ロジック内蔵セルフテスト

ロジック組み込み自己テスト(またはLBIST ) は、組み込み自己テスト(BIST)の一種であり、外部の自動テスト装置に依存するのではなく、ハードウェアやソフトウェアが集積回路に組み込まれ、集積回路自体の動作をテストできるようにします。

LBIST の主な利点は、外部ピンに直接接続されていないため、外部の自動テスト機器ではアクセスできない内部回路をテストできることです。もう 1 つの利点は、完成品の組み込みセルフ テストまたは電源投入セルフ テストを実行しながら、集積回路の LBIST をトリガーできることです。

追加の回路 (または読み取り専用メモリ) を必要とする LBIST は、集積回路のコストを増大させます。プログラマブル ロジックまたは書き換え可能なメモリへの一時的な変更のみを必要とするLBIST では、この追加コストは回避されますが、最初に BIST をプログラムし、次にそれを削除して最終構成をプログラムするのに時間がかかります。LBIST のもう 1 つの欠点は、オンチップ テスト ハードウェア自体が故障する可能性があることです。外部の自動テスト機器は、既知の正常なテスト回路を使用して集積回路をテストします。

その他の関連技術としては、MBIST (内部メモリのテストに最適化された BIST ) と ABIST (アレイのテストに最適化された BISTまたはアナログ回路のテストに最適化された BIST ) があります。この 2 つの用途は、テスト対象の集積回路に内部アレイ機能またはアナログ機能があるかどうかによって区別できます。

• 内蔵セルフテスト
• 内蔵テスト機器
• テストのための設計
• 電源投入時のセルフテスト

• 組み込みセルフテスト (BIST)
• 「組み込みプロセッサベースの組み込み自己テストおよび診断」。CiteSeerX 10.1.1.94.3451 。 {{cite web}}:欠落または空|url=(ヘルプ)
• ハードウェア診断セルフテスト
• アナログ ウィニーのための BIST