高加速ストレス試験

高加速ストレス試験（HAST）法は、IBMのJeffrey E. Gunn、Sushil K. Malik、およびPurabi M. Mazumdarによって最初に提案されました。^{[ 1 ]}

高湿度に対する加速係数は経験的に次のように導出される。

${\displaystyle AF_{\text{H}}=e^{{\text{const}}\cdot (RH_{\text{s}}^{n}-RH_{\text{o}}^{n})},}$

${\displaystyle {\text{const}}}$通常は0.1から0.15までの値をとる。

ここで、RH _sはストレス時の湿度、RH _oは動作環境の湿度、nは経験的に導出された定数 (通常 1 < n < 5) です。

高温に対する加速係数は次のように導出される。

${\displaystyle AF_{T}=e^{(E_{\text{a}}/k)(1/T_{\text{o}}-1/T_{\text{s}})},}$

ここで、E _aは温度誘起故障の活性化エネルギー（ 電子機器の場合はほとんどの場合 0.7 eV）、kはボルツマン定数、T _oはケルビン単位の動作温度、T _sは応力温度です。

したがって、バイアスのないHASTテストの総加速係数は

${\displaystyle AF_{\text{HAST}}=AF_{\text{H}}\cdot AF_{T}=e^{{\text{const}}\cdot (RH_{\text{s}}^{n}-RH_{\text{o}}^{n})}e^{(E_{\text{a}}/k)(1/T_{\text{o}}-1/T_{\text{s}})}.}$

• 高加速寿命試験（HALT ）– 製品の信頼性を向上させるためのストレス試験手法 
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