ピーター・ダンカム

ピーター・ダンカム（ FRS FInstP、1931年1月26日生まれ）は、X線顕微鏡と微量分析を専門とするイギリスの物理学者です。^{[2]彼は、世界初の}電子マイクロプローブの開発に貢献したことで最もよく知られています。^{[2] [3]}

ダンカムはケンブリッジ大学クレア・カレッジで教育を受け、1957年にヴァーノン・エリス・コスレットの指導のもと博士号を取得した。^{[1] [4]}

ダンカムは1957年から1959年までケンブリッジ大学の研究員として勤務した。 ^[1]彼は走査型電子プローブX線マイクロアナライザの開発で重要な研究を行った。この装置は現在、ほとんどの材料研究室で表面研究に一般的に使用されている。 ^{[2] [5]彼の初期の研究は、選択された化学元素の分布をマイクロスケールで画像化する初の商用機器の開発につながり、}故障解析や新材料の開発に不可欠な情報を提供した。^[2]

1959年にチューブ・インベストメンツの中央研究所に加わった後、彼はX線マイクロアナリシスと透過型電子顕微鏡を組み合わせた2台目の装置、EMMAを製作した。これにより薄膜や微粒子サンプルのより精密な分析が可能になり、再び商業生産へとつながった。その後、彼はより幅広い管理責任を引き受け、研究所長を8年間務めた後、1987年に退職した。^[2]

1988年以来、彼はX線スペクトルの解釈と超音波検査におけるフェーズドアレイの使用に関するコンサルタントとして活動している。また、王立協会のポール機器基金の会長も務めた。彼は米国と欧州のマイクロビーム分析協会の名誉会員である。 ^[2]

1966年、ダンカムは「局所元素分析のための走査型電子プローブシステムの設計と構築」により、物理学研究所のチャールズ・ヴァーノン・ボーイズ賞（現在はモーズリー賞として知られている）を受賞した。 ^[6]彼は1977年に王立協会（FRS）のフェローに選出された。^{[2] [7]} 1996年、彼は国際金属組織学会のヘンリー・クリフトン・ソルビー賞を受賞した。^{[1] [8]}

2007年以来、微量分析学会によって毎年授与されている微量分析における優秀賞であるピーター・ダンカム賞は、彼に敬意を表して名付けられました。^[9]

• ピーター・ダンカム、ケンブリッジ大学、著名なキャベンディッシュ物理学者