次元では、2d、ディスク、ランダムな方向の正方形と長方形、整列した正方形と長方形、その他のさまざまな形状など、コンピューターシミュレーションによって研究されてきました。
重要な結果は、飽和被覆率または充填率と呼ばれる最大表面被覆率です。このページでは、多くのシステムの被覆率をリストします。

ブロッキングプロセスは、ランダムシーケンシャル吸着(RSA)モデルの観点から詳細に研究されている。 [3]球状粒子の沈着に関する最も単純な RSA モデルは、円形ディスクの不可逆吸着を考慮したモデルである。ディスクが次々にランダムに表面に配置される。ディスクが配置されると、同じ場所に貼り付き、取り外すことはできない。ディスクを沈着させようとすると、すでに沈着されているディスクと重なる場合、この試みは拒否される。このモデルでは、表面は最初は急速に満たされるが、飽和に近づくほど、表面が満たされる速度は遅くなる。RSA モデルでは、飽和はジャミングと呼ばれることもある。円形ディスクの場合、飽和は 0.547 の被覆率で発生する。沈着粒子が多分散である場合、小さな粒子は大きな沈着粒子の間の穴に沈着できるため、表面被覆率ははるかに高くなる可能性がある。一方、棒状粒子の場合は、数本の不揃いな棒が表面の大部分をブロックするため、被覆率ははるかに低くなる可能性がある。
1次元の駐車車両問題では、Renyi [1]は最大被覆率が
いわゆるレニイ駐車場定数[4] 。
その後、イロナ・パラスティの予想[5]が続き、彼女はd次元の整列した正方形、立方体、超立方体の被覆率はθ 1 dに等しいと提唱した。この予想は、賛成、反対の議論を巻き起こす多くの研究を生み、最終的には2次元と3次元でのコンピュータシミュレーションで、これは良い近似ではあるが正確ではないことが示された。この予想の高次元での正確さはわかっていない。
1次元格子上の-mersの場合、覆われた頂点の割合は[6]
が無限大になると、上記のRenyiの結果が得られます。k = 2の場合、Flory [7]の結果が得られます。
ランダムに順次吸着された粒子に関連するパーコレーション閾値については、「パーコレーション閾値」を参照してください。

飽和被覆率け1次元格子系上の -mers
漸近的動作: .
1次元連続体上の2つの長さのセグメントの飽和被覆率
R = セグメントのサイズ比。吸着速度は等しいと仮定
飽和被覆率け2次元正方格子上のマー
漸近的動作: .
飽和被覆率け2次元三角格子上のマー
2次元格子上の近傍排除による粒子の飽和被覆率
。
飽和被覆率2次元正方格子上の正方形
k = ∞については、以下の「2daligned squares」を参照。漸近的挙動: [25] 。 [27]も参照。
ランダムに配向された2Dシステムの飽和範囲
最大範囲をカバーする2D長方形の形状
3Dシステムの飽和範囲
円盤、球面、超球面の飽和範囲
整列した正方形、立方体、超立方体の飽和被覆率
参照
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