X線蛍光ホログラフィー

X線蛍光ホログラフィー（XFH）は、原子蛍光に基づいた原子分解能のホログラフィー法です。^[1]これは、日本の SPring-8施設などのシンクロトロン光源から得られるコヒーレントな高出力X線から大きな恩恵を受ける比較的新しい技術です。

イメージング

蛍光X線はサンプル内の原子によって散乱され、散乱していないX線を基準とする物体波を提供します。サンプルの周囲を検出器でスキャンするとホログラフィックパターンが記録され、研究者はサンプル内の特定の元素の周囲の局所的な3D構造を調べることができます。^[2]^[3]

これは、高温超伝導体に対する放射線照射の影響を調査するのに役立ちます。^[^要出典^]

この方法に対する批判の1つは、双子像の問題を抱えているということである。D.ガボール・バートンは、ホログラムの再構成された位相画像が双子像の影響を抑制すると提案した。^[4]

^ 林宏一;八方直久。細川真也；胡、温。松下知宏 (2012) 「蛍光X線ホログラフィー」。物理学ジャーナル: 凝縮物質。24 (9): 093201。ビブコード:2012JPCM...24i3201H。土井：10.1088/0953-8984/24/9/093201。ISSN 0953-8984。PMID 22318258。
^ 林健 (2003). 「X線蛍光ホログラフィーによるSiGeシステムの3D原子イメージング」. Journal of Materials Science: Materials in Electronics . 14 (5/7): 459–462. doi :10.1023/A:1023993911437. ISSN 0957-4522. S2CID 134765278.
^ Chukhovskii, FN; Poliakov, AM (2003). 「X線蛍光ホログラフィー：結晶構造決定のための新しい手法」Acta Crystallographica Section A . 59 (2): 109–116. doi :10.1107/S0108767302022274. ISSN 0108-7673. PMID 12604848.
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