イオン付着質量分析法

イオン付着質量分析
頭字語	アイムス
関連商品	化学イオン化

イオン付着質量分析法( IAMS )は、反応衝突で陽イオンが分析対象分子に付着する化学イオン化に似た「ソフト」なイオン化形式を使用する質量分析法の一種です。

{\ce {{M}+ {X+}+ A -> {MX+}+ A}}

ここでMは分析対象分子、X ⁺は陽イオン、Aは反応しない衝突相手である。^[1]

原理

この技術は、気体や気化可能なあらゆる物質に適用できます。従来の質量フィルターで分析するガスにリチウム（またはアルカリ）イオンを付着させることにより、非断片化非従来型イオン化モードを使用します。この機器は、有機化合物や芳香族化合物などの中程度の大きさの分子の分析に特化しています。^[2]

アプリケーション

現在、この方法は、 2006年から施行されている欧州 RoHS （特定有害物質使用制限）規制に準拠したプラスチック中の臭素系難燃剤（BFR）の濃度を高スループットで検証するために産業的に使用されています。禁止されている分子にはPBBとPBDEが含まれ、その濃度は0.1% w/wを超えてはなりません。^[3]^[4]^[5]

IAMSはディーゼル排気粒子の分析にも使用され^[6] 、セラミック加工^[7]、半導体製造時の重要なシリコンエッチングにも使用されています。^[要出典]

参考文献

^ P. Christopher Selvin1; Toshihiro Fujii (2001). 「リチウムイオンアタッチメント質量分析法：計測機器と特徴」Review of Scientific Instruments . 72 (5): 2248. Bibcode :2001RScI...72.2248S. doi :10.1063/1.1362439.{{cite journal}}: CS1 maint: 数値名: 著者リスト (リンク)
^ 「芳香族イオン付着質量分析：有機硫黄分析のためのイオン分子反応」。有機質量分析。
^ 「 JVCサプライヤー向け環境品質保証ガイド」(PDF)。JVC 。2006 年 7 月。^{[永久リンク切れ‍ ]}
^ Pittcon 2006; ポスター発表者：Y. Shiokawa; イオン付着質量分析法による電気機器に使用される樹脂中の臭素系難燃剤の迅速分析。
^ 「臭素系難燃剤の混入実態とその対策」産業と環境.
^ Masaki H, Chen L, Korenaga T (2006). 「イオン付着質量分析法を用いたフラグメンテーションフリー質量分析法によるディーゼル排気粒子の直接分析」.環境科学. 13 (6): 347–52. PMID 17273150.
^ Tsugoshi T, Nagaoka T, Nakamura M, Shiokawa Y, Watari K (2006). 「多孔質セラミック処理の現場モニタリングのための発生ガス分析へのイオン付着質量分析の応用」Anal. Chem . 78 (7): 2366–9. doi :10.1021/ac0518248. PMID 16579621.

文献

塩川裕也;中村正人;丸山博司;平野裕也;種田裕也;井上正人;藤井哲也 (2004) 「イオン付着質量分析法の開発とその応用」文石科学。 53 (6): 475–489。土井：10.2116/bunsekikaraku.53.475。
M. Nakamura、K. Hino、T. Sasaki、Y. Shiokawa、T. Fujii (2001)。「半導体プロセス排気中のパーフルオロ化合物のその場分析：Li+イオン付着質量分析法の使用」。Journal of Vacuum Science and Technology A。19 (4): 1105。Bibcode : 2001JVSTA..19.1105N。doi :10.1116/1.1376704。
Fujii T.; Selvin PC; Sablier M.; Iwase K. (2001). 「空気中の微量成分のオンライン分析のためのリチウムイオン付着質量分析法：直接導入」。Journal of Vacuum Science and Technology A。19 (1): 39–45。Bibcode :2001IJMSp.209...39F。doi : 10.1016/S1387-3806(01)00469-9。
T. Ishiguro、A. Matsunami、K. Matsumoto、K. Kitagawa、N. Arai、AK Gupta (2001)。「アルカリ元素イオン付着による高予熱空気燃焼中のイオン性および中性種の質量分析検出」。ガスタービンおよび電力工学ジャーナル。19 ( 4): 1105。doi :10.1115/1.1473158。

外部リンク

US 7164121、Hirano, Yoshiki & Shiokawa, Yoshiro、「イオン付着質量分析法」、2007-01-16 公開、Anelva Corp. に譲渡。
US 7084397、平野芳樹、塩川芳郎、丸山晴美他、「イオン付着質量分析装置」、2006 年 8 月 1 日公開、Anelva Corp. に譲渡。

[1] P. Christopher Selvin1; Toshihiro Fujii (2001). 「リチウムイオンアタッチメント質量分析法：計測機器と特徴」Review of Scientific Instruments . 72 (5): 2248. Bibcode :2001RScI...72.2248S. doi :10.1063/1.1362439.{{cite journal}}: CS1 maint: 数値名: 著者リスト (リンク)

[2] 「芳香族イオン付着質量分析：有機硫黄分析のためのイオン分子反応」。有機質量分析。

[3] ^ 「 JVCサプライヤー向け環境品質保証ガイド」(PDF)。JVC 。2006 年 7 月。^{[永久リンク切れ‍ ]}

[4] Pittcon 2006; ポスター発表者：Y. Shiokawa; イオン付着質量分析法による電気機器に使用される樹脂中の臭素系難燃剤の迅速分析。

[5] 「臭素系難燃剤の混入実態とその対策」産業と環境.

[pmid17273150-6] Masaki H, Chen L, Korenaga T (2006). 「イオン付着質量分析法を用いたフラグメンテーションフリー質量分析法によるディーゼル排気粒子の直接分析」.環境科学. 13 (6): 347–52. PMID 17273150.

[pmid16579621-7] Tsugoshi T, Nagaoka T, Nakamura M, Shiokawa Y, Watari K (2006). 「多孔質セラミック処理の現場モニタリングのための発生ガス分析へのイオン付着質量分析の応用」Anal. Chem . 78 (7): 2366–9. doi :10.1021/ac0518248. PMID 16579621.