X 線結晶構造解析において、フラックパラメータは、単結晶構造解析によって決定された構造モデルの 絶対配置を推定するために使用される係数です。
このアプローチでは、ゾンケ空間群における結晶の絶対構造を決定します。絶対構造を決定するために使用されるプロセスは、異常分散効果を使用します。原子散乱因子に虚数部がない場合、フリーデル対はまったく同じ振幅を持ちます(つまり、結晶面 (hkl) からの散乱強度は に等しくなります)。ただし、異常分散効果により原子散乱因子には虚数部があり、この効果によってフリーデルの法則は破られます。
X 線結晶構造解析によって絶対構造を決定する方法はいくつかあります。たとえば、Bijvoet 対の強度を比較するか、2 つの可能性のある構造のR 因子を比較すると、正しい絶対構造が推測できます。最も強力でシンプルな方法の 1 つは、Flack パラメーターを使用することです。このパラメーター 1 つで絶対構造が明確に示されるためです。
Flack パラメータは、構造改良中に以下の式を使用して計算されます。
ここで、xは Flack パラメータ、I は スケールされた観測構造因子の 2 乗、F は計算された構造因子です。
すべてのデータについてx を決定すると、通常、 x は0 から 1 の間であることがわかります。値が 0 に近く、標準不確かさが小さい場合は、構造改良によって得られた絶対構造が正しい可能性が高く、値が 1 に近い場合は、反転構造が正しい可能性が高くなります。値が 0.5 に近い場合は、結晶がラセミ体または双晶体である可能性があります。この手法は、結晶に軽い原子と重い原子の両方が含まれている場合に最も効果的です。軽い原子は通常、わずかな異常分散効果しか示しません。この場合、Flack パラメーターは物理的に非現実的な値 (0 未満または 1 より大きい) に改良される可能性があり、意味がありません。
HD Flack [1]によって導入されたこのパラメータは、 非中心対称空間群を持つ構造に対してチェックされる標準的な値セットの1つになりました。
参考文献
- ^ HD Flack (1983). 「エナンチオモルフ極性推定について」. Acta Crystallogr . A39 (6): 876– 881. doi :10.1107/S0108767383001762.
