石器の修復

この方法は、剥片の厚さと修正痕の高さの測定値を使用して、0 から 1 の間の比率の削減指数を生成します。Kuhn (1990) による GIUR に関する最初の出版物では、^{[ 5 ]}修正された縁に沿って 3 つの点 (t) (通常は近位、中間、遠位の点) で傷を測定し、全体の厚さ (T) で割ってこの比率を生成します。式は GIUR = ((t1+t2+t3)/3)/T です。しかし、研究者たちは最近、各点 t で T を測定することによって Kuhn の方法を改訂しました。更新された計算は GIUR = (t1/T1+ t2/T2 + t3/T3)/3 です。^{[ 4 ]}新しい方法はより多くのデータ ポイントを作成し、アーティファクトの厚さの大きな変動によって引き起こされるバイアスを解消する可能性があります。^{[ 6 ]}通常、GIUR の値が高いほど、より侵襲的または広範囲な修正を示します。キャリパーを使用してレタッチ痕の高さを測定するか、ゴニオメーターを使用してレタッチの角度を測定し、t=D sin(a) の式で高さを計算することができます。ここで「D」は痕跡の長さ、「a」はレタッチの角度です。^{[ 6 ]} GIUR の限界は、片面レタッチされた剥片にのみ使用できることと、値が増加するにつれて質量損失を正確に表すことが難しくなることです。これは、レタッチが背側の棘に達するか、または背側の棘を超えると、t/T 比が低下するためです。^{[ 7 ]}

この指標は、剥片の背側と腹側をそれぞれ8つのセクションに分割し、修復の程度をスコア化します。これは、8つのセクションそれぞれの個々のスコア（各セクションは0、0.5、または1のスコア）を合計し、その合計をセクションの数で割ることに基づいています。この指標は、片面修復された剥片と両面修復された剥片の両方に使用できます。^{[ 8 ]}

この指標は、レーザースキャナーの使用とプラットフォーム面積および外側プラットフォーム角度の測定によって、初期の剥片質量を推定します。この方法を使用するには、プラットフォームが完全に無傷である必要があります。^{[ 3 ]}

• 腹側面積とプラットフォーム面積の比率^{[ 3 ]}
• 柄付き両面加工石器の修復索引^{[ 3 ]}
• 推定削減率（ERP）^{[ 3 ]}
• 修正された縁と全体の周囲長の比率

これは、修復痕の形態を特定することから成ります。1枚の剥片に複数の種類の修復痕の形態が存在する場合があります。修復痕の形態には3つの種類があります。

1. 鱗状の修復痕 これらは短く、遠位端で幅広くなり、剥片の縁に沿って鋭角になります。

2. 階段状の修復痕 これらは短く、遠位端に階段状の終端があり、剥片の縁に沿って角度が大きくなっています。

3. 平行な修復痕 これらは互いにほぼ平行で、剥片の縁に沿って走っています。

これは基本的に、レタッチが除去された方向を示しています。レタッチには一般的に5つの方向があります。

1. 表面修正 これは、腹面から打刻された修正で、背側の縁に傷跡が現れます。これは、最も一般的な修正方向です。

2. 逆方向の修正 これは背面から打つ修正で、腹側の縁に傷跡が現れます。

3. 交互のレタッチ これは、片方の剥片の縁に表側のレタッチが見られ、反対側の剥片の縁に裏側のレタッチが見られる場合に存在します。

4. 交互のレタッチ これは、表裏両方のレタッチが同じ剥片の縁に存在するが、その縁の異なる部分に存在する場合です。

5. 両面加工 これは、同じ剥片の縁の同じ領域に表側と裏側の加工が施されている場合です。

これは、剥片上のどの部分に修復が施されているかを正確に記述したものです。重要なのは、非常に具体的に記述することです。各部分の修復範囲についても記述する必要があります。つまり、修復が全体に及んでいるのか、部分的なのかを明記する必要があります。これらの記述には、適切な剥片専門用語を使用してください。