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核電子工学において、マイクロストリップ検出器は、通常はリソグラフィーによって 2 次元構造の 1 つの軸に沿って配置された多数の同一の半導体ストリップで構成される粒子検出器です。コンポーネントの幾何学的レイアウトにより、入射する電離放射線粒子の軌跡を正確に再構築できます。
シリコンマイクロストリップ検出器は、さまざまな素粒子物理学の実験でよく使用される設計です。[1] [2]検出メカニズムは、数百マイクロメートルの厚さのシリコン層で電子正孔対を生成することです。自由電子は、シリコンの表面で互いに噛み合い、SiO 2絶縁体で分離された陽極と陰極のパターンによって生成される電界によってドリフトします。
参照
参考文献
- ^ Resmi, PK; et al. (BELLEコラボレーション) (2018). 「Belle IIシリコン頂点検出器の構築と品質保証」. arXiv : 1901.09549 .
{{cite journal}}:ジャーナルを引用するには|journal=(ヘルプ)が必要です - ^ Liang, Z.; et al. (ATLAS collaboration) (2018). 「フェーズ II ATLAS 検出器用の新しいシリコンマイクロストリップトラッカーの構築」。核物理学研究における計測機器と方法セクション A: 加速器、分光計、検出器および関連機器。924 : 265–269。arXiv : 1804.10771。doi :10.1016/j.nima.2018.09.014。S2CID 118885150 。