ノバカムテクノロジーズ

ノバカムテクノロジーズ株式会社
会社種別	プライベート
業界	OCT、非破壊検査計測、フォトニクス
設立	1997
本部	ドルラードデオルモー、ケベック州、カナダ
製品	OCT検出器、プロファイロメータ、科学機器、ファイバーベースのプローブ
Webサイト	ノヴァカム

Novacam Technologies Inc. は、産業およびバイオメディカル用途向けの高度な計測および画像システムの設計と製造を専門としています。Novacam のファイバーベースの光学プロファイロメーターと光コヒーレンストモグラフィー(OCT) システムは、低コヒーレンス干渉法に基づいています。Novacamの検出器プローブのファイバーベースの性質は、光学計測業界ではユニークです。^[1]^[2]^[3]

Novacam は、精密光学測定機器を製造するカナダの民間企業です。本社はカナダ、ケベック州ドルード・デ・オルモー(グレーター・モントリオール)にあります。

歴史

ノヴァカムテクノロジーズは1997年に設立されました。^[4]

2004年、ノバカムは、先進的な特許取得済みの低コヒーレンス干渉計技術に基づいた初の光干渉断層撮影製品ラインの開発を開始しました。^{[4]基礎研究の多くは、}カナダ国立研究評議会の研究機関である工業材料研究所（IMI）および生物診断研究所（IBD）との協力で実施されました。その結果、産業用途向けのMicroCam-3D ^[注1]とバイオメディカル用途向けの dOCTor-8 ^[注2]というOCT検出器が商品化され、世界中で採用されています。

当初の製品ラインは、時間領域(TD-OCT) 技術に基づいていました。同社はまた、フーリエ領域- レーザー掃引光源 (SS-OCT) 技術に基づく検出器も開発しました。検出器には、柔軟で適応性のある展開のために、ファイバーベースの非接触プローブが装備されています。

アプリケーション

同社のプロファイロメータは、高速高精度表面検査^{[5] 、}^[6]、表面イメージング^[7] 、特性評価、厚膜および薄膜の厚さ測定、長尺プロファイル、断面イメージング、プロセス制御などの非破壊検査計測に使用されています。ファイバーベースであるため、過酷な環境や限られたスペースでも動作できます。^[8]^[9]

同社のプロファイロメータは、半導体・エレクトロニクス産業、マイクロマシニング、航空宇宙産業、鋳造、光学産業、プラスチック・ガラス産業、燃料電池計測に応用されています。バイオメディカル分野では、光干渉断層撮影（OCT）検出器がマイクロメートル精度の組織画像化に使用されています。^[10]眼科、耳鼻科、その他の精密分野で使用されています。

注記

^ MicroCam-3Dを参照
^ dOCTor-8を参照

参考文献

^ Dufour, Marc L.; Gauthier, Bruno (2003). 「低コヒーレンス干渉法に基づく高精度表面形状測定」。Lessard, Roger A; Lampropoulos, George A (編)。Applications of Photonic Technology 6。第 5260 巻。p. 173。Bibcode :2003SPIE.5260..173D。doi : 10.1117/12.543395。S2CID 135946276 。
^ Dufour, ML; Lamouche, G.; Vergnole, S.; Gauthier, B.; Padioleau, C.; Hewko, M.; Levesque, S.; Bartulovic, V. (2006 年 6 月)。「低コヒーレンス干渉法に基づく高精度表面形状測定」。Proceedings of SPIE。Vol . 6343。ケベック州ケベック市、カナダ: SPIE。pp. 63431Z.1–7。2010年12 月 14 日閲覧。
^ Dufour, Marc; Lamouche, G.; Gauthier, B.; Padioleau, C.; Monchalin, JP (2006). 「小径プローブを使用した届きにくい工業用部品の検査」(PDF) . SPIE Newsroom . doi :10.1117/2.1200610.0467. S2CID 120476700 . 2010 年12 月 15 日閲覧。
^ ab Bartulovic, Vuk. 「Novacam Technologies Inc」。バイオファイナンス - ライフサイエンス企業への資金提供。 2011年1月6日閲覧。
^ Losert, R. (2009年3月31日). 「NDT検査のためのソリューション」. NDT Magazine . 2011年1月12日時点のオリジナルよりアーカイブ。2020年11月13日閲覧。
^ Sprovieri, John (2008 年 7 月 28 日)。「アセンブリの品質: 光ファイバープロファイロメータによる表面品質の測定」。Assembly Magazine。2010年12 月 14 日閲覧。
^ Guss, G.; Bass, I.; Hackel, R.; Mailhiot, C.; Demos, SG (2007 年 11 月 6 日)。「光干渉断層撮影による溶融シリカの表面損傷部位の高解像度 3D イメージング」(PDF)。ローレンス・リバモア国立研究所UCRL-PROC-236270。2017年 2 月 11 日時点のオリジナル(PDF)からアーカイブ。2010 年12 月 14 日閲覧。
^ Losert, R. (2010 年 11 月)、「遠く離れていても、とても近い: 光学式プロファイロメーターシステムで手の届きにくい表面を検査」、INSPECT Magazine、11 : 42–43、2010年12 月 15 日閲覧
^ Wilson, Andrew (2007 年 4 月 1 日)。「ファイバーベースのプロファイロメータが届きにくい表面を検査」。VisionSystems Design Magazine。2010年12 月 14 日閲覧。
^ Lamouche, Guy; Dufour, Marc; Hewko, Mark; Gauthier, Bruno; Vergnole, Sébastien; Bisaillon, Charles-Étienne; Monchalin, Jean-Pierre; Sowa, Michael (2010 年 8 月 9 日)、「Intravascular Optical Coherence Tomography on a Beating Heart Model」、Journal of Biomedical Optics、15 (4): 046023–046023–7、Bibcode :2010JBO....15d6023L、doi : 10.1117/1.3475960、PMID 20799825、S2CID 206429235、2010年12 月 15 日取得

外部リンク

企業ウェブサイト
ファイバーベースのプロファイロメータとその応用、プレゼンテーション
写真業界の産業: プロフィール産業

[5] MicroCam-3Dを参照

[6] OCTor-8を参照

[1] Dufour, Marc L.; Gauthier, Bruno (2003). 「低コヒーレンス干渉法に基づく高精度表面形状測定」。Lessard, Roger A; Lampropoulos, George A (編)。Applications of Photonic Technology 6。第 5260 巻。p. 173。Bibcode :2003SPIE.5260..173D。doi : 10.1117/12.543395。S2CID 135946276 。

[2] Dufour, ML; Lamouche, G.; Vergnole, S.; Gauthier, B.; Padioleau, C.; Hewko, M.; Levesque, S.; Bartulovic, V. (2006 年 6 月)。「低コヒーレンス干渉法に基づく高精度表面形状測定」。Proceedings of SPIE。Vol . 6343。ケベック州ケベック市、カナダ: SPIE。pp. 63431Z.1–7。2010年12 月 14 日閲覧。

[3] Dufour, Marc; Lamouche, G.; Gauthier, B.; Padioleau, C.; Monchalin, JP (2006). 「小径プローブを使用した届きにくい工業用部品の検査」(PDF) . SPIE Newsroom . doi :10.1117/2.1200610.0467. S2CID 120476700 . 2010 年12 月 15 日閲覧。

[biofinance-4] Bartulovic, Vuk. 「Novacam Technologies Inc」。バイオファイナンス - ライフサイエンス企業への資金提供。 2011年1月6日閲覧。

[7] Losert, R. (2009年3月31日). 「NDT検査のためのソリューション」. NDT Magazine . 2011年1月12日時点のオリジナルよりアーカイブ。2020年11月13日閲覧。

[8] Sprovieri, John (2008 年 7 月 28 日)。「アセンブリの品質: 光ファイバープロファイロメータによる表面品質の測定」。Assembly Magazine。2010年12 月 14 日閲覧。

[9] Guss, G.; Bass, I.; Hackel, R.; Mailhiot, C.; Demos, SG (2007 年 11 月 6 日)。「光干渉断層撮影による溶融シリカの表面損傷部位の高解像度 3D イメージング」(PDF)。ローレンス・リバモア国立研究所UCRL-PROC-236270。2017年 2 月 11 日時点のオリジナル(PDF)からアーカイブ。2010 年12 月 14 日閲覧。

[10] Losert, R. (2010 年 11 月)、「遠く離れていても、とても近い: 光学式プロファイロメーターシステムで手の届きにくい表面を検査」、INSPECT Magazine、11 : 42–43、2010年12 月 15 日閲覧

[11] Wilson, Andrew (2007 年 4 月 1 日)。「ファイバーベースのプロファイロメータが届きにくい表面を検査」。VisionSystems Design Magazine。2010年12 月 14 日閲覧。

[12] Lamouche, Guy; Dufour, Marc; Hewko, Mark; Gauthier, Bruno; Vergnole, Sébastien; Bisaillon, Charles-Étienne; Monchalin, Jean-Pierre; Sowa, Michael (2010 年 8 月 9 日)、「Intravascular Optical Coherence Tomography on a Beating Heart Model」、Journal of Biomedical Optics、15 (4): 046023–046023–7、Bibcode :2010JBO....15d6023L、doi : 10.1117/1.3475960、PMID 20799825、S2CID 206429235、2010年12 月 15 日取得